检查用探针以及使用于检查用探针的检查用插座制造技术

本发明专利技术提供更加小型且通过简单的方法具有或能够具有屏蔽功能的检查用探针以及使用于该检查用探针的检查用插座。一种检查用探针，具备：由导电性材料构成的中空的外壳、以能够沿轴向伸缩的状态设置于外壳内的弹性部件以及以被弹性部件始终施力的状态且以使一部分向外壳的外部突出的状态设置于外壳内的接触部件，外壳包括沿轴向延伸的圆筒状的主体部和以沿主体部的径向突出的状态沿着轴向设置于主体部的周面的一部分的屏蔽部，或者外壳包括沿轴向延伸的圆筒状的主体部和以沿主体部的径向凹陷的状态沿着轴向设置于主体部的周面的一部分的凹陷部，外壳构成为能够在凹陷部设置应该连结的其他检查用探针的屏蔽部的端部及/或屏蔽部件的端部。部及/或屏蔽部件的端部。部及/或屏蔽部件的端部。

【技术实现步骤摘要】
检查用探针以及使用于检查用探针的检查用插座


[0001]本专利技术涉及检查用探针，更详细而言涉及具有或能够具有屏蔽功能的特别适于作为接地用探针的使用的检查用探针以及使用于检查用探针的检查用插座。

技术介绍

[0002]检查用探针例如使用于在封装上配设了多个焊球、焊垫、引线等的IC芯片等阵列型电子器件的电气检查，用作电源用探针以及信号用探针自不必说，也存在用作接地用探针等的情况。
[0003]专利文献1(日本专利第6475479号公报)公开了将检查用探针用作接地用探针时的使用方式的一个例子。此外，在以下的记载中，参照编号遵循专利文献1中的参照编号。
[0004]专利文献1涉及构成应对高频的插座的检查单元30，检查单元30具备：形成了多个贯通孔51的金属块(销块)50；插入、配置于这些金属块的贯通孔51的接地用接触探针40A、电源用接触探针40B以及高频信号用接触探针40C；配设于接地用接触探针40A的周围的接地衬套60；作为绝缘体板的树脂板(销板)70；以及作为绝缘部件的绝缘环75。
[0005]接地用接触探针40A与电源本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查用探针，其特征在于，具备由导电性材料构成的中空的外壳、以能够沿轴向伸缩的状态设置于所述外壳内的弹性部件以及以被所述弹性部件始终施力的状态且以使一部分向所述外壳的外部突出的状态设置于所述外壳内的接触部件，所述外壳包括沿所述轴向延伸的圆筒状的主体部、和以沿所述主体部的径向突出的状态沿着所述轴向设置于所述主体部的周面的一部分的屏蔽部，或者所述外壳包括沿所述轴向延伸的圆筒状的主体部、和以沿所述主体部的径向凹陷的状态沿着所述轴向设置于所述主体部的周面的一部分的凹陷部，所述外壳构成为能够在所述凹陷部设置应该连结的其他检查用探针的所述屏蔽部的端部及/或屏蔽部件的端部。2.根据权利要求1所述的检查用探针，其特征在于，在与所述轴向交叉的面中，所述屏蔽部或所述屏蔽部件以放射状配置有多个。3.根据权利要求1所述的检查用探针，其特征在于，在与所述轴向交叉的面中，所述屏蔽部或所述屏蔽部件具有以大致恒定的宽度延伸的直线形状。4.根据权利要求1所述的检查用探针，其特征在于，在与所述轴向交叉的面中，所述屏蔽部或所述屏蔽部件具有随着在所述径向上远离所述周面而前端渐细的形状。5.根据权利要求4所述的检查用探针...

【专利技术属性】
技术研发人员：新井达也，
申请(专利权)人：广濑电机株式会社，
类型：发明
国别省市：