一种配电箱绝缘性检验方法技术

本申请公开了一种配电箱绝缘性检验方法

【技术实现步骤摘要】
一种配电箱绝缘性检验方法、设备及介质


[0001]本专利技术涉及绝缘检测领域，具体涉及一种配电箱绝缘性检验方法
、
设备及介质
。

技术介绍

[0002]随着配电箱使用的不断增多，所出现的问题也越来越多，在诸多问题当中，配电箱局部放电问题作为一个主要问题制约着配电箱的使用，配电箱内部问题是绝缘缺陷的主要原因，当其内部局部放电产生时，放电电流可能会作用在绝缘部分，导致绝缘部分出现故障，现有的检验方法难以在检验过程中灵活的改变测试电压，并通过不同电压等级进行测试配电箱的击穿情况，现有的检验过程中无法精准的根据局部放电所发出的光来对放电产生气体进行详细分析，进而造成配电箱局部放电的大小以及可能对电力系统产生的干扰的误判断，影响配电箱的安全使用
。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提出一种配电箱绝缘性检验方法，包括以下步骤：
[0004]S1
，通过在配电箱两侧施加不同的测试电压，并获取对应的测试电流；
[0005]S2
，根据测试电压与对应的测试电流计算配电箱对地的绝缘阻值；
[0006]S3
，将绝缘阻值与预设的阈值进行比较，得到阻值偏差；
[0007]S4
，根据阻值偏差计算配电箱的绝缘信息与配电箱故障信息；
[0008]S5
，将绝缘信息与配电箱故障信息按照预定的方式传输至终端
。
[0009]进一步地，步骤
S1
中，通过在配电箱两侧施加不同的测试电压，并获取对应的测试电流，具体包括：
[0010]S11
，设定电压等级，并根据电压等级将测试电压分为对应等级的测试电压，并获取对应电压等级的测试电压值；
[0011]S12
，设定测试时间阈值，将同一电压等级的测试电压值施加在配电箱上，并计算测试时间；
[0012]S13
，当测试时间满足测试时间阈值时，改变电压等级，并调整测试电压值再次对配电箱进行施加测试电压；
[0013]S14
，获取不同等级的测试电压值对应的测试电流
。
[0014]进一步地，步骤
S41
中“获取不同等级的测试电压值对应的测试电流”之后，还包括：
[0015]S411
，获取不同等级的测试电压值对应的测试电流，将相邻等级的测试电压值的测试电流进行差值计算，得到电流差值；
[0016]S412
，将电流差值与预设的电流差进行比较；
[0017]S413
，若电流差值大于预设的电流差阈值，则生成电流阶跃信息，将生成电流阶跃信息的测试时间记为绝缘击穿时间；
[0018]S414
，若电流差值小于预设的电流差阈值，则调整测试电压等级
。
[0019]进一步地，步骤
S413
中，若电流差值大于预设的电流差阈值，则生成电流阶跃信息，将生成电流阶跃信息的测试时间记为绝缘击穿时间，具体包括：
[0020]根据电流阶跃信息生成绝缘击穿信息，根据绝缘击穿信息生成击穿光亮信息；
[0021]若出现多处击穿光亮，则将不同处的击穿光亮进行比较，并根据击穿光亮的亮度生成击穿位置；
[0022]根据不同的击穿光亮的亮度生成不同的击穿等级
。
[0023]进一步地，步骤
S4
中根据阻值偏差计算配电箱的绝缘信息与配电箱故障信息，具体为：
[0024]获取配电箱不同位置处的绝缘信息，并将绝缘信息输入预设的故障模型；
[0025]根据预设的故障模型输出故障信息，提取故障信息数据特征；
[0026]将故障信息数据特征与预设的特征进行比较，得到特征偏差率；
[0027]判断所述特征偏差率是否大于或等于预设的特征偏差率阈值；
[0028]若大于或等于，则生成第一故障类型；
[0029]若小于，则生成第二故障类型；
[0030]根据第一故障类型与第二故障类型分别生成不同的预警方式对配电箱绝缘性能进行预警
。
[0031]进一步地，获取配电箱的绝缘击穿信息与击穿亮度；
[0032]根据击穿信息生成对应的放电气体浓度信息；
[0033]将放电气体浓度信息与预设的浓度信息进行比较，得到浓度偏差率；
[0034]判断所述浓度偏差率是否大于等于预设的浓度偏差率阈值；
[0035]若大于或等于，则生成修正信息，根据修正信息对故障信息进行修正；
[0036]若小于，则根据放电气体浓度信息生成配电箱绝缘性能信息
。
[0037]本专利技术还提供一种配电箱绝缘性检验设备，包括处理器
、
存储器以及至少一个程序，所述程序被存储在所述存储器中，并被配置为由所述处理器执行，所述程序包括用于执行如上述任一项所述的配电箱绝缘性检验方法的指令
。
[0038]本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储计算机程序，所述计算机程序使得计算机执行以实现上述任一项所述的配电箱绝缘性检验方法
。
[0039]由于上述技术方案运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点：
[0040]本专利技术通过对配电箱进行施加测试电压并计算绝缘电阻，根据绝缘电阻进行分析配电箱是否出现电流击穿，从而精准的分析配电箱绝缘性能，提高绝缘检测的精度，此外在对配电箱进行绝缘校验过程中通过分析配电箱不同位置的击穿亮度以及击穿产生的气体浓度进行分析击穿等级与故障信息，从而提高检验精度
。
附图说明
[0041]图1显示了本专利技术实施例提供的配电箱绝缘性检验方法的流程示意图；
[0042]图2显示了本实施例提供的配电箱绝缘性检验方法的测试电流获取流程图；
[0043]图3显示了本实施例提供的配电箱绝缘性检验方法的测试电压等级调整方法流程图
。
具体实施方式
[0044]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例
。
基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围
。
[0045]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序
。
应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例
。
此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程
、
方法
、
系统
、
产品或设备不必本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种配电箱绝缘性检验方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1
，通过在配电箱两侧施加不同的测试电压，并获取对应的测试电流；
S2
，根据测试电压与对应的测试电流计算配电箱对地的绝缘阻值；
S3
，将绝缘阻值与预设的阈值进行比较，得到阻值偏差；
S4
，根据阻值偏差计算配电箱的绝缘信息与配电箱故障信息；
S5
，将绝缘信息与配电箱故障信息按照预定的方式传输至终端
。2.
如权利要求1所述的配电箱绝缘性检验方法，其特征在于，步骤
S1
中，通过在配电箱两侧施加不同的测试电压，并获取对应的测试电流，具体包括：
S11
，设定电压等级，并根据电压等级将测试电压分为对应等级的测试电压，并获取对应电压等级的测试电压值；
S12
，设定测试时间阈值，将同一电压等级的测试电压值施加在配电箱上，并计算测试时间；
S13
，当测试时间满足测试时间阈值时，改变电压等级，并调整测试电压值再次对配电箱进行施加测试电压；
S14
，获取不同等级的测试电压值对应的测试电流
。3.
如权利要求2所述的配电箱绝缘性检验方法，其特征在于，步骤
S41
中“获取不同等级的测试电压值对应的测试电流”之后，还包括：
S411
，获取不同等级的测试电压值对应的测试电流，将相邻等级的测试电压值的测试电流进行差值计算，得到电流差值；
S412
，将电流差值与预设的电流差进行比较；
S413
，若电流差值大于预设的电流差阈值，则生成电流阶跃信息，将生成电流阶跃信息的测试时间记为绝缘击穿时间；
S414
，若电流差值小于预设的电流差阈值，则调整测试电压等级
。4.
如权利要求3所述的配电箱绝...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄勇，赵星川，史建国，
申请(专利权)人：江苏镇德电力设备有限公司，
类型：发明
国别省市：