基于超浸润体系的金属自生长互联的方法技术

技术编号:39972626 阅读:28 留言:0更新日期:2024-01-09 00:54
本发明专利技术涉及基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,包括对镀液进行浸润性调配;在Micro‑LED和CMOS电路的目标衬底表面进行图案化后,进行等离子体表面处理,得到Micro‑LED和CMOS电路的亲水性图案化表面;将制备的衬底对位贴合,密封于微流控通道内注入浸润性调配的镀液,实现Micro‑LED和CMOS电路的金属凸点自生长及互联;有效解决高密度Micro‑LED金属凸点制备过程中存在瘤状物、均匀性差、尺寸较大的问题,克服了传统高密度Micro‑LED与CMOS电路键合工艺对大压力键合的苛刻要求。该工艺成本低廉,生产效率较高,安全性较高,可应用于高密度封装器件中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,属于高密度电子封装互连工艺。


技术介绍

1、micro-led是一种自发光显示技术,通常像素尺寸大小位于1-100μm,因其具有高分辨率,高可靠性,响应速度快,寿命更长,功耗较低等诸多优势。

2、micro-led的制作工程中会涉及到一系列的工艺技术,包括led外延制备、芯片制造工艺、巨量转移技术、衬底剥离技术、互连技术、背板驱动技术等,其中芯片互连技术是影响微电子产品质量、效率和成本的核心技术。当前micro-led与驱动电路基板之间电气连接最主要是通过倒装键合来实现,而凸点制备和键合是倒装键合工艺中最核心的两个步骤,与芯片的可靠性,效率,质量等息息相关。

3、目前,工业上常用的金属凸点的制备工艺主要有:物理气相沉积和化学液相沉积两种;化学液相沉积的瓶颈在于沉积过程中,镀液与沉积表面的接触不均,从而导致金属凸点生长不均、瘤状生长,破环凸点阵列的共面性,而无法进行后续的键合工艺;因此,找出一种低成本、高均匀性的金属凸点制备方法以及摆脱大压力键合的限制、高均匀性的键合技术迫在眉睫。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于:所述S1中,向原镀液中添加表面活性剂进行浸润性调配,调配后的镀液在亲水性图案化表面的接触角小于10°。

3.如权利要求2所述的基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于:按质量百分比,所述表面活性剂的浓度范围是0.001%-0.03%。

4.如权利要求3所述的基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于:所述表面活性剂为非离子型表面活性、阴离子表面活性剂和阳离子表面活性剂中的一种,例如:十二烷基硫酸钠、...

【技术特征摘要】

1.基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于:所述s1中,向原镀液中添加表面活性剂进行浸润性调配,调配后的镀液在亲水性图案化表面的接触角小于10°。

3.如权利要求2所述的基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于:按质量百分比,所述表面活性剂的浓度范围是0.001%-0.03%。

4.如权利要求3所述的基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于:所述表面活性剂为非离子型表面活性、阴离子表面活性剂和阳离子表面活性剂中的一种,例如:十二烷基硫酸钠、聚乙二醇、十六烷基苯磺酸钠、辛醇聚氧乙烯醚、十二烷基苯磺酸钠等。

5.如权利要求2所述的基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,其特征在于:所述镀液为镍镀液、金镀液、铜镀液、铟镀液中的一种或一种以上混合。

6.如权利要求1所述的基于超浸...

【专利技术属性】
技术研发人员:林畅卢玉王帅帅郎太福孙捷黄忠航杨天溪张恺馨严群张永爱郭太良
申请(专利权)人:闽都创新实验室
类型:发明
国别省市:

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