芯片的测试方法技术

本公开关于一种芯片的测试方法

【技术实现步骤摘要】
芯片的测试方法、装置、测试芯片和存储介质


[0001]本公开涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片的测试方法
、
装置
、
测试芯片和存储介质
。

技术介绍

[0002]为了确保芯片的正常运行，大多需要在芯片正式投入使用之前，对芯片进行测试
。
然而，相关技术中需要依赖特定仪器或者芯片供应商进行芯片测试，测试步骤繁琐，耗费了大量人力物力
。

技术实现思路

[0003]本公开提供一种芯片的测试方法
、
装置
、
测试芯片
、
电子设备
、
计算机可读存储介质，以至少解决相关技术中需要依赖特定仪器或者芯片供应商进行芯片测试，测试步骤繁琐，耗费了大量人力物力的问题
。
本公开的技术方案如下：根据本公开实施例的第一方面，提供一种芯片的测试方法，适用于测试芯片，所述方法包括：关闭待测芯片的闭环功率控制模式；对所述待测芯片的处理后的信号的参数的采样时长进行缩短调节；生成无线信号并向所述待测芯片发送所述无线信号，获取所述待测芯片对所述无线信号进行处理后的信号的参数；基于所述处理后的信号的参数，得到所述待测芯片的测试结果
。
[0004]在本公开的一个实施例中，获取所述处理后的信号的参数，包括：获取
N
个采样时间点下的处理后的信号的参数，其中，
N
为正整数
。
[0005]在本公开的一个实施例中，所述待测芯片包括功率放大器，所述生成无线信号之前，还包括：对目标时间间隔进行缩短调节，其中，所述目标时间间隔为所述功率放大器的使能信号的生成时刻
、
所述功率放大器的开启时刻之间的时间间隔；所述生成无线信号之后，还包括：生成所述功率放大器的使能信号，并向所述待测芯片发送所述功率放大器的使能信号
。
[0006]在本公开的一个实施例中，若所述处理后的信号的参数包括耦合信号功率，且任一采样时间点下的耦合信号功率为多个，所述基于所述处理后的信号的参数，得到所述待测芯片的测试结果，包括：若所述采样时间点下的至少一个耦合信号功率为零，和
/
或，若所述采样时间点下的多个耦合信号功率的平均值小于或者等于第一设定阈值，确定所述待测芯片出现时序异常；或者，若每个采样时间点下的每个耦合信号功率均不为零，且每个采样时间点下的多个耦合信号功率的平均值均大于所述第一设定阈值，确定所述待测芯片未出现时序异常
。
[0007]在本公开的一个实施例中，所述待测芯片包括功率放大器，所述生成无线信号之前，还包括：控制所述功率放大器进入常开模式；获取所述处理后的信号的参数，包括：获取所述功率放大器在常开模式下的处理后的信号的参数
。
[0008]在本公开的一个实施例中，所述生成无线信号之前，还包括：控制所述功率放大器
进入切换模式；获取所述处理后的信号的参数，包括：获取所述功率放大器在切换模式下的处理后的信号的参数
。
[0009]在本公开的一个实施例中，若所述处理后的信号的参数包括耦合信号功率，所述基于所述处理后的信号的参数，得到所述待测芯片的测试结果，包括：获取所述功率放大器在常开模式下的耦合信号功率
、
所述功率放大器在切换模式下的耦合信号功率的差值；若所述差值小于或者等于第二设定阈值，确定所述待测芯片出现增益降低异常；或者，若所述差值大于所述第二设定阈值，确定所述待测芯片未出现增益降低异常
。
[0010]在本公开的一个实施例中，所述测试芯片包括第一寄存器，所述关闭待测芯片的闭环功率控制模式，包括：将所述第一寄存器赋值为第一设定值；若所述第一寄存器成功赋值为所述第一设定值，向所述待测芯片发送第一信号，其中，所述第一信号用于控制关闭所述待测芯片的闭环功率控制模式
。
[0011]在本公开的一个实施例中，所述测试芯片包括第二寄存器，所述对所述待测芯片的处理后的信号的参数的采样时长进行缩短调节，包括：将所述第二寄存器赋值为第二设定值；若所述第二寄存器成功赋值为所述第二设定值，向所述待测芯片发送第二信号，其中，所述第二信号用于控制对所述处理后的信号的参数的采样时长进行缩短调节
。
[0012]在本公开的一个实施例中，所述测试芯片包括第三寄存器，获取所述处理后的信号的参数，包括：接收所述待测芯片发送的第三信号，其中，所述第三信号用于控制将所述处理后的信号的参数存储至所述第三寄存器；基于所述第三信号，将所述处理后的信号的参数存储至所述第三寄存器；从所述第三寄存器中读取所述处理后的信号的参数
。
[0013]在本公开的一个实施例中，所述第三寄存器包括
N
个子寄存器，所述第三信号用于控制将第
i
个采样时间点下的处理后的信号的参数存储至第
i
个子寄存器，其中，
N
为正整数，
i
为不大于
N
的正整数；所述基于所述第三信号，将所述处理后的信号的参数存储至所述第三寄存器，包括：基于所述第三信号，将所述第
i
个采样时间点下的处理后的信号的参数存储至所述第
i
个子寄存器；所述从所述第三寄存器中读取所述处理后的信号的参数，包括：从所述第
i
个子寄存器中读取所述第
i
个采样时间点下的处理后的信号的参数
。
[0014]在本公开的一个实施例中，所述测试芯片包括第四寄存器，所述对目标时间间隔进行缩短调节，包括：将所述第四寄存器赋值为第三设定值；若所述第四寄存器成功赋值为所述第三设定值，向所述待测芯片发送第四信号，其中，所述第四信号用于控制对所述目标时间间隔进行缩短调节
。
[0015]在本公开的一个实施例中，所述测试芯片包括第五寄存器，所述控制所述功率放大器进入常开模式，包括：将所述第五寄存器赋值为第四设定值；若所述第五寄存器成功赋值为所述第四设定值，向所述待测芯片发送第五信号，其中，所述第五信号用于控制所述功率放大器进入常开模式
。
[0016]在本公开的一个实施例中，所述测试芯片包括第五寄存器，所述控制所述功率放大器进入切换模式，包括：将所述第五寄存器赋值为第五设定值；若所述第五寄存器成功赋值为所述第五设定值，向所述待测芯片发送第六信号，其中，所述第六信号用于控制所述功率放大器进入切换模式
。
[0017]在本公开的一个实施例中，所述处理后的信号包括所述待测芯片对所述无线信号进行处理后的信号；或者对所述处理后的信号进行耦合得到的耦合信号
。
[0018]根据本公开实施例的第二方面，提供一种芯片的测试装置，包括：关闭模块，被配置为执行关闭待测芯片的闭环功率控制模式；调节模块，被配置为执行对所述待测芯片的处理后的信号的参数的采样时长进行缩短调节；测试模块，被配置为执行生成无线本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种芯片的测试方法，其特征在于，包括：关闭待测芯片的闭环功率控制模式；对所述待测芯片的处理后的信号的参数的采样时长进行缩短调节；生成无线信号并向所述待测芯片发送所述无线信号，获取所述待测芯片对所述无线信号进行处理后的信号的参数；基于所述处理后的信号的参数，得到所述待测芯片的测试结果
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述处理后的信号的参数，包括：获取
N
个采样时间点下的处理后的信号的参数，其中，
N
为正整数
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测芯片包括功率放大器，所述生成无线信号之前，还包括：对目标时间间隔进行缩短调节，其中，所述目标时间间隔为所述功率放大器的使能信号的生成时刻
、
所述功率放大器的开启时刻之间的时间间隔；所述生成无线信号之后，还包括：生成所述功率放大器的使能信号，并向所述待测芯片发送所述功率放大器的使能信号
。4.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述处理后的信号的参数包括耦合信号功率，且任一采样时间点下的耦合信号功率为多个，所述基于所述处理后的信号的参数，得到所述待测芯片的测试结果，包括：若所述采样时间点下的至少一个耦合信号功率为零，和
/
或，若所述采样时间点下的多个耦合信号功率的平均值小于或者等于第一设定阈值，确定所述待测芯片出现时序异常；或者，若每个采样时间点下的每个耦合信号功率均不为零，且每个采样时间点下的多个耦合信号功率的平均值均大于所述第一设定阈值，确定所述待测芯片未出现时序异常
。5.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测芯片包括功率放大器，所述生成无线信号之前，还包括：控制所述功率放大器进入常开模式；获取所述处理后的信号的参数，包括：获取所述功率放大器在常开模式下的处理后的信号的参数
。6.
根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述生成无线信号之前，还包括：控制所述功率放大器进入切换模式；获取所述处理后的信号的参数，包括：获取所述功率放大器在切换模式下的处理后的信号的参数
。7.
根据权利要求6所述的方法，其特征在于，若所述处理后的信号的参数包括耦合信号功率，所述基于所述处理后的信号的参数，得到所述待测芯片的测试结果，包括：获取所述功率放大器在常开模式下的耦合信号功率
、
所述功率放大器在切换模式下的耦合信号功率的差值；若所述差值小于或者等于第二设定阈值，确定所述待测芯片出现增益降低异常；或者，若所述差值大于所述第二设定阈值，确定所述待测芯片未出现增益降低异常
。8.
根据权利要求1‑7中任一项所述的方法，其特征在于，测试芯片包括第一寄存器，所
述关闭待测芯片的闭环功率控制模式，包括：将所述第一寄存器赋值为第一设定值；若所述第一寄存器成功赋值为所述第一设定值，向所述待测芯片发送第一信号，其中，所述第一信号用于控制关闭所述待测芯片的闭环功率控制模式
。9.
根据权利要求1‑7中任一项所述的方法，其特征在于，测试芯片包括第二寄存器，所述对所述待测芯片的处理后的信号的参数的采样时长进行缩短调节，包括：将所述第二寄存器赋值为第二设定值；若所述第二寄存器成功赋值为所述第二设定值，向所述待测芯片发送第二信号，其中，所述第二信号用于控制对所述处理后的信号的参数的采样时长进行缩短调节
。10.
根据权利要求1‑7中任一项所述的方法，其特征在于，测试芯片包括第三寄存器，获取所述处理后的信号的参数，包括：接收所述待测芯片发送的第三信号，其中，所述第三信号用于控制将所述处理后的信号的参数存储至所述第三寄存器；基于所述第三信号，将所述处理后的信号的参数存储至所述第三寄存器；从所述第三寄存器中读取所述处理后的信号的参数
。11.
根据权利要求
10
所述的方法，其特征在于，所述第三寄存器包括
N
个子寄存器，所述第三信号用于控制将第
i
个采样时间点下的处理后的信号的参数存储至第
i
个子寄存器，其中，
N
为正整数，
i
为不大于
N
的正整数；所述基于所述第三信号，将所述处理后的信号的参数存储至所述第三寄存器，包括：基于所述第三信号，将所述第
i
个采样时间点下的处理后的信号的参数存储至所述第
i
个子寄存器；所述从所述第三寄存器中读取所述处理后的信号的参数，包括：从所述第
i
个子寄存器中读取所述第
i
个采样时间点下的处理后的信号的参数
。12.
根...

【专利技术属性】
技术研发人员：高凯仑，曾超，单洋洋，王瑞娜，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：