一种宽温区液体结构的测定方法技术

技术编号:39946610 阅读:20 留言:0更新日期:2024-01-08 22:58
本发明专利技术公开的一种宽温区液体结构测定方法。本发明专利技术测定方法包括如下步骤:设置宽温可控液体装置,将待测液体引入其内;宽温可控液体装置包括基底,基底上留有液体池及两个进样通道,进样通道设置于液体池的底部;液体池的顶部通过氮化硅薄膜密封;将上述装置偶联到待测液体的加热和冷却样品托上,并引入ToF‑SIMS内超高真空分析室中;设定待测液体目标温度及升温或降温速率,对超高真空分析室中待测液体进行原位升温或降温以达到设定温度并稳定一段时间;测定待测液体的飞行时间二次离子质谱,分析设定温度下待测液体的组成及化学结构。本发明专利技术能实现宽温区(‑150℃至+100℃)内任一工况温度精确控制(±1℃)下液体化学的原位ToF‑SIMS检测,灵敏度高、准确度高、普适性强。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于分析,涉及一种宽温区液体结构测定方法。


技术介绍

1、实际工况温度下液体化学的原位表征对于能源化学、环境化学等过程的理解非常重要,可指导功能溶液的理性设计。例如,目前锂离子电池在极端低温(-60℃至-20℃)下的电池容量和界面稳定性严重下降,限制了它们在高海拔、高纬度和航空航天领域的应用。由于缺少对极端低温锂离子电池电解液的直接分子表征手段,对锂离子溶剂化结构与电化学性能关系的理解非常匮乏,始终困扰着极端低温锂离子电池电解质的理性设计与研发。

2、飞行时间二次离子质谱仪(tof-sims)是一种具有高灵敏度、高空间分辨率、分子信息丰富等特性的先进的质谱分析技术,能够获取固体样品表界面的化学组成及空间分布信息。然而,tof-sims的高真空分析环境限制了其在液体样品结构分析中的应用。采用氮化硅薄膜封装的聚醚醚酮(peek)液体装置突破了高真空系统的限制,可以有效获取室温下液体内部组分及相互作用结构等信息。如何实现工况温度下液体结构化学的原位tof-sims分析尚未有报道。


技术实现思路

...

【技术保护点】

1.一种宽温区液体结构的测定方法,其特征在于,所述的测定方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的测定方法,其特征在于,所述宽温可控液体装置中,所述氮化硅薄膜通过硅衬底的框架支撑,所述硅衬底的框架中间留有一窗口,所述窗口通过所述氮化硅薄膜与所述液体池内部相对。

3.根据权利要求1或2所述的测定方法,其特征在于,所述基底采用紫铜材料制成;

4.根据权利要求1-3中任一项所述的测定方法,其特征在于,所述宽温可控液体装置的宽温区为-150℃~+100℃。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的测定方法,其特征在于,所述待测液体包括含二氟草酸硼酸锂...

【技术特征摘要】

1.一种宽温区液体结构的测定方法,其特征在于,所述的测定方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的测定方法,其特征在于,所述宽温可控液体装置中,所述氮化硅薄膜通过硅衬底的框架支撑,所述硅衬底的框架中间留有一窗口,所述窗口通过所述氮化硅薄膜与所述液体池内部相对。

3.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:张燕燕汪福意罗群
申请(专利权)人:中国科学院化学研究所
类型:发明
国别省市:

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