一种用于制造技术

一种用于

【技术实现步骤摘要】
一种用于X射线测试的普适性变温透射样品台


[0001]本技术属于机械领域
。
具体地说属于科学仪器领域，更具体地涉及一种用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台
。

技术介绍

[0002]在对样品进行
X
射线的测试中，有时需要在不同温度下对不同形态的样品进行测试
。
因此承载样品的样品台需要具备调节温度的功能，且能够适用于不同样品的测试
。
目前主流的变温样品台为反射模式，只能够进行
X
射线吸收系数比较高的无机粉末的测试工作，不能应用于低吸收系数的粉末样品的测试，也不能承载薄膜样品和液体样品
。
因此，需要开发一种变温透射台，在实现变温的同时，不仅仅能够适用于粉末样品的测试，还能够应用于薄膜或者液体样品的测试
。

技术实现思路

[0003]本技术为了能够适用于不同类型样品的
X
射线变温透射测试工作而提供了一种用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台
。
[0004]本技术提供了一种用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台，可安装于
X
射线仪器样品台位置，其采用以下技术方案：
[0005]为
X
射线测试提供了一种普适性的变温透射样品台，其包括接线柱
、
测试台主体
、
隔板
、
控温片
、
样品槽插槽/>、
测试台支架
、
样品腔外壳
、
样品腔窗膜固定框架；其中，所述测试台支架固定于
X
射线仪器样品台位置；所述接线柱
、
测试台主体
、
隔板
、
控温片
、
样品槽插槽组装在一起后固定于测试台支架中间开孔处；所述样品腔外壳与样品腔窗膜固定框架固定于测试台支架上方；所述样品腔窗膜固定框架上覆有聚酰亚胺膜；所述样品腔外壳与样品腔窗膜固定框架先行取下，将样品置于样品槽插槽内部后，再将样品腔外壳与样品腔窗膜固定框架安装至测试台支架上；所属装置通过控温装置与循环冷却水装置调节样品温度，
X
射线透过样品槽插槽内部的样品，从而完成不同温度下的测试工作
。
[0006]本技术的优异技术效果包括：开发了一种用于
X
射线测试的变温透射样品台，该样品台能够在
‑
20℃
‑
100℃
范围内调节温度，从而实现不同温度下的测试工作
。
同时，该变温透射样品台能够用于测试不同类型的样品，包括各种粉末样品
、
薄膜样品和液体样品，这极大的扩宽了样品台的应用范围
。
附图说明
[0007]图
1(a)、(b)
是已有的变温反射样品台结构示意图
。
[0008]图2是本技术实施例提供的用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台整体结构示意图
。
[0009]图3是本技术实施例提供的用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台各部件结构示意图
。
[0010]图4是本技术实施例提供的普适性变温透射样品台在
X
射线设备中位置图
。
[0011]图5是本技术实施例提供的普适性变温透射样品台配套的样品槽之一
。
[0012]图6是本技术实施例提供的普适性变温透射样品台配套的样品槽之二
。
[0013]图7是本技术实施例提供的普适性变温透射样品台配套的样品槽之三
。
[0014]附图标记说明：
[0015]图1中，
a)
变温台外部视图，
b)
变温台内部视图；
[0016]图3中，1：接线柱，2：测试台主体，3：隔板，4：控温片，5：样品槽插槽，6：测试台支架，7：样品腔外壳，8：样品腔窗膜固定框架
。
[0017]图4中，9：
X
射线光源，
10
：
X
射线设备样品台固定处
。
[0018]图5中，
11
：粉末样品槽
。
[0019]图6中，
12
：薄膜样品槽
。
[0020]图7中，
13
：液体样品槽
。
具体实施方式
[0021]目前市场上的主流变温台均为反射模式变温台
。
图1左图
a)
是主流变温台的外部视图
。
在样品腔里，内部结构如图1右图
b)
所示
。
粉末样品需要填充在样品腔中心部位不锈钢挡板下面的凹槽里，填满压平后进行反射测试
。
这种样品台只适合测试对
X
射线吸收系数比较高的无机粉末样品，并不适合测试低吸收系数的粉末样品，也不能够对薄膜样品和液体样品进行测试，这使得其应用受到了限制
。
[0022]本技术的实施例将样品台由反射模式修改为透射模式，且优化样品台的结构使得样品台能够适用于粉末样品
、
薄膜样品和液体样品的测试，这就拓阔了应用范围，使不同类型样品的变温测试成为可能
。
[0023]如图2‑
图3所示，本技术实施例提供了一种用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台，所述用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台具有安装于
X
射线样品台位置的拆分式设计
。
所述用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台包括：接线柱
1、
测试台主体
2、
隔板
3、
控温片
4、
样品槽插槽
5、
测试台支架
6、
样品腔外壳
7、
样品腔窗膜固定框架
8。
[0024]如图2‑
图4所示，测试台支架6固定于
X
射线样品台位置，接线柱
1、
测试台主体
2、
隔板3与控温片4组装形成变温台，变温台通过接线柱1连接加热控温装置，测试台主体2内部设置水流通道，水流通道通过出水孔与入水孔连接外部的冷却水循环系统
。
其中加热控温装置与冷却水循环装置均可从市面上购置
。
通过外部的加热控温装置与冷却水循环系统能够实现控温片4的精确控温
。
样品槽插槽5固定于控温片4之上，内部可以放置承载有样品的样品槽，通过控温片4的控温实现样品的控温
。
其中，适用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台，其特征在于，所述用于
X
射线测试的普适性变温透射样品台包括：接线柱
(1)、
测试台主体
(2)、
隔板
(3)、
控温片
(4)、
样品槽插槽
(5)、
测试台支架
(6)、
样品腔外壳
(7)、
样品腔窗膜固定框架
(8)
；测试台支架
(6)
固定于
X
射线样品台位置，接线柱
(1)、
测试台主体
(2)、
隔板
(3)
与控温片
(4)
组装形成变温台，变温台通过接线柱
(1)
连接加热控温装置，测试台主体
(2)
内部设置水流通道，水流通道通过出水孔与入水孔连接外部的冷却水循环系统；通过外部的加热控温装置与冷却水循环系统能够实现控温片
(4)
的精确控温
。2.
根据权利要求1所述的用于
X

【专利技术属性】
技术研发人员：李霄鹏，
申请(专利权)人：深圳惟墨仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：