一种线缆的测试方法技术

本发明专利技术实施例公开了一种线缆的测试方法

【技术实现步骤摘要】
一种线缆的测试方法、测试系统及计算机可读储存介质


[0001]本专利技术涉及低速线缆性能测试
，尤其涉及一种线缆的测试方法
、
测试系统及计算机可读储存介质
。

技术介绍

[0002]目前对于低速线缆，特别是定制的低速线缆，往往由于缺乏相关测试装置，导致使用方无法自行验证线缆的性能参数
。
在使用方进行系统信号测试过程中遇到的如阻抗不连续导致的波形反射，串扰导致的波形毛刺等信号质量问题时，在怀疑是线缆问题后，只能将问题反馈给线缆供应商，供应商再安排测试优化，耗时漫长，无法快速定位问题
。
[0003]因此，寻找一种能够解决上述技术问题的技术方案成为本领域技术人员所研究的重要课题
。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例公开了一种线缆的测试方法
、
测试系统及计算机可读储存介质，用于解决目前使用方无法自行对低速线缆进行性能参数测试的技术问题
。
[0005]本专利技术实施例提供了一种线缆的测试方法，所述测试方法基于测试装置进行，所述测试装置包括测试电路板以及设置于所述测试电路板上的第一转接器
、
第二转接器
、
第三转接器以及第四转接器，所述测试电路板上设置有第一测试点以及第三测试点，其中，所述第一测试点与所述第一转接器电连接，所述第三测试点与所述第四转接器电连接，所述第二转接器与所述第三转接器电连接；
[0006]所述测试方法包括以下步骤：
[0007]将待测试的线缆的第一端的信号线与所述第一测试点电连接，将待测试的电缆的第二端的信号线与所述第三测试点电连接；
[0008]将第一转接器接入分析设备的第一端口，将第四转接器接入分析设备的第二端口，测试得到线缆和第一转接器以及第四转接器的
S
参数
S1
；
[0009]将分析设备的第一端口接入第二转接器，将分析设备的第二端口接入第三转接器，测试得到第二转接器与第三转接器的
S
参数
S2
；
[0010]通过分析处理从
S1
中分离掉
S2
，得到线缆的
S
参数；
[0011]将线缆的
S
参数转换得到线缆的时域反射
TDR
，所述
TDR
反映线缆的阻抗特性
。
[0012]可选地，所述第一测试点与所述第一转接器之间通过所述测试电路板上的导电线电连接，所述第三测试点与所述第四转接器之间通过所述测试电路板上的导电线电连接
。
[0013]可选地，所述第二转接器与所述第三转接器之间通过所述测试电路板上的导电线电连接
。
[0014]可选地，所述第一测试点与所述第一转接器之间的导电线的长度为
L1
，所述第三测试点至所述第四转接器之间的导电线的长度为
L2
，所述第二转接器与所述第三转接器之间的导电线的长度为
L3
；
[0015]其中，
2*L1
＝
2*L2
＝
L3。
[0016]可选地，所述测试电路板上还设置有第二测试点与第四测试点；
[0017]其中，所述将待测试的线缆的第一端的信号线与所述第一测试点电连接，将待测试的电缆的第二端的信号线与所述第三测试点电连接的步骤还包括：
[0018]将线缆的第一端的接地线与所述第二测试点电连接，将线缆的第二端的接地线与第四测试点电连接
。
[0019]可选地，所述第一转接器
、
所述第二转接器
、
所述第三转接器以及所述第四转接器为
SMA
转接器
。
[0020]可选地，所述将待测试的线缆的第一端的信号线与所述第一测试点电连接，将待测试的电缆的第二端的信号线与所述第三测试点电连接的步骤中，所述线端的第一端的信号线与所述第一测试点通过焊接电连接，所述电缆的第二端的信号线与所述第二测试点通过焊接电连接
。
[0021]可选地，所述线缆的第一端的接地线与所述第二测试点通过焊接电连接，所述线缆的第二端的接地线与第四测试点通过焊接电连接
。
[0022]本专利技术实施例提供了一种测试系统，包括：
[0023]测试执行模块，用于将待测试的线缆的第一端的信号线与所述第一测试点电连接，将待测试的电缆的第二端的信号线与所述第三测试点电连接；
[0024]第一测试数据获取模块，用于在将第一转接器接入分析设备的第一端口，将第四转接器接入分析设备的第二端口时，从所述分析设备获取线缆和第一转接器以及第四转接器的
S
参数
S1
；
[0025]第二测试数据获取模块，用于在将分析设备的第一端口接入第二转接器，将分析设备的第二端口接入第三转接器时，获取第二转接器与第三转接器的
S
参数
S2
；
[0026]测试数据分析处理模块，用于通过分析处理从
S1
中分离掉
S2
，得到线缆的
S
参数；
[0027]测试数据转换模块，用于将线缆的
S
参数转换得到线缆的时域反射
TDR
，所述
TDR
反映线缆的阻抗特性
。
[0028]本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述测试方法的步骤
。
[0029]从以上技术方案可以看出，本专利技术实施例具有以下优点：
[0030]本实施例的低速线缆测试方法中，将待测试的线缆的第一端的信号线与所述第一测试点电连接，将待测试的电缆的第二端的信号线与所述第三测试点电连接；将第一转接器接入分析设备的第一端口，将第四转接器接入分析设备的第二端口，测试得到线缆和第一转接器以及第四转接器的
S
参数
S1
；将分析设备的第一端口接入第二转接器，将分析设备的第二端口接入第三转接器，测试得到第二转接器与第三转接器的
S
参数
S2
；通过分析处理从
S1
中分离掉
S2
，得到线缆的
S
参数；将线缆的
S
参数转换得到线缆的时域反射
TDR
，
TDR
反映线缆的阻抗特性
。
通过上述设计，使用方可通过上述方法简单快捷地对低速线缆完成性能参数的测试，便于使用方快速定位线缆的具体问题，从而快速找到有效的解决方法，有效节省现有需要将低速线缆返回线缆供应商测试优化的时间
。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种线缆的测试方法，其特征在于，所述测试方法基于测试装置进行，所述测试装置包括测试电路板以及设置于所述测试电路板上的第一转接器
(5)、
第二转接器
(6)、
第三转接器
(7)
以及第四转接器
(8)
，所述测试电路板上设置有第一测试点
(1)
以及第三测试点
(3)
，其中，所述第一测试点
(1)
与所述第一转接器
(5)
电连接，所述第三测试点
(3)
与所述第四转接器
(8)
电连接，所述第二转接器
(6)
与所述第三转接器
(7)
电连接；所述测试方法包括以下步骤：将待测试的线缆的第一端的信号线与所述第一测试点
(1)
电连接，将待测试的电缆的第二端的信号线与所述第三测试点
(3)
电连接；将第一转接器
(5)
接入分析设备
(9)
的第一端口，将第四转接器
(8)
接入分析设备
(9)
的第二端口，测试得到线缆和第一转接器
(5)
以及第四转接器
(8)
的
S
参数
S1
；将分析设备
(9)
的第一端口接入第二转接器
(6)
，将分析设备
(9)
的第二端口接入第三转接器
(7)
，测试得到第二转接器
(6)
与第三转接器
(7)
的
S
参数
S2
；通过分析处理从
S1
中分离掉
S2
，得到线缆的
S
参数；将线缆的
S
参数转换得到线缆的时域反射
TDR
，所述
TDR
反映线缆的阻抗特性
。2.
根据权利要求1所述的线缆的测试方法，其特征在于，所述第一测试点
(1)
与所述第一转接器
(5)
之间通过所述测试电路板上的导电线电连接，所述第三测试点
(3)
与所述第四转接器
(8)
之间通过所述测试电路板上的导电线电连接
。3.
根据权利要求2所述的线缆的测试方法，其特征在于，所述第二转接器
(6)
与所述第三转接器
(7)
之间通过所述测试电路板上的导电线电连接
。4.
根据权利要求3所述的线缆的测试方法，其特征在于，所述第一测试点
(1)
与所述第一转接器
(5)
之间的导电线的长度为
L1
，所述第三测试点
(3)
至所述第四转接器
(8)
之间的导电线的长度为
L2
，所述第二转接器
(6)
与所述第三转接器
(7)
之间的导电线的长度为
L3
；其中，
2*L1
＝
2*L2
＝
L3。5.

【专利技术属性】
技术研发人员：李宝成，石博文，
申请(专利权)人：西安易朴通讯技术有限公司，
类型：发明
国别省市：