应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法及装置制造方法及图纸

技术编号:39929812 阅读:18 留言:0更新日期:2024-01-08 21:43
本发明专利技术提供了应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法及装置,所述方法包括以下步骤:分析层列C相液晶的特征;根据所述层列C相液晶的特征,得到层列C相的关键序参数θ;根据层列A相液晶模型和所述关键序参数θ构建层列C相的液晶模型;对所述层列C相的液晶模型进行有效性验证;采用所述层列C相的液晶模型对液晶缺陷结构进行研究。本发明专利技术更广泛地开展层列型液晶中缺陷结构特征及变化规律的研究,这对深入理解液晶材料的物理性质具有重要的现实意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶,具体涉及应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法及装置


技术介绍

1、液晶材料在生活中占据着不可缺少的重要地位。对于捕捉液晶缺陷结构内部精细化特征的研究,采用数值模拟的方法相对于物理实验具有成本优势。在合理有效的数学模型框架下,通过数值求解开展模拟实验,可深入挖掘缺陷结构的特征,避免了物理实验的难复刻、耗时长、调节复杂等问题。

2、在高温状态下,液晶分子是各向同性的,不具有方向序和位置序,此时分子可以随意移动形如流水,且平移粘度与水相仿,长短轴排列毫无章法,即为液态。随着温度降低,材料会呈现为向列相,这也是最简单的液晶相态。在这种状态下,分子有方向序但无位置序,可以四处流动,平移粘度依旧和水相近但分子的长轴大体上按照特定方向排列。由于热运动,分子自身仍会旋转,分子长轴的时间平均方向是确定的,并且在宏观尺度上对所有分子都是相同的。此时分子长轴的平均方向用液晶指向矢来表征,其中液晶指向矢是一个单位向量。

3、随着温度持续下降,液晶材料会转变为层列a相,此状态下分子不仅具有方向序,还具有了位置序,液晶分子排列呈现层状结本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法,其特征在于,所述层列C相的液晶模型,具体为:

3.根据权利要求2所述的应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法,其特征在于,所述fn(Q)具体为:

4.根据权利要求3所述的应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法,其特征在于,所述对所述层列C相的液晶模型进行有效性验证,包括:

5.应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟装置,其特征在于,包括:

6.根据权利要求5所述的应用于液晶系统中缺陷结构的数...

【技术特征摘要】

1.应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法,其特征在于,所述层列c相的液晶模型,具体为:

3.根据权利要求2所述的应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法,其特征在于,所述fn(q)具体为:

4.根据权利要求3所述的应用于液晶系统中缺陷结构的数值模拟方法,其特征在于,所述对所述层列c相的液晶模型...

【专利技术属性】
技术研发人员:夏静敏
申请(专利权)人:中国人民解放军国防科技大学
类型:发明
国别省市:

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