环境参数调节方法、装置和存储介质制造方法及图纸

技术编号:39956622 阅读:26 留言:0更新日期:2024-01-08 23:43
本发明专利技术公开了一种环境参数调节方法、装置和存储介质,包括:根据第一区域的第一子区域中至少一个测量设备测量得到的第一环境参数,确定所述第一子区域的第二环境参数,其中,所述第一区域包含N个所述第一子区域,其中,N为大于或等于1的整数;根据所述第二环境参数,调整环境调节设备的运行参数,其中,所述运行参数用于控制所述环境调节设备的工作状态以调节所述第二环境参数。如此,通过根据第一区域内的第二环境参数自动确定运行参数,从而调节第二环境参数,可以避免使用人工调节的方式,使第一区域内环境参数的调节更加准确高效。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及物联网,尤其涉及一种环境参数调节方法、装置和存储介质


技术介绍

1、在现有的仓库温度与湿度调节方法中,通常采用人工的方式控制仓库中温湿度调节装置(例如空调、除湿机等)的开关状态与参数设置;然而,通过人工的方式进行控制可能导致无法快速及时地相应仓库环境的温度与湿度变化情况,且由于仓库面积、仓库内房间位置、货物摆放等因素的影响,通过人工的方式也无法使仓库内各处的温度与湿度处于较为均匀的状态,无法高效准确地对仓库内的温度与湿度进行调节。


技术实现思路

1、为解决现有存在的技术问题,本专利技术实施例提供一种环境参数调节方法、装置和存储介质。

2、本专利技术的技术方案是这样实现的:

3、本专利技术实施例提供了一种环境参数调节方法,所述方法包括:

4、根据第一区域的第一子区域中至少一个测量设备测量得到的第一环境参数,确定所述第一子区域的第二环境参数,其中,所述第一区域包含n个所述第一子区域,其中,n为大于或等于1的整数;

5、根据所述第二环境参数,调整环境调本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种环境参数调节方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据第一区域的第一子区域中至少一个测量设备测量得到的第一环境参数,确定所述第一子区域的第二环境参数,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二环境参数,调整环境调节设备的运行参数,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一区域的目标环境参数和所述第二环境参数,采用预设算法确定所述环境调节设备的所述运行参数,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一区域的目标环境参数和所述...

【技术特征摘要】

1.一种环境参数调节方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据第一区域的第一子区域中至少一个测量设备测量得到的第一环境参数,确定所述第一子区域的第二环境参数,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二环境参数,调整环境调节设备的运行参数,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一区域的目标环境参数和所述第二环境参数,采用预设算法确定所述环境调节设备的所述运行参数,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一区域的目标环境参数和所述第二环境参数之间的差值,采用比例积分微分控制算法,确定所述运行参数,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈俊杰赵洪鹏严泽宇
申请(专利权)人:武汉慧联无限科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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