一种用于制造技术

一种用于

【技术实现步骤摘要】
一种用于X射线测试的变温高压透射样品台


[0001]本技术属于机械领域
。
具体地说属于科学仪器领域，更具体地涉及一种用于
X
射线测试的变温高压透射样品台
。

技术介绍

[0002]在对样品进行
X
射线的测试中，有时需要在不同温度及不同压力下对样品进行测试
。
因此承载样品的样品台需要具备调节温度与压力的功能，且能够适用于不同样品的测试
。
目前主流变温样品台为反射模式，只能够在室温以上对
X
射线吸收系数比较高的无机粉末进行压力测试工作，不能应用于室温以下的测试，且不能应用于低吸收系数粉末样品的测试，不能承载薄膜样品
。
因此，需要开发一种变温高压透射台，在实现较宽范围变温的同时，不仅仅能够适用于所有粉末样品的测试，还能够应用于薄膜样品
。

技术实现思路

[0003]本技术的实施例提供了一种可在低于室温的情况下进行高压测试的透射样品台，可以在不同温度下进行对
X
射线吸收系数低的样品及薄膜样品的高压测试
。
[0004]本技术的实施例提供了一种用于
X
射线测试的变温透射样品台，整体装置为一体式结构，能够安装于
X
射线仪器样品台位置，能够在低于室温之下对不同样品进行高压透射测试，其采用以下技术方案：
[0005]一种用于
X
射线测试的变温高压透射样品台，其包括接线盒，支架，调节距离旋钮，旋钮固定架，低温高压台平台，铜块，控温片，第一铜片，第一铍窗，低温高压台主体，第二铍窗，第二铜片，感温元件；其中，所述低温高压台平台固定于
X
射线仪器样品台位置；所述接线盒固定于低温高压台平台下部，起到梳理导线的作用；所述第一铍窗，第一铜片，控温片，铜块依次固定于低温高压台主体前侧；所述第二铍窗，第二铜片依次固定于低温高压台主体后侧；所述感温元件固定于低温高压台主体底部，上端位于样品腔室内，另外一端通过导线连接加热控温设备；所述低温高压台主体固定于低温高压台平台上；所述低温高压台平台固定于支架上；所述旋钮固定架固定于支架上；所述调节距离旋钮拧在螺丝固定架上且与低温高压台平台嵌合，通过旋转旋钮实现低温高压台平台的左右移动；所述控温片上设有入水口与出水口，连接冷却水循环装置用来精确控温；所述低温高压台主体上方与右侧分别存在一对气路出入口，连接压力表与气体钢瓶来控制压力；所述装置首先将样品置于低温高压台主体的样品腔室内，将样品台组装完毕后通过控温片进行控温，通过气路控压，通过螺丝调节光路，实现不同温度不同压力下的
X
射线透射测试工作
。
[0006]本技术开发了一种用于
X
射线测试的变温高压透射样品台，该样品台能够在不同温度下，包括在低于室温下进行不同压力的
X
射线透射测试
。
同时，该样品台能够测试所有粉末样品及薄膜样品，拓宽了样品台的应用范围
。
附图说明
[0007]图1是已有的变温高压反射样品台结构示意图
。
[0008]图2是本技术实施例提供的变温高压透射样品台结构示意图
。
[0009]图3是本技术实施例提供的变温高压透射样品台各部件结构示意图
。
[0010]图4是本技术实施例提供的变温高压透射样品台在
X
射线设备中位置图
。
[0011]图5是本技术实施例提供的变温高压透射样品台局部结构示意图
。
[0012]图6是本技术实施例提供的变温高压透射样品台另一局部结构示意图
。
[0013]附图标记说明：
[0014]图1中，
a)
反射模式高压样品台外貌，
b)
反射模式高压样品台样品槽视图
。
[0015]图3中，1：接线盒，2：支架，3：调节距离旋钮，4：旋钮固定架，5：低温高压台平台，6：感温元件，7：铜块，8：控温片，9：第一铜片，
10
：第一铍窗，
11
：低温高压台主体，
12
：第二铍窗，
13
：第二铜片
。
[0016]图4中，
22
：
X
射线光源，
23
：
X
射线设备样品台固定处
。
[0017]图5为调节距离旋钮
3、
旋钮固定架4与低温高压台平台5的组装后剖面图，
14
：第一螺丝，
15
：第二螺丝，
16
：第三螺丝，
17
：第一长条孔洞，
18
：第二长条孔洞，
19
：嵌合结构
。
[0018]图6为低温高压主体
11
的具体部位说明，
20
：样品腔室，
21
：孔洞
。
具体实施方式
[0019]目前市场上主流的高压样品台为反射型高压样品台，其使用温度在室温之上
。
图1左图
a)
为反射型高压样品台外貌，右图
b)
为反射型高压样品台样品槽视图
。
该样品台可以在反射模式下进行室温以上高压下样品的结构分析，也可以在温度或者压力变化下观测样品结构的变化
。
但是这种反射型高压样品台只适合对
X
射线吸收系数高的样品的高温高压测试，这使得其应用受到了限制
。
[0020]本技术中，将样品台由反射模式修改为透射模式，可以适用于所有粉末样品与薄膜样品
。
且通过控温片的加入实现了室温以下的测试
。
[0021]如图2所示，本技术的实施例提供了一种用于
X
射线测试的变温高压透射样品台，所述样品台为安装于
X
射线样品台位置的一体式结构
。
[0022]如图2‑
图3所示，用于
X
射线测试的变温高压透射样品台包括接线盒
1、
支架
2、
调节距离旋钮
3、
旋钮固定架
4、
低温高压台平台
5、
感温元件
6、
铜块
7、
控温片
8、
第一铜片
9、
第一铍窗
10、
低温高压台主体
11、
第二铍窗
12、
第二铜片
13。
支架2固定于
X
射线设备样品台位置
23
处，使得
X
射线从光源
22
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于
X
射线测试的变温高压透射样品台，其特征在于，所述用于
X
射线测试的变温高压透射样品台包括接线盒
(1)、
支架
(2)、
调节距离旋钮
(3)、
旋钮固定架
(4)、
低温高压台平台
(5)、
感温元件
(6)、
铜块
(7)、
控温片
(8)、
第一铜片
(9)、
第一铍窗
(10)、
低温高压台主体
(11)、
第二铍窗
(12)、
第二铜片
(13)
；支架
(2)
固定于
X
射线设备样品台位置
(23)
处，使得
X
射线从光源
(22)
发出后穿过样品台样品腔室，接线盒
(1)
固定于支架
(2)
的下方；低温高压台平台
(5)
用第一螺丝
(14)
固定于支架
(2)
的上侧；调节距离旋钮
(3)
为螺丝结构，拧入旋钮固定架
(4)
中央的螺母孔洞，且调节距离旋钮
(3)
末端与低温高压台平台
(5)
形成嵌合结构
(19)
，将旋钮固定架
(4)
用第二螺丝
(15)
固定于支架
(2)
上侧；第一螺丝
(14)
固定于第一长条孔洞
(17)
中，通过旋转调节距离旋钮
(3)
能够实现低温高压台平台
(5)
的左右移动；低温高压台主体
(11)
通过第三螺丝
(16)
...

【专利技术属性】
技术研发人员：李霄鹏，
申请(专利权)人：深圳惟墨仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：