一种激光雕刻机的对焦和测量方法技术

本申请提供一种激光雕刻机的对焦和测量方法

【技术实现步骤摘要】
一种激光雕刻机的对焦和测量方法、装置以及存储介质


[0001]本申请涉及激光雕刻机领域，特别涉及一种激光雕刻机的对焦和测量方法
、
装置以及存储介质
。

技术介绍

[0002]激光雕刻机，是一种利用激光对需要雕刻的材料进行雕刻的先进设备，激光雕刻机不同于机械雕刻机和其他传统的手工雕刻方式，它是使用激光的热能对材料进行雕刻，激光雕刻机内的激光器是其核心所在，一般来说，激光雕刻机的使用范围更加广泛，而且雕刻精度更高，雕刻速度也更加快捷，正是因为激光雕刻机有着如此多的优越性，所以现在激光雕刻机的应用已经逐渐取代了传统的雕刻设备和方式
。
[0003]在传统激光雕刻机中，激光雕刻机在使用过程中，由于被雕刻材料的厚度不同，造成激光焦点无法每次都准确聚焦于材料表面，进而影响雕刻效果，对于此对焦问题，目前常见的解决方案是在雕刻之前手动进行对焦，即手动调节激光系统或者激光焦点高度，从而使激光焦点聚焦于雕刻材料的表面，然后再进行雕刻
。
目前市面上常见的手动调节焦点的方式一般采用对焦柱让客户手动实现对焦，在使用上较为繁琐，而且手动调节时精准度无法保证，另外操作时可能会发生激光反射光刺眼的情况，具有一定的风险，步骤繁琐，安全性欠佳
。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种激光雕刻机的对焦方法
、
装置
、
设备及存储介质，在特定算法下实现了所述激光雕刻机的激光头自动对焦的功能
。
[0005]本申请第一方面提供了一种激光雕刻机的对焦校准方法，包括：
[0006]S01
，预设激光发生器和感光部件的参数，根据所述参数，计算所述激光发生器和待测材料第一待测点的距离；
[0007]S02
，调整所述激光发生器和所述待测材料之间的距离大小，使得所述待测材料相对所述激光发生器存在第二待测点；
[0008]S03
，在所述第一待测点预设一像素面，其与所述感光部件和所述待测材料之间的直线垂直；所述待测材料的第二待测点在所述像素面上存在一投射点；
[0009]S04
，计算所述投射点和所述第一待测点之间的距离，根据所述距离计算出比例系数
。
[0010]本申请第二方面提供了一种激光雕刻机的对焦测量方法，包括：
[0011]S01
，读取比例系数
Ki
；
[0012]S02
，测量出投射点和第一待测点之间的像素距离，标记为
s
’
；
[0013]S03
，根据所述比例系数
Ki
和所述
s
’
，计算出所述投射点和所述第一待测点之间的物理距离，标记为
s
；
[0014]S04
，计算出所述激光发生器和所述第二待测点之间的距离，标记为
BE
’
。
[0015]本申请第三方面提供了一种激光雕刻机，包括：
[0016]感光元件，用于测量待测材料的像素距离；
[0017]激光发生器，其安装于所述感光元件的一侧，其用于发生激光至所述待测材料；
[0018]处理器，用于预设所述激光发生器和所述感光部件的参数，根据所述参数，计算所述激光发生器和所述待测材料第一待测点的距离；
[0019]标记所述激光发生器和所述待测材料之间的距离为
BF
，标记所述感光部件和所述待测材料之间的距离为
AF
；其中所述激光发生器所在位置为
B
，所述感光部件所在位置为
A
，所述待测材料的第一待测点为
F
；
[0020]调整所述激光发生器和所述待测材料之间的距离大小，使得所述待测材料相对所述激光发生器存在第二待测点；
[0021]标记所述待测材料的第二待测点为
E
；标记所述激光发生器和所述第二待测点之间的距离为
BE
；
[0022]在所述
F
点预设一像素面，所述像素面和所述
AF
垂直；
[0023]标记所述待测材料的第二待测点在所述像素面上的投射点的位置为
e
；
[0024]计算所述
e F
之间的距离，根据所述距离计算出比例系数
Ki。
[0025]本申请第四方面提供了一种激光雕刻机，包括：
[0026]感光元件，用于测量待测材料的像素距离；
[0027]激光发生器，其安装于所述感光元件的一侧，其用于发生激光至所述待测材料；
[0028]处理器，用于预设所述激光发生器和所述感光部件的参数，根据所述参数，计算所述激光发生器和所述待测材料第一待测点的距离；
[0029]标记所述激光发生器和所述待测材料之间的距离为
BF
，标记所述感光部件和所述待测材料之间的距离为
AF
；其中所述激光发生器所在位置为
B
，所述感光部件所在位置为
A
，所述待测材料的第一待测点为
F
；
[0030]调整所述激光发生器和所述待测材料之间的距离大小，使得所述待测材料相对所述激光发生器存在第二待测点；
[0031]标记所述待测材料的第二待测点为
E
；
[0032]在所述
F
点预设一像素面，所述像素面和所述
AF
垂直；
[0033]标记所述待测材料的第二待测点在所述像素面上的投射点的位置为
e
；
[0034]计算所述
e F
之间的距离，根据所述距离计算出比例系数
Ki。
[0035]所述处理器用于读取所述的
BF
和比例系数
Ki
；
[0036]测量出所述的
s
’
；
[0037]根据所述比例系数
Ki
和所述
s
’
，计算出所述
e F
之间的物理距离，标记为
s
；
[0038]计算出所述激光发生器和所述第二待测点之间的距离，标记为
BE
’
。
[0039]本申请第五方面提供了一种计算机存储介质，包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述任一方面所述的激光雕刻机的对焦校准方法的步骤
。
[0040]相对于现有技术，本申请提供的激光雕刻机的对焦和测量方法
、
装置以及存储介质，通过设置感光元件
、
激光发生器及处理器，在特定算法下实现了激光头自动对焦的功能，让用户可以更加流畅以及安全地使用激光雕刻机
。
【附图说明】
[0041]图1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种激光雕刻机的对焦校准方法，其特征在于，包括：预设激光发生器和感光部件的参数，根据所述参数，计算所述激光发生器和待测材料第一待测点的距离；调整所述激光发生器和所述待测材料之间的距离大小，使得所述待测材料相对所述激光发生器存在第二待测点；在所述第一待测点预设一像素面，其与所述感光部件和所述待测材料之间的直线垂直；所述待测材料的第二待测点在所述像素面上存在一投射点；计算所述投射点和所述第一待测点之间的距离，根据所述距离计算出比例系数
。2.
如权利要求1所述的激光雕刻机的对焦校准方法，其特征在于，所述预设激光发生器和感光部件的参数，根据所述参数，计算所述激光发生器和待测材料第一待测点的距离的步骤包括：标记所述激光发生器和所述待测材料之间的距离为
BF
，标记所述感光部件和所述待测材料之间的距离为
AF
；其中所述激光发生器所在位置标记为
B
，所述感光部件所在位置标记为
A
，所述待测材料的第一待测点标记为
F
；预设所述激光发生器到所述感光部件之间的距离，标记为
AB
；预设所述感光部件和所述
AB
线之间的夹角为
β
；预设所述激光发生器和所述第一待测点之间的直线和所述
AB
垂直；根据三角函数，计算出所述激光发生器和所述第一待测点之间距离，计算方法为：
AB*tan
β
＝
BF。3.
如权利要求2所述的激光雕刻机的对焦校准方法，其特征在于，调整所述激光发生器和所述待测材料之间的距离大小，使得所述待测材料相对所述激光发生器存在第二待测点的步骤包括：标记所述待测材料的第二待测点为
E
；标记所述激光发生器和所述第二待测点之间的距离标记为
BE
；移动所述激光发生器，和
/
或所述待测材料；所述
BE
垂直所述
AB。4.
如权利要求3所述的激光雕刻机的对焦校准方法，其特征在于，计算所述投射点和所述第一待测点之间的距离，根据所述距离计算出比例系数的步骤包括：标记所述投射点为
e
点；计算所述
e F
之间的物理距离，标记为
s
；计算所述
e F
之间的像素距离，标记为
s
’
；计算所述
s
和所述
s
’
之间的比例系数，标记为
Ki。5.
如权利要求4所述的激光雕刻机的对焦校准方法，其特征在于，计算所述
e F
之间的物理距离，标记为
s
的步骤包括：根据三角函数关系，计算出所述
AE
和所述
AB
之间的夹角
α
；计算公式为：
tan
α
＝
BE/AB
，得出
tan
α
的数值，根据反三角函数计算出夹角
α
大小；计算所述感光部件和所述第一待测点之间的距离，标记为
AF
；在所述直角三角形
AFe
中，计算出
eF
之间的物理距离；计算公式为：
tan...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐勇，
申请(专利权)人：深圳市妙笔天成科技有限公司，
类型：发明
国别省市：