【技术实现步骤摘要】
一种FA插芯非接触型插回损测试工具
[0001]本申请涉及插回损测试
,尤其是涉及一种
FA
插芯非接触型插回损测试工具
。
技术介绍
[0002]FA
插芯是利用
V
型槽基片,把一束光纤或一条光纤带按照规定间隔安装在基片上,由所构成的阵列制作而成的插芯
。
在光通信测量中,插损和回损是评估光器件及光学链路最重要的两个指标
。
因此,对
FA
插芯的插回损测试也显得十分重要
。
[0003]通常情况下,
FA
类插芯一般有0°
、8
°
、45
°
几种常规型号,0°
FA
插芯和8°
FA
插芯可以通用一种方式进行测量,
45
°
FA
插芯需要单独采用另一种方式测量
。
现有技术中,对
FA
插芯的测量通常都是采取接触型方法测量,将
FA
插芯插入到插回损测试仪的探头中进行测量,可以有效的测量
FA
插芯的插损值和回损值
。
[0004]针对上述中的相关技术,
FA
类插芯为玻璃制品插芯,价格昂贵
、
极易碰伤
。
尤其是在测插回损工序时,需要将插芯插入到探头中,存在有
FA
插芯在插回损测试中容易碰伤报废的问题
。
技 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种
FA
插芯非接触型插回损测试工具,其特征在于:包括测试对接组件(4)和插芯定位夹具(5),所述测试对接组件(4)用于与插回损测试仪的输出端固定连接,所述测试对接组件(4)包括测试部(
41
)和限位部(
42
),所述测试部(
41
)开设有测试端(
43
),所述测试端(
43
)用于
FA
插芯的测试且与插回损测试仪的输出端位置相应,所述限位部(
42
)与所述测试部(
41
)固定连接,所述插芯定位夹具(5)用于夹持
FA
插芯的非
FA
制品处并使得
FA
插芯悬空,所述插芯定位夹具(5)安装在所述测试对接组件(4)的所述限位部(
42
)上并使
FA
插芯的被检测端与测试端(
43
)的位置相对应
。2.
根据权利要求1所述的
FA
插芯非接触型插回损测试工具,其特征在于:所述测试部(
41
)包括第一固定板(
411
)和遮光罩(
412
),所述第一固定板(
411
)用于与插回损测试仪的输出端固定连接,所述测试端(
43
)开设在所述第一固定板(
411
)上,所述遮光罩(
412
)的一端与所述第一固定板(
411
)固定连接,所述限位部(
42
)一部分安装在所述遮光罩(
412
)中,另一部分沿所述遮光罩(
412
)的轴向方向伸出
。3.
根据权利要求2所述的
FA
插芯非接触型插回损测试工具,其特征在于:所述限位部(
42
)包括第一限位板(
421
)和连接半筒体(
422
),所述第一限位板(
421
)的一面固定设置有第一限位凸条(
4211
),所述第一限位凸条(
4211
)位于靠近第一限位板(
421
)的两侧边处,所述第一限位凸条(
4211
)的侧壁与所述插芯定位夹具(5)抵接,所述连接半筒体(
422
)固定在第一限位凸条(
4211
)背离所述第一限位板(
421
)的一侧,所述第一限位板(
421
)与所述连接半筒体(
422
)穿设安装于所述遮光罩(
412
)中,所述连接半筒体(
422
)内设置有供安装和移动
FA
插芯的测试口(
4221
)
。4.
根据权利要求1所述的
FA
插芯非接触型插回损测试工具,其特征在于:所述测试部(
41
)包括第二固定板(
413
)
、
盒体(
414
)和遮光板(
415
),所述第二固定板(
413
)用于与插回损测试仪的输出端固定连接,所述测试端(
43
)开设在所述第二固定板(
413
)上,所述盒体(
414
)开设有与第二固定板(
413
)位置相应的通槽(
4141
),所述盒体(
414
)通过所述通槽(
4141
)套设安装在所述第二固定板(
413
)上,所述遮光板(
415
)的一侧与所述盒体(
414
)转动连接,所述遮光板(
415
)的另一侧与所述盒体(
414
)固定连接
。5.
根据权利要求4所述的
FA
插芯非接触型插回损测试工具,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:何日星,延海清,
申请(专利权)人:蘅东光通讯技术深圳股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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