一种移动硬盘测试装置及其测试方法制造方法及图纸

技术编号:39959908 阅读:16 留言:0更新日期:2024-01-08 23:57
本发明专利技术涉及防静电测试技术领域,公开了一种移动硬盘测试装置及其测试方法,其设备包括输送带和测试柜,输送带设于测试柜的两侧,输送带穿插在测试柜内,通过输送带输送待测硬盘进入测试柜内,在测试柜内设有连通组件和引脚测试组件,连通组件的末端连接至待测硬盘的引脚,连通组件的端部连接有测试模块,引脚测试组件的测试端抵靠至引脚上,引脚测试组件的末端设有放电针,放电针对引脚进行模拟放电测试。本发明专利技术通过凸轮可快速对引脚进行单独放电测试,在每个引脚独立测试间隙,通过接触端对待测硬盘进行释放静电,有效避免静电积累,可减少改变放电电压时,设备所模拟的静电电荷量的准确性,减少电荷积累造成的测试结果误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及防静电测试领域,更具体地说,它涉及一种移动硬盘测试装置及其测试方法


技术介绍

1、静电可以对移动硬盘内部的电子元件造成损坏,导致数据丢失或者无法访问,esata接口是移动硬盘的sata接口的外部版本,相比于其他桥接芯片,它具有更快的传输速度和更强的性能。

2、esata接口相当于直连sata端口,可实现更快的传输速度,此类接口优点使得esata硬盘在高速读取和写入时更顺畅,也能提高整体的数据传输效率。

3、esd(静电放电)试验是一种用于评估产品或设备的抗静电能力的测试方法。在esd试验中,需要对esata接口的每个引脚进行连续循环测试,分别按照±2v、±4v、±6v、±8v和±10v的放电电压对每个引脚进行10次测试,在测试过程中,需不断切换测试引脚,在切换过程中,会因为连续放电会导致静电能量在设备或系统中不断积累,如果未能及时释放或耗散,积累的静电能量可能会达到危险水平,引发电击风险或导致设备损坏,则无法判断出移动硬盘实际防静电效果和其损坏故障原因。


技术实现思路</b>

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种移动硬盘测试装置,其特征在于,包括输送带和测试柜,输送带设于测试柜的两侧,输送带穿插在测试柜内,通过输送带输送待测硬盘(600)进入测试柜内,在测试柜内设有连通组件(700)和引脚测试组件(800),连通组件(700)的末端连接至待测硬盘(600)的引脚(610),连通组件(700)的端部连接有测试模块,引脚测试组件(800)的测试端抵靠至引脚(610)上,引脚测试组件(800)的末端设有放电针(828),放电针(828)对引脚(610)进行模拟放电测试;

2.根据权利要求1所述的一种移动硬盘测试装置,其特征在于,在测试柜内设有测试输送带(500),测试延长片(710...

【技术特征摘要】

1.一种移动硬盘测试装置,其特征在于,包括输送带和测试柜,输送带设于测试柜的两侧,输送带穿插在测试柜内,通过输送带输送待测硬盘(600)进入测试柜内,在测试柜内设有连通组件(700)和引脚测试组件(800),连通组件(700)的末端连接至待测硬盘(600)的引脚(610),连通组件(700)的端部连接有测试模块,引脚测试组件(800)的测试端抵靠至引脚(610)上,引脚测试组件(800)的末端设有放电针(828),放电针(828)对引脚(610)进行模拟放电测试;

2.根据权利要求1所述的一种移动硬盘测试装置,其特征在于,在测试柜内设有测试输送带(500),测试延长片(710)的底端设有升降件,升降件带动测试延长片(710)沿着铅垂向移动,随着测试输送带(500)输入水平设置的待测硬盘(600),测试延长片(710)的末端抵靠连接在引脚(610)上。

3.根据权利要求2所述的一种移动硬盘测试装置,其特征在于,连通组件(700)还包括基座(730)和接触块(740),测试延长片(710)呈l型结构,测试延长片(710)的底端和接地棒(720)的底端均设于基座(730)上,接触块(740)设于测试延长片(710)的末端上方。

4.根据权利要求3所述的一种移动硬盘测试装置,其特征在于,接触块(740)的顶端和测试延长片(710)的顶端均开有通孔,放电针(828)的底端通过通孔抵靠至引脚(610)上。

5.根据权利要求4所述的一种移动硬盘测试装置,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:钟锦红齐翠娥唐威
申请(专利权)人:深圳市领德创科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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