减少对进入具有脉冲辅助AC的离子导向器的离子的AC影响制造技术

技术编号:39960304 阅读:22 留言:0更新日期:2024-01-08 23:59
在离子导向器的每个时间周期中的积累时间段期间、并在向至少一组轴向杆施加斜坡AC电压以根据m/z值喷射离子之前,执行多个步骤。离子通过入口孔从离子导向器的外部被接收并进入第一池。低DC电压被施加到势垒电极以将离子从第一池接收到第二池中。以及,高DC电压被施加到出口电极以防止离子离开离子导向器。在AC时间段之前的冷却时间段期间,高DC电压被施加到势垒电极,以捕获和冷却第二池中的离子并继续将离子接收到第一池中而不受斜坡AC电压影响。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本文的教导涉及控制质谱仪在靶向采集实验中将离子包(ion packet)动态地集中在质量分析器的区域中,而不会由于强交流(ac)场导致不期望的碎裂或损失。更具体地,提供了系统和方法来减少施加在顺序地喷射和集中离子包的离子导向器中的斜坡ac电压的持续时间,以便减少或消除ac电压对接近或进入离子导向器的离子的不期望的影响。本文的系统和方法可以结合处理器、控制器或计算机系统(诸如图1的计算机系统)来执行。


技术介绍

1、串联质谱法背景

2、一般而言,串联质谱法(或ms/ms)是一种众所周知的用于分析化合物的技术。串联质谱法涉及对来自样品的一种或多种化合物的电离、选择一种或多种化合物的一种或多种前体离子、将一种或多种前体离子碎裂成片段或产物离子、以及对产物离子的质量分析。

3、串联质谱法可以提供定性信息和定量信息二者。产物离子谱可用于识别关注分子。一种或多种产物离子的强度可用于定量样品中存在的化合物的量。

4、lc-ms和lc-ms/ms背景

5、质谱法(ms)(或质谱法/质谱法(ms/ms))和液相色谱法(lc)的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种离子导向器,用于使用斜坡交流AC电压根据质荷比m/z值顺序地喷射离子同时减少或消除所述AC电压对进入所述离子导向器的离子的影响,所述离子导向器包括:

2.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,还包括沿着所述离子路径位于所述入口孔之前的离子阱和位于所述入口孔处的入口电极,

3.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,所述离子阱包括基于电子的解离ExD设备。

4.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,所述离子阱包括电子捕获解离ECD设备。

5.根据前述离子导向器权利要求的任意组合...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种离子导向器,用于使用斜坡交流ac电压根据质荷比m/z值顺序地喷射离子同时减少或消除所述ac电压对进入所述离子导向器的离子的影响,所述离子导向器包括:

2.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,还包括沿着所述离子路径位于所述入口孔之前的离子阱和位于所述入口孔处的入口电极,

3.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,所述离子阱包括基于电子的解离exd设备。

4.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,所述离子阱包括电子捕获解离ecd设备。

5.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,所述离子阱包括线性离子阱。

6.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,所述离子阱包括静电线性离子阱elit。

7.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,所述离子阱包括傅立叶变换离子回旋共振ft-icr设备。

8.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,所述离子阱包括轨道阱。

9.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,电压被施加到所述至少一组轴向杆、所述出口电极和所述势垒电极,使得所述ac时间段与所述离子导向器的所述每个时间周期的比率在0至0.1的范围内,以便减少来自所述斜坡ac电压对进入所述第一池的离子的任何影响。

10.根据前述离子导向器权利要求的任意组合所述的离子导向器,其中,电压被施加到所述至少一组轴向杆、所述出口电极和所述势垒电极,使得所述ac时间段与所述离子导向器的所述每...

【专利技术属性】
技术研发人员:I·谢尔努舍维奇马场崇P·鲁米恩
申请(专利权)人:DH科技发展私人贸易有限公司
类型:发明
国别省市:

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