【技术实现步骤摘要】
一种半导体晶片抛光材料及其制备方法
[0001]本申请涉及半导体制造
,特别是涉及一种半导体晶片抛光材料及其制备方法
。
技术介绍
[0002]化学机械抛光
(CMP)
是半导体行业的重要技术,在半导体晶片的制造过程中多次使用,是半导体晶片表面加工的关键技术,因此,抛光垫的质量和性能至关重要
。
在各个
CMP
过程中,抛光垫与抛光液一起以刨平的方式除去多余的材料以保持其平整度,因此要求抛光垫的材料具有足够的机械强度
、
耐介质
(
耐水解
、
耐高温油
)
性和耐久性,以保证抛光效果
。
[0003]现有抛光垫多为由多异氰酸酯与扩链剂
、
固化剂反应得到的聚氨酯材料,其中,扩链剂是关键助剂,能与带异氰酸酯功能基团的分子或分子链反应并使分子链扩展
、
分子量增大,扩链剂主要以二胺类物质和二醇类物质为主,传统二醇类扩链剂,例如乙二醇
、1,4
‑
丁二醇
、
一缩二乙二醇等,对聚氨酯产品性能提升有限,为普通型扩链剂,含刚性苯环的芳香族二胺
、
芳香族二醇相对地能更好地提升聚氨酯材料的性能,但现有聚氨酯材料的机械强度
、
耐热性
、
耐介质
、
耐磨性等性能仍有待进一步提升
。
技术实现思路
[0004]基于此,提供一种机械
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种半导体晶片抛光材料的制备方法,其特征在于,包括:步骤1,以任意次序分别制备第一组分
、
第二组分和第三组分;所述第一组分为异氰酸酯预聚物;所述第二组分为氨基封端聚酰胺酸,所述氨基封端聚酰胺酸的数均分子量为
6000
~
10000
;所述第三组分为功能填料和胺类固化剂的混合物;步骤2,将第一组分
、
第二组分
、
第三组分混合均匀后,浇注成型,经热处理得到所述半导体晶片抛光材料
。2.
根据权利要求1所述的半导体晶片抛光材料的制备方法,其特征在于,所述氨基封端聚酰胺酸由二酐与二胺反应得到,所述二酐和二胺中有且仅有一者具有芳香基团;所述二酐为均苯四甲酸二酐
、
环丁烷四甲酸二酐
、3,3',4,4'
‑
联苯四羧酸二酐
、1,2,3,4
‑
环戊烷四羧酸二酐
、3,3',4,4'
‑
二苯醚四羧酸二酐
、4,4'
‑
(4,4'
‑
异亚丙基二苯氧基
)
双
(
邻苯二甲酸酐
)、
双环
[2.2.2]
辛烷
‑
2,3,5,6
‑
四甲酸
2,3,5,6
‑
二酐
、
双环
[2.2.2]
辛
‑7‑
烯
‑
2,3,5,6
‑
四羧酸二酐的至少一种;所述二胺为乙二胺
、1,6
‑
己二胺
、
对苯二胺
、
邻苯二胺
、
间苯二胺
、4,4'
‑
二氨基二苯醚
、4,4'
‑
(9
‑
亚甲基
)
二苯胺
、2,2
‑
双
(4
‑
氨基苯基
)
丙烷
、4,4'
‑
二氨基二苯砜
、1,4
‑
双
(4
‑
氨基苯基
)
...
【专利技术属性】
技术研发人员:李云秀,
申请(专利权)人:上海宗易工贸有限公司,
类型:发明
国别省市:
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