一种零件尺寸检测用比对仪及其应用方法技术

本发明专利技术公开了一种零件尺寸检测用比对仪及其应用方法，具体涉及比对仪技术领域，包括支撑架与底座，底座与支撑架之间设置有比对仪本体，比对仪本体与支撑架之间活动连接有若干个伸缩轴，本发明专利技术通过设置伸缩轴与直线电机，通过控制三个伸缩轴进行伸出或缩回，控制比对仪本体底部的探测探针触碰待测物的测试点，通过采集伸缩距离偏差系数

【技术实现步骤摘要】
一种零件尺寸检测用比对仪及其应用方法


[0001]本专利技术涉及比对仪
，更具体地说，本专利技术涉及一种零件尺寸检测用比对仪及其应用方法
。

技术介绍

[0002]比对仪，是一种检测工具或设备，通常用于检测
、
测量
、
校准或比对其他测量仪器的准确性和精度，比对仪通常包括一个已知精度和准确性的标准或参考仪器，以便将其他仪器的测量结果与之进行比较，并确定它们的准确性，比对仪在各种领域和应用中都有用途；现有的一种零件尺寸检测用比对仪，通过设置有伸缩轴与探测探针，利用若干个伸缩轴的伸缩，使探测探针接触到待测物，知道测试点的三维坐标，传给数据库和图纸比对，判断该待测物是否符合预期的标准
。
[0003]现有技术存在以下不足：然而，当该比对仪出现问题的时候，现有技术无法及时感知，该比对仪一直处于工作的状态，继续利用探测探针接触到待测物生成测试点的三维坐标，可能会导致原本符合预期的待测物因为比对仪的错误判断导致该待测物不能继续正常使用，造成一定的浪费，也可能会导致不能正常使用的待测物因为比对仪的错误判断导致该待测物继续正常使用，造成更大的误差与损失
。
[0004]为了解决上述缺陷，现提供一种技术方案
。

技术实现思路

[0005]为了克服现有技术的上述缺陷，本专利技术的实施例提供一种零件尺寸检测用比对仪及其应用方法以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种零件尺寸检测用比对仪，包括底座
、
安装在底座一侧的控制器以及安装在底座顶部的支撑架，所述底座与支撑架之间设置有比对仪本体，所述比对仪本体与支撑架之间活动连接有若干个伸缩轴，所述控制器控制伸缩轴伸缩使比对仪本体保持初始状态在底座顶部多自由度移动，其特征在于：还包括：移动距离信息采集模块：用于采集伸缩轴的实际伸缩距离；压力信息采集模块：安装在比对仪本体探测探针底部，用于探测探针与待测物体之间的压力，通过压力信息采集模块的反馈的信息确定一次测量完成
。
[0007]在一个优选地实施方式中，所述伸缩轴与支撑架连接处设置有轴套，所述伸缩轴分别贯穿设置在对应位置的轴套内，所述轴套与所述支撑架活动连接，所述轴套上安装有直线电机，所述直线电机驱动伸缩轴在对应位置的轴套内伸缩，所述比对仪本体活动连接在所述伸缩轴的底部
。
[0008]在一个优选地实施方式中，包括以下步骤：
S1、
获取控制器在
T
时间内控制伸缩轴移动若干次的预设距离，再通过移动距离信
息采集模块获取对应预设距离时的实际伸缩距离，通过
T
时间内获取的预设距离和实际伸缩距离计算伸缩距离偏差系数；
S2、
获取控制器在
T
时间内控制探测探针与待测物体之间的预设压力，再通过压力信息采集模块获取对应预设压力时的实际压力，通过
T
时间内获取的预设压力与实际压力计算探测探针压力偏差系数；
S3、
获取控制器在
T
时间内探测探针上传的数据，再通过监控系统获取总系统在
T
时间内探测探针上传的数据，通过
T
时间内获取的控制器内探测探针上传的数据与总系统内探测探针上传的数据计算比对仪本体数据传输与接收不稳定系数；
S4、
将伸缩距离偏差系数
、
探测探针压力偏差系数以及数据传输与接收不稳定系数传递至中央处理器进行综合分析，建立并计算测试点的影响系数
;S5、
将比对仪本体在运行时测得的若干个测试点的影响系数进行分析，建立评估系数，并将评估系数与预先设定的评估系数阈值进行对比，并根据对比结果控制整个比对仪本体的工作状态
。
[0009]在一个优选地实施方式中，
S1、
获取控制器在
T
时间内测试点的伸缩轴实际伸缩距离与预设的伸缩轴在测试点的伸缩距离将测试点的伸缩距离和对应预设的测试点的伸缩距离分别标定为和，
y
表示测试点的伸缩距离与预设的伸缩轴在测试点的伸缩距离的编号，
y=1、2、3、4、
……
、m
，
m
为正整数；
S2、
计算伸缩距离偏差系数，计算的表达式为：，式中，为伸缩距离偏差系数
。
[0010]在一个优选地实施方式中，所述探测探针压力偏差系数的获取逻辑为：
S1、
获取控制器在
T
时间内比对仪本体探测探针在进行检测时对测试点有效触碰的压力的范围，并将该范围标记为
,
且，
S2、
获取测试点的探测探针触碰压力，并将探测探针触碰压力标记为，
s
表示探测探针在不同的测试点的编号，
s=1、2、3、4、
……
、N
，
N
为正整数；
S3、
将在范围外的探测探针触碰压力记为
,j
为探测探针在不同的测试点的压力在范围外的编号，
j=1、2、3、4、
……
、n
，
n
为正整数；
S4、
计算探测探针压力偏差系数，计算的表达式为：，式中，为探测探针压力偏差系数
。
[0011]在一个优选地实施方式中，所述数据传输与接收不稳定系数的获取逻辑为：所述数据传输与接收不稳定系数的获取逻辑为：
S1、
获取
T
时间内探测探针在触碰测试点并上传至控制器的三维坐标数据，并将
T
时间内探测探针上传至控制器三维坐标数据标定为，
w
表示
T
时间内探测探针上传至控制器三维坐标数据的编号，
w=1、2、3、4、
……
、f
，
f
为正整数；
S2、
获取
T
时间内探测探针上传至总系统的测试点的三维坐标数据，并将
T
时间内探测探针上传至总系统的三维坐标数据标定为，
w
表示
T
时间内探测探针上传至总系统的三维坐标数据的编号，
w=1、2、3、4、
……
、f
，
f
为正整数；
S3、
计算数据传输与接收不稳定系数，计算的表达式为：其中，为数据传输与接收不稳定系数，为
T
时间内探测探针上传至总系统的三维坐标数据的平均值，获取的表达式为：；为
T
时间内探测探针上传至控制器三维坐标数据的平均值，获取的表达式为：
。
[0012]在一个优选地实施方式中，所述影响系数的表达式为：式中，为影响系数，
、、
分别为伸缩距离偏差系数
、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种零件尺寸检测用比对仪，包括底座（2）
、
安装在底座（2）一侧的控制器（8）以及安装在底座（2）顶部的支撑架（1），所述底座（2）与支撑架（1）之间设置有比对仪本体（3），所述比对仪本体（3）与支撑架（1）之间活动连接有若干个伸缩轴（4），所述控制器（8）控制伸缩轴（4）伸缩使比对仪本体（3）保持初始状态在底座（2）顶部多自由度移动，其特征在于：还包括：移动距离信息采集模块（5）：与若干个伸缩轴（4）对应设置，并且分别安装在对应位置的伸缩轴（4）上，用于采集伸缩轴（4）的实际伸缩距离；压力信息采集模块（9）：安装在比对仪本体（3）探测探针底部，用于探测探针与待测物体之间的压力，通过压力信息采集模块（9）的反馈的信息确定一次测量完成
。2.
根据权利要求1所述的一种零件尺寸检测用比对仪，其特征在于：所述伸缩轴（4）与支撑架（1）连接处设置有轴套（6），所述伸缩轴（4）分别贯穿设置在对应位置的轴套（6）内，所述轴套（6）与所述支撑架（1）活动连接，所述轴套（6）上安装有直线电机（7），所述直线电机（7）驱动伸缩轴（4）在对应位置的轴套（6）内伸缩，所述比对仪本体（3）活动连接在所述伸缩轴（4）的底部
。3.
一种零件尺寸检测用比对仪应用方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1、
获取控制器（
8)
在
T
时间内控制伸缩轴
(4)
移动若干次的预设距离，再通过移动距离信息采集模块
(5)
获取对应预设距离时的实际伸缩距离，通过
T
时间内获取的预设距离和实际伸缩距离计算伸缩距离偏差系数；
S2、
获取控制器（
8)
在
T
时间内控制探测探针与待测物体之间的预设压力，再通过压力信息采集模块
(9)
获取对应预设压力时的实际压力，通过
T
时间内获取的预设压力与实际压力计算探测探针压力偏差系数；
S3、
获取控制器（
8)
在
T
时间内探测探针上传的数据，再通过监控系统获取总系统在
T
时间内探测探针上传的数据，通过
T
时间内获取的控制器（8）内探测探针上传的数据与总系统内探测探针上传的数据计算比对仪本体（3）的数据传输与接收不稳定系数；
S4、
将伸缩距离偏差系数
、
探测探针压力偏差系数以及数据传输与接收不稳定系数传递至中央处理器进行综合分析，建立并计算测试点的影响系数
;S5、
将比对仪本体
(3)
在运行时测得的若干个测试点的影响系数进行分析，建立评估系数，并将评估系数与预先设定的评估系数阈值进行对比，并根据对比结果控制整个比对仪本体（3）的工作状态
。4.
根据权利要求3所述的一种零件尺寸检测用比对仪应用方法，其特征在于：所述伸缩距离偏差系数的获取逻辑为：
S1、
获取控制器
(8)
在
T
时间内测试点的伸缩轴
(4)
实际伸缩距离与预设的伸缩轴
(4)
在测试点的伸缩距离，将测试点的实际的伸缩距离和对应预设的测试点的伸缩距离分别标定为和，
y
表示测试点的伸缩距离与预设的伸缩轴
(4)
在测试点的伸缩距离的编号，
y=1、2、3、4、
……
、m
，
m
为正整数；
S2、
计算伸缩距离偏差系数，计算的表达式为：，式中，为伸缩距离偏差系数...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾海霞，
申请(专利权)人：深圳市艾姆克斯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：