存储器测试装置制造方法及图纸

提供了一种存储器测试装置，包括命令特征向量提取器和地址特征向量提取器。命令特征向量提取器基于多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令提取命令特征向量。地址特征向量提取器基于指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息提取地址特征向量。的位置的地址相关信息提取地址特征向量。的位置的地址相关信息提取地址特征向量。

【技术实现步骤摘要】
存储器测试装置
[0001]本申请要求于2022年6月13日提交到韩国知识产权局的第10
‑
2022
‑
0071200号韩国专利申请的优先权，所述韩国专利申请的公开通过引用全部包含于此。


[0002]本专利技术涉及存储器测试装置。

技术介绍

[0003]当存储器装置安装在主板或存储器板上时，安装测试可对存储器装置执行一个或多个测试。然而，存储器装置上的一些操作模式可导致存储器装置的故障。此外，这些操作模式在存储器装置之间可能不同。如果可避免这些模式，则可提高存储器装置的可靠性。然而，目前难以确定这些模式。

技术实现思路

[0004]本专利技术的至少一个实施例提供具有提高的存储器测试可靠性的存储器测试装置。
[0005]根据本专利技术构思的实施例，提供了一种存储器测试装置，包括命令特征向量提取器和地址特征向量提取器。命令特征向量提取器基于在多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令来提取命令特征向量。地址特征向量提取器基于指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息来提取地址特征向量。可使用命令特征向量和地址特征向量来确定存储器装置上的可导致故障或者缺陷的操作模式。
[0006]根据本专利技术构思的实施例，提供了一种存储器测试装置，包括：类别检测器，基于从多个存储器单元的工作负载序列生成的特征向量来将多个存储器单元的工作负载划分为已知工作负载和未知工作负载。工作负载序列包括在所述多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令以及指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息。
[0007]根据本专利技术构思的实施例，提供了一种存储器测试装置，包括特征向量提取器和类别检测器，其中，特征向量提取器包括命令特征向量提取器和地址特征向量提取器，命令特征向量提取器被配置为基于由多个存储器单元之中的存储器单元执行的命令来提取命令特征向量，地址特征向量提取器被配置为基于由所述命令访问的存储器单元的地址相关信息来提取地址特征向量，类别检测器基于包括命令特征向量和地址特征向量的特征向量将存储器单元的工作负载分类为已知工作负载和未知工作负载。
附图说明
[0008]通过参照附图详细描述本公开的示例性实施例，本公开的以上和其他方面和特征将变得更加清楚，其中：
[0009]图1是示出根据专利技术构思的示例性实施例的包括存储器测试装置的存储器测试系统的框图。
[0010]图2是示出根据专利技术构思的示例性实施例的存储器测试装置的框图。
[0011]图3是示出根据专利技术构思的示例性实施例的存储器测试装置的特征向量提取器的框图。
[0012]图4是用于解释存储器装置的示例性框图。
[0013]图5是用于解释存储器装置的存储体的示例性示图。
[0014]图6是用于描述工作负载序列的示例性表。
[0015]图7和图8是用于解释命令特征向量提取器的操作的示图。
[0016]图9是用于解释地址特征向量提取器的操作的示图。
[0017]图10是用于解释类别检测器的框图。
[0018]图11是用于解释接收已知特征向量的类别检测器的操作的流程图。
[0019]图12是用于解释接收未知特征向量的类别检测器的操作的流程图。
具体实施方式
[0020]参考具体实施方式中使用的诸如部件、单元、模块、块、
‑
器形式的术语描述的组件以及附图中示出的功能块可以以软件、硬件或它们的组合的形式实现。例如，软件可以是机器代码、固件、嵌入代码和应用软件。例如，硬件可包括电路、电子电路、处理器、计算机、集成电路、集成电路核心、压力传感器、惯性传感器、微机电系统(MEMS)、无源元件或它们的组合。
[0021]图1是示出根据专利技术构思的实施例的包括存储器测试装置的存储器测试系统的框图。
[0022]参照图1，存储器测试系统1包括存储器测试装置(或测试装置)10和存储装置20。
[0023]存储器测试装置10可检测存储装置20内的存储器装置的缺陷。在下文中，存储器装置将被描述为包括在由存储器测试装置10测试的存储装置20中。更具体地，存储器测试装置10可检测存储器装置内的有缺陷的存储器单元。
[0024]存储器测试装置10可执行用于检测存储器装置的缺陷的测试操作。例如，存储器测试装置10可执行用于区分存储器装置是否成功地执行各种操作(例如，写入操作或读取操作等)的测试操作。
[0025]存储器装置可以是包括易失性存储器单元的存储器装置。例如，存储器装置可以是由动态随机存取存储器(DRAM)构成的存储器装置。
[0026]存储器测试装置10可预先确保导致存储器装置中的故障的模式(例如，工作负载)以测试存储器装置。
[0027]存储器测试装置10需要区分导致存储器装置故障的模式是已知模式还是未知模式。也就是说，当存储器测试装置10确定导致存储器装置缺陷的模式是未知模式时，有必要将该模式分类为新模式。结果，可提高在存储器测试装置10测试存储器装置时执行的测试覆盖范围。
[0028]下面将详细描述存储器测试装置10的具体配置和操作。
[0029]图2是示出根据专利技术构思的示例性实施例的存储器测试装置的框图。
[0030]参照图2，根据实施例的存储器测试装置10包括特征向量提取器(或特征提取器)100和类别检测器130。在一个实施例中，特征向量提取器100由第一逻辑电路实现，并且类别检测器130由第二逻辑电路实现。在一个实施例中，存储器测试装置10包括处理器，特征
向量提取器100是第一计算机程序，类别检测器130是第二计算机程序，并且处理器被配置为执行第一计算机程序和第二计算机程序。在一个实施例中，存储器测试装置10包括处理器，并且特征向量提取器100和类别检测器130中的一个由逻辑电路实现，另一个由处理器执行的程序实现。
[0031]存储装置20的存储器装置中的存储器单元的工作负载被确定。特征向量提取器100基于工作负载生成特征向量(CMD_vec_ft和ADD_vec_ft)，并将特征向量(CMD_vec_ft和ADD_vec_ft)发送到类别检测器130。
[0032]类别检测器130基于从特征向量提取器100接收到的特征向量(CMD_vec_ft和ADD_vec_ft)来检测和区分存储器装置的工作负载的类别。
[0033]更具体地，类别检测器130可确定是将存储器装置的工作负载区分为已知类别还是未知类别。
[0034]下面将详细描述根据专利技术构思的示例性实施例的存储器测试装置的配置和操作。
[0035]图3是示出根据专利技术构思的示例性实施例的存储器测试装置的特征向量提取器的框图。
[0036]参照图3，特征向量提取器100包括命令特征向量提取器110和地址特征向量提取器120。
[0037]命令特征向量提取器110包括命令(CMD)字段提取器112(例如，逻辑电路或程序)和第一提取器114(例如，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器测试装置，包括：命令特征向量提取器，基于在多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令，提取命令特征向量；以及地址特征向量提取器，基于指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息，提取地址特征向量。2.根据权利要求1所述的存储器测试装置，其中，命令特征向量提取器包括：命令字段提取器，提取在所述多个存储器单元中的每个存储器单元上执行的所述命令，以及第一提取器，基于通过命令字段提取器提取的所述命令，提取所述命令特征向量。3.根据权利要求2所述的存储器测试装置，其中，第一提取器根据所述命令的类型指定不同数字以提取所述命令特征向量。4.根据权利要求2所述的存储器测试装置，其中，第一提取器使用n元语法模型提取所述命令特征向量，并且n是自然数。5.根据权利要求4所述的存储器测试装置，其中，第一提取器针对所述命令特征向量提取至少发生m次的命令的序列，其中，m是自然数。6.根据权利要求1至5中的任何一项所述的存储器测试装置，其中，地址特征向量提取器包括：地址字段提取器，提取与所述多个存储器单元相关联的所述地址相关信息，以及第二提取器，基于通过地址字段提取器提取的所述地址相关信息提取所述地址特征向量。7.根据权利要求6所述的存储器测试装置，其中，所述地址相关信息包括：排地址、所述排地址内的存储体组地址、所述存储体组地址内的存储体地址、以及所述存储体地址内的地址。8.根据权利要求7所述的存储器测试装置，其中，地址字段提取器将所述排地址、所述存储体组地址、所述存储体地址和所述地址定义为一个数字。9.根据权利要求6所述的存储器测试装置，其中，第二提取器将所述多个存储器单元划分为多个块，并基于对所述多个块中的每个块的访问次数进行计数的结果，生成所述多个块中的每个块的地址计数向量。10.根据权利要求9所述的存储器测试装置，其中，第二提取器基于所述地址计数向量提取所述地址特征向量。11.一种存储器测试装置，包括：类别检测器，基于从多个存储器单元的工作负载序列生成的特征向量，将所述多个存储器单元的工作负载划分为已知工作负载和未知工作负载，其中，所述工作负载序列包括在所述多个存储器单元之中的存储器单元上执行的命令以及指示执行所述命令的存储器单元的位置的地址相关信息。
12.根据权利要求11所述的存储器测试装置，其中，所述特征向量包括：基于所述工作负载序列的所述命令生成的命令特征向量，以及基于所述工作负载序列的所述地址相关信息生成的地址特征向量。13.根据权利要求12所述的存储器测试装置，其中，所述地址相关信息包括：排地址、所述排地址内的存储体组地址、所述存储体组地址内的存储体地址、以及所述存储体地址内的地址。14.根据权利要求11所述的存储器测试装置，其中，类别检测器包括：奇异值分解生成器，接收学习...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜釉，蔡秀炫，朴钟闵，章峻琪，李芝庸，沈秀姸，埃盖，
申请(专利权)人：首尔大学校产学协力团，
类型：发明
国别省市：