一种激光测距机综合测试设备制造技术

本发明专利技术涉及激光测距技术领域，尤其涉及一种激光测距机综合测试设备，包括光源部件

【技术实现步骤摘要】
一种激光测距机综合测试设备


[0001]本专利技术涉及激光测距
，尤其涉及一种激光测距机综合测试设备
。

技术介绍

[0002]激光测距技术是一种重要的精密测量技术，在军事
、
工业
、
环境监测等领域具有广泛应用
。
随着技术的不断发展，激光测距技术在测量精度
、
测距范围以及适用环境等方面不断提升，但在测试设备的验证
、
性能检验等方面仍存在一些挑战
。
在相关技术中的激光测距机测试方法通常受到环境条件
、
气候变化和外部干扰的影响，测试结果可能不够准确，而且测试过程耗时较长，不利于快速验证和研发
。
并且，不同波长和不同规格的激光测距机在不同场景下可能需要不同的测试条件，从而增加了测试的复杂性和成本，有鉴于此，有必要对目前的激光测距机测试方法予以改进，以解决上述问题；
[0003]本
技术介绍
部分中公开的以上信息仅用于理解本专利技术构思的
技术介绍
，并且因此，它可以包含不构成现有技术的信息
。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种激光测距机综合测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出的激光测距机测试方法通常受到环境条件
、
气候变化和外部干扰的影响，测试结果可能不够准确，而且测试过程耗时较长，不利于快速验证和研发
。
并且，不同波长和不同规格的激光测距机在不同场景下可能需要不同的测试条件，从而增加了测试的复杂性和成本的问题
。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种激光测距机综合测试设备，包括光源部件，光源部件包括模拟光源切换与调整机构和照明光源切换机构，所述模拟光源切换与调整机构用于在垂直于光轴的靶面上切换
、
位移和精密调整不同波长的模拟光源和靶板，所述照明光源切换机构用于切换不同光学通道和测量系统；
[0007]高精度平行光管，高精度平行光管包括离轴抛物面反射镜和折光反射镜，所述平行光管用于汇聚激光束，并通过反射和折射实现光路；
[0008]长焦
CCD
部件，用于监测高精度平行光管靶面光源
、
靶板位置和光轴一致性，所述长焦
CCD
部件通过全反射式成像系统进行成像
。
[0009]模拟测程装置，用于模拟激光测距机在室内的测距过程，所述模拟测程装置通过精密延时器产生模拟激光信号，模拟测程的时间间隔对应于测距距离；
[0010]束散角测量仪，用于进行激光束散角的测量，所述束散角测量仪采用反射法和透射法两种方法，测量结果用于确定激光束的散射角；
[0011]控制系统，控制系统包括工业控制计算机
、
运动控制卡
、
图像卡
、
驱动器和激光光源控制系统，用于协调各个部件的运行
。
[0012]作为一种优选的技术方案，所述模拟光源切换与调整机构包括靶平移导轨
、
靶升
降导轨和程控靶轮，所述程控靶轮上装有模拟激光光源和不同靶板，通过靶升降导轨和靶平移导轨的组合运动实现模拟光源和靶板的切换
、
位移和精密调整
。
[0013]作为一种优选的技术方案，所述所述模拟光源切换与调整机构还包括照明光源切换机构，所述照明光源切换机构包括平移导轨
、
红外照明光源
、
寻像指示光源和激光能量计，所述照明光源切换机构用于切换不同光学通道和测量系统
。
[0014]作为一种优选的技术方案，所述高精度平行光管的离轴抛物面反射镜的面形误差小于
1/50
λ
(
λ
＝
0.6328
μ
m)
，折光反射镜膜层抗激光损伤阈值大于等于
300MW/cm2。
[0015]作为一种优选的技术方案，所述长焦
CCD
部件的角分辨率小于等于
1"
，有效光学口径为
Φ
300mm。
[0016]作为一种优选的技术方案，所述模拟测程装置包括光学陷阱
、
高灵敏度光电探测器
、
高速触发器
、
精密延时器
、
模拟激光光源和平行光管，所述光学陷阱用于收集产品发射的激光，高灵敏度光电探测器用于检测激光信号，高速触发器用于触发精密延时器，模拟激光光源用于发射模拟激光信号，通过反射式光学系统实现全反射成像；
[0017]作为一种优选的技术方案，所述束散角测量仪使用反射法和透射法测量激光束的散射角，用于确定激光束的散射特性
。
[0018]作为一种优选的技术方案，所述控制系统包括工业控制计算机
、
运动控制卡
、
图像卡和驱动器，用于协调各个组件的运行，实现精确控制和数据采集
。
[0019]本专利技术的有益效果是：
[0020]通过本设备，能够模拟激光测距机在不同波长
、
距离和测量条件下的工作状态
。
通过模拟激光光源
、
不同靶板以及测程模拟器，该设备能够进行全方位的性能测试，从而使用户能够在室内环境下对激光测距机的不同规格和性能进行全面的验证，采用高精度平行光管的光路设计，通过离轴抛物面反射镜和折光反射镜的组合，实现了高精度的光学系统
。
这样的设计能够保证光线的准确汇聚和精确成像，从而提高测量精度和信号稳定性，光源部件中的模拟光源切换与调整机构和照明光源切换机构，以及附件中的结构支撑架，共同提供了高度可控的光学通道切换，使得设备能够在不同测试情景下快速
、
准确地切换光源和靶板，适应不同的测试需求
。
附图说明
[0021]图1为本专利技术提出的一种激光测距机综合测试设备的模拟光源
(
靶板
)
切换与调整机构结构示意图；
[0022]图2为本专利技术提出的一种激光测距机综合测试设备照明光源切换机构的结构示意图；
[0023]图3为本专利技术提出的一种激光测距机综合测试设备组合模拟激光光源的结构示意图；
[0024]图4为本专利技术提出的一种激光测距机综合测试设备主光路导入长焦
CCD
的结构示意图
。
[0025]图中：1靶升降导轨
、2
模拟光源
、3
束散角测量孔
、4
靶轮
、5
自准直
CCD、6
靶平移导轨
。
具体实施方式
[0026]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种激光测距机综合测试设备，包括光源部件，光源部件包括模拟光源切换与调整机构和照明光源切换机构，所述模拟光源切换与调整机构用于在垂直于光轴的靶面上切换
、
位移和精密调整不同波长的模拟光源和靶板，所述照明光源切换机构用于切换不同光学通道和测量系统；高精度平行光管，高精度平行光管包括离轴抛物面反射镜和折光反射镜，所述平行光管用于汇聚激光束，并通过反射和折射实现光路；长焦
CCD
部件，用于监测高精度平行光管靶面光源
、
靶板位置和光轴一致性，所述长焦
CCD
部件通过全反射式成像系统进行成像
。
模拟测程装置，用于模拟激光测距机在室内的测距过程，所述模拟测程装置通过精密延时器产生模拟激光信号，模拟测程的时间间隔对应于测距距离；束散角测量仪，用于进行激光束散角的测量，所述束散角测量仪采用反射法和透射法两种方法，测量结果用于确定激光束的散射角；控制系统，控制系统包括工业控制计算机
、
运动控制卡
、
图像卡
、
驱动器和激光光源控制系统，用于协调各个部件的运行
。2.
根据权利要求1所述的一种激光测距机综合测试设备，其特征在于，所述模拟光源切换与调整机构包括靶平移导轨
、
靶升降导轨和程控靶轮，所述程控靶轮上装有模拟激光光源和不同靶板，通过靶升降导轨和靶平移导轨的组合运动实现模拟光源和靶板的切换
、
位移和精密调整
。3.
根据权利要求1所述的一种激光测距机综合测试设备，其特征在于，所述所述模拟光源切换与调整机构还包括照明光源切换机构，所述照明光源切换机构包括平移导轨
、
红外照明光...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴李宗，陈轩，
申请(专利权)人：扬州科莱光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：