一种物料表面积测量方法技术

本发明专利技术公开了一种物料表面积测量方法

【技术实现步骤摘要】
一种物料表面积测量方法、装置、电子设备以及介质


[0001]本专利技术涉及测量领域，尤其涉及一种物料表面积测量方法
、
装置
、
电子设备以及介质
。

技术介绍

[0002]在生产加工中会出现许多不规则的平面边角料，这些边角料的材质可以是布
、
皮革和牛皮纸等物料，针对不同面积的物料会有不同的用处，所以，准确计算出各种物料的面积在生产加工中能够提高生产效益，随着计算机技术的不断发展，尤其是深度学习技术的突破，现有计算不同形状物料的面积的方法是，利用深度学习算法统计物料所在图像中物料和参照物的像素，再利用物料和参考物的像素比进行物料表面积的计算，该方法在实际使用过程中表现较为繁琐
、
效率低，而且计算误差大
。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种物料表面积测量方法
、
装置
、
电子设备以及介质，以解决计算物料表面积复杂度高
、
效率低
、
误差大的问题
。
[0004]根据本专利技术的一方面，提供了一种物料表面积测量方法，该方法包括：
[0005]垂直朝向参考物与待检测物料进行图像采集得到目标图像，所述参考物放置于水平桌面上，且所述参考物上被放置有待检测物料，在视觉上所述参考物的表面积大于所述待检测物料的表面积；
[0006]对所述目标图像进行检测和分割得到参考图像，所述参考图像是按照参考物边缘从所述目标图像中分割出的包含待检测物料与参考物的图像；
[0007]统计所述参考图像中分布在参考物区域和待检测物料区域的像素点个数，计算所述待检测物料的表面积
。
[0008]根据本专利技术的另一方面，提供了一种物料表面积测量装置，该装置包括：
[0009]目标图像获取模块，用于垂直朝向参考物与待检测物料进行图像采集得到目标图像，所述参考物放置于水平桌面上，且所述参考物上被放置有待检测物料，在视觉上所述参考物的表面积大于所述待检测物料的表面积；
[0010]检测和分割模块，用于对所述目标图像进行检测和分割得到参考图像，所述参考图像是按照参考物边缘从所述目标图像中分割出的包含待检测物料与参考物的图像；
[0011]表面积计算模块，用于统计所述参考图像中分布在参考物区域和待检测物料区域的像素点个数，计算所述待检测物料的表面积
。
[0012]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0013]至少一个处理器；以及
[0014]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0015]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的
物料表面积测量方法
。
[0016]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的物料表面积测量方法
。
[0017]本专利技术实施例的技术方案，通过垂直朝向参考物与待检测物料进行图像采集得到目标图像，对所述目标图像进行检测和分割得到参考图像，统计所述参考图像中分布在参考物区域和待检测物料区域的像素点个数，计算所述待检测物料的表面积，该方法通过从目标图像中分割出参考图像，并统计参考图像中各个区域的分布的像素点个数，能够计算任意形状物料的表面积，从而降低计算的复杂度，提高计算待检测物料表面积的准确性，降低出现误差的概率
。
[0018]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围
。
本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解
。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0020]图1是根据本专利技术实施例提供的一种物料表面积测量方法的流程图；
[0021]图2是根据本专利技术实施例提供的一种物料表面积测量方法的流程图；
[0022]图3是根据本专利技术实施例提供的二值化处理之前的参考图像；
[0023]图4是根据本专利技术实施例提供的二值化处理之后的参考图像；
[0024]图5是根据本专利技术实施例提供的一种物料表面积测量方法的流程图；
[0025]图6是根据本专利技术实施例二提供的一种物料表面积测量装置的结构示意图；
[0026]图7是实现本专利技术实施例的物料表面积测量方法的电子设备的结构示意图
。
具体实施方式
[0027]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围
。
[0028]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序
。
应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施
。
此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程
、
方法
、
系统
、
产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程
、
方法
、
产品或设备固有的其它步骤或单元
。
[0029]实施例一
[0030]图1为本专利技术实施例提供了一种物料表面积测量方法的流程图，本实施例可适用于物料表面积测量的情况，该方法可以由物料表面积测量装置来执行，该物料表面积测量装置可以采用硬件和
/
或软件的形式实现，该物料表面积测量装置可配置于任何具有网络通信功能的电子设备中
。
如图1所示，该方法可包括：
[0031]S110、
垂直朝向参考物与待检测物料进行图像采集得到目标图像，所述参考物放置于水平桌面上，且所述参考物上被放置有待检测物料，在视觉上所述参考物的表面积大于所述待检测物料的表面积
。
[0032]其中，参考物可以是已知表面积大小，为计算待检测物料的表面积提供的参照物，待检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种物料表面积测量方法，其特征在于，包括：垂直朝向参考物与待检测物料进行图像采集得到目标图像，所述参考物放置于水平桌面上，且所述参考物上被放置有待检测物料，在视觉上所述参考物的表面积大于所述待检测物料的表面积；对所述目标图像进行检测和分割得到参考图像，所述参考图像是按照参考物边缘从所述目标图像中分割出的包含待检测物料与参考物的图像；统计所述参考图像中分布在参考物区域和待检测物料区域的像素点个数，计算所述待检测物料的表面积
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，统计所述参考图像中分布在参考物区域和待检测物料区域的像素点个数，计算所述待检测物料的表面积，包括：在所述参考图像中随机抽取预设数量的像素点；统计所述随机抽取预设数量的像素点分布在待检测物料区域的像素点个数，确定为待检测物料像素个数；根据所述预设数量的像素点
、
待检测物料像素个数和参考物的表面积三个参数计算所述待检测物料的表面积
。3.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述目标图像进行检测和分割得到参考图像之后，还包括：对所述参考图像进行二值化处理，得到用于统计待检测物料区域的像素点个数的参考图像
。4.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述预设数量的像素点
、
待检测物料像素个数和参考物的表面积三个参数计算所述待检测物料的表面积，包括：通过计算所述待检测物料像素个数与像素点的预设数量的比值，确定待检测物料与参考物像素比值；所述待检测物料的表面积被赋值为所述待检测物料与参考物像素比值与所述参考物的表面积的乘积
。5.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对所述参考图像进行二值化处理，得到用于统计待检测物料区域的像素点个数的参考图像，包括：确定所述参考图像进行二值化处理的像素阈值，所述像素阈值是用于界定参考图像中像素点取值的数值数据；判断所述参考图像中每个像素点的值是否大于等于所述像素阈值；如果是，则将所述像素点的值赋值为...

【专利技术属性】
技术研发人员：周磊，邢哲，
申请(专利权)人：软通动力信息技术集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：