一种伸缩式测试头支架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种伸缩式测试头支架，涉及半导体设备技术领域，该伸缩式测试头支架，包括测试机，所述测试机的顶端内壁开设有滑槽一，所述测试机的顶端内壁固定连接有圆套，所述圆套的前表面固定连接有支撑块，所述支撑块的前表面开设有滑槽二，所述滑槽二的内壁滑动连接有拉杆一，所述拉杆一的左侧固定连接有斜块一，所述拉杆一的右侧固定连接有弹簧一

【技术实现步骤摘要】
一种伸缩式测试头支架


[0001]本技术涉及半导体设备
，具体为一种伸缩式测试头支架
。

技术介绍

[0002]半导体设备是用于生产各类半导体产品所需的生产设备，属于半导体产业链的关键环节，半导体设备是半导体产业的技术先导者，芯片设计，晶圆制造和封装测试等需在设备技术允许的范围内设计和制造
。
[0003]现有的半导体芯片封装测试包括封装和测试两个环节，合格的芯片在封装结束后做最后的成品测试，而现有的测试设备的测试头一般都是安装在测试机上且完全露在外面，容易吸取灰尘，影响测试的准确率，且测试头是尖锐的在测试完更换芯片或其他工作的过程中容易触碰，容易划伤发生危险，而现有的测试头都是通过螺纹连接的，长时间使用测试头容易损坏且螺纹容易滑丝
。

技术实现思路

[0004](
一
)
解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种伸缩式测试头支架，解决了上述
技术介绍
提到的“现有的测试设备的测试头一般都是安装在测试机上且完全露在外面，容易吸取灰尘，影响测试的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种伸缩式测试头支架，包括测试机
(1)
，其特征在于：所述测试机
(1)
的顶端内壁开设有滑槽一
(13)
，所述测试机
(1)
的顶端内壁固定连接有圆套
(9)
，所述圆套
(9)
的前表面固定连接有支撑块
(23)
，所述支撑块
(23)
的前表面开设有滑槽二
(22)
，所述滑槽二
(22)
的内壁滑动连接有拉杆一
(8)
，所述拉杆一
(8)
的左侧固定连接有斜块一
(7)
，所述拉杆一
(8)
的右侧固定连接有弹簧一
(21)
，所述圆套
(9)
的左侧贯穿且滑动连接有滑杆一
(15)
，所述滑杆一
(15)
的左侧固定连接有圆块一
(5)
，所述圆块一
(5)
通过弹簧二
(6)
与圆套
(9)
弹性连接，所述圆套
(9)
的内壁滑动连接有圆杆
(10)
，所述圆杆
(10)
的左侧开设有圆槽一
(11)
，所述圆杆
(10)
的前表面固定连接有握杆
(4)
，所述圆杆
(10)
的底端设置有测试头
(12)
，所述滑槽一
(13)
的内壁插接有阻挡壳
(3)
，所述阻挡壳
(3)
的底端开设有通槽一
(14)。2.
根据权利要求1所述的一种伸缩式测试头支架，其特征在于：所述圆杆
(10)
的底端开设有圆槽二
(2)
，所述圆杆
(10)
的底端靠近圆槽二
(2)
的右侧开设有滑槽三
(24)
，所述滑槽三
(24)
的内壁滑动连接有斜块二
(16)
，所述斜块二
(16)
的右侧固定连接有拉杆二
(18)
，所述斜块二
(16)
通过弹簧三
(17)
与圆杆
(10)
弹性连接，所述拉杆二
(18)
的右侧固定连接有圆块二
(20...

【专利技术属性】
技术研发人员：常浩，陈春，刘增红，
申请(专利权)人：矽佳半导体嘉兴有限公司，
类型：新型
国别省市：