一种高精度半导体材料性能测试方法技术

本发明专利技术公开了一种高精度半导体材料性能测试方法，属于半导体测试技术领域，包括如下步骤：

【技术实现步骤摘要】
一种高精度半导体材料性能测试方法


[0001]本专利技术涉及半导体测试
，具体为一种高精度半导体材料性能测试方法
。

技术介绍

[0002]半导体在集成电路
、
消费电子
、
通信系统
、
光伏发电
、
照明
、
大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体发光二极管已经被广泛应用于指示灯
、
信号灯
、
仪表显示
、
手机背光源
、
车载光源等场合，照明领域的应用也越来越广泛，但是过去对于半导体发光二极管的测试没有较全面的标准，不同的研究机构对此争议较大，导致对
LED
产业的发展造成严重影响，半导体发光二极管的测试包括多个方面，例如电特性
、
光特性
、
开关特性等
。
目前在对半导体进行限位时，多数是通过人工手动限位调节的，手动调节限位不但麻烦，而且限位稳固性不佳，同时不能同时对多个半导体进行测试光电性能工作
。
[0003]公开号为
CN218241773U
的中国专利公开了一种半导体光电性能测试装置，属于测试装置领域，通过在安装座的内部滑动设置多个卡箍，卡箍的下端设置支撑杆，卡箍的内侧设置防护垫，方便卡接限位半导体，而卡箍通过伸缩杆自动推动移动复位，从而方便针脚滑动插接于插孔，方便与通电块接触，方便针脚通电进行光电性能测试工作/>。
但是上述专利在实际使用过程中存在以下缺陷：
[0004]不能对高精度半导体材料性能进行有效地测试及管理，导致高精度半导体材料性能测试效果差
。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种高精度半导体材料性能测试方法，可对高精度半导体材料性能进行有效地测试及管理，提升高精度半导体材料性能测试效果，解决了上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0007]一种高精度半导体材料性能测试方法，包括如下步骤：
[0008]S1
：通过半导体测试设备实时采集高精度半导体材料的电信号，且对实时采集的电信号进行放大
、
滤波
、
调制
、
解调
、
均衡及识别，确定出基于高精度半导体材料的半导体数据；
[0009]S2
：对半导体数据进行综合处理，基于高精度半导体材料性能测试需求，从确定的基于高精度半导体材料的半导体数据中完全提取出半导体数据，且对完全提取出的半导体数据进行检索
、
排序及计算，确定出基于高精度半导体材料的半导体表征数据；
[0010]S3
：对半导体表征数据进行性能测试，基于半导体表征数据，索引调用出与半导体表征数据相对应地性能测试参照数据，基于性能测试参照数据，对半导体表征数据进行分析评估，确定出基于高精度半导体材料的性能测试报告；
[0011]S4
：对高精度半导体材料性能测试进行管理，基于数据挖掘技术，对基于高精度半
导体材料的性能测试报告进行深入挖掘及分析，确定出基于高精度半导体材料的半导体性能测试管理策略，按照半导体性能测试管理策略对高精度半导体材料性能测试进行管理
。
[0012]优选的，所述
S1
中，对实时采集的电信号进行放大
、
滤波
、
调制
、
解调
、
均衡及识别，执行以下操作：
[0013]获取实时采集的高精度半导体材料的电信号；
[0014]基于信号放大器对电信号进行信号放大处理；
[0015]基于信号滤波器对电信号进行信号滤波处理，去除电信号内的噪声；
[0016]基于信号调制器对电信号进行信号调制处理，将低频数字信号调制到高频数字信号中，进行信号传输；
[0017]基于信号解调器对电信号进行信号解调处理，将调制在高频数字信号中的低频数字信号进行还原；
[0018]基于信号均衡器对电信号进行信号均衡处理，调节各种频率成分电信号放大量；
[0019]基于信号识别器对电信号进行信号识别处理，确定出基于高精度半导体材料的半导体数据
。
[0020]优选的，所述
S2
中，对半导体数据进行综合处理，执行以下操作：
[0021]获取基于高精度半导体材料的半导体数据；
[0022]基于高精度半导体材料性能测试需求；
[0023]从基于高精度半导体材料的半导体数据中完全提取出半导体数据；
[0024]基于顺序检索方法，对完全提取出的半导体数据进行检索；
[0025]过滤掉对高精度半导体材料性能测试无价值的半导体数据，确定出对高精度半导体材料性能测试有价值的半导体数据；
[0026]基于内部排序方法，对确定出的对高精度半导体材料性能测试有价值的半导体数据进行有效地排序；
[0027]确定出具有分布特征的半导体数据；
[0028]基于算术及逻辑运算，对具有分布特征的半导体数据进行计算；
[0029]确定出基于高精度半导体材料的半导体表征数据
。
[0030]优选的，所述
S3
中，对半导体表征数据进行性能测试，执行以下操作：
[0031]获取基于高精度半导体材料的半导体表征数据；
[0032]基于半导体表征数据，索引调用出与半导体表征数据相对应地性能测试参照数据；
[0033]基于性能测试参照数据，对半导体表征数据进行分析评估，确定出基于高精度半导体材料的性能测试报告；
[0034]针对半导体表征数据在性能测试参照数据范围内的情况，则确定出的基于高精度半导体材料的性能测试报告为高精度半导体材料性能测试合格；
[0035]针对半导体表征数据不在性能测试参照数据范围内的情况，则确定出的基于高精度半导体材料的性能测试报告为高精度半导体材料性能测试不合格
。
[0036]优选的，所述
S3
中，基于半导体表征数据，索引调用出与半导体表征数据相对应地性能测试参照数据，执行以下操作：
[0037]获取基于高精度半导体材料的半导体表征数据；
[0038]基于半导体表征数据，从存储的多种性能测试参照数据中逐一索引出单个的性能测试参照数据；
[0039]将索引的性能测试参照数据与半导体表征数据进行对比分析；
[0040]针对索引的性能测试参照数据与半导体表征数据相对应的情况，则将索引的性能测试参照数据调用出；
[0041]针对索引的性能测试参照数据与半导体表征数据不对应的情况，则从存储的多种性能测试参照数据中逐一索引出下一个的性能测试参照数据，且将索引出的下一个的性能测试参照数据与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种高精度半导体材料性能测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1
：通过半导体测试设备实时采集高精度半导体材料的电信号，且对实时采集的电信号进行放大
、
滤波
、
调制
、
解调
、
均衡及识别，确定出基于高精度半导体材料的半导体数据；
S2
：对半导体数据进行综合处理，基于高精度半导体材料性能测试需求，从确定的基于高精度半导体材料的半导体数据中完全提取出半导体数据，且对完全提取出的半导体数据进行检索
、
排序及计算，确定出基于高精度半导体材料的半导体表征数据；
S3
：对半导体表征数据进行性能测试，基于半导体表征数据，索引调用出与半导体表征数据相对应地性能测试参照数据，基于性能测试参照数据，对半导体表征数据进行分析评估，确定出基于高精度半导体材料的性能测试报告；
S4
：对高精度半导体材料性能测试进行管理，基于数据挖掘技术，对基于高精度半导体材料的性能测试报告进行深入挖掘及分析，确定出基于高精度半导体材料的半导体性能测试管理策略，按照半导体性能测试管理策略对高精度半导体材料性能测试进行管理
。2.
根据权利要求1所述的一种高精度半导体材料性能测试方法，其特征在于：所述
S1
中，对实时采集的电信号进行放大
、
滤波
、
调制
、
解调
、
均衡及识别，执行以下操作：获取实时采集的高精度半导体材料的电信号；基于信号放大器对电信号进行信号放大处理；基于信号滤波器对电信号进行信号滤波处理，去除电信号内的噪声；基于信号调制器对电信号进行信号调制处理，将低频数字信号调制到高频数字信号中，进行信号传输；基于信号解调器对电信号进行信号解调处理，将调制在高频数字信号中的低频数字信号进行还原；基于信号均衡器对电信号进行信号均衡处理，调节各种频率成分电信号放大量；基于信号识别器对电信号进行信号识别处理，确定出基于高精度半导体材料的半导体数据
。3.
根据权利要求2所述的一种高精度半导体材料性能测试方法，其特征在于：所述
S2
中，对半导体数据进行综合处理，执行以下操作：获取基于高精度半导体材料的半导体数据；基于高精度半导体材料性能测试需求；从基于高精度半导体材料的半导体数据中完全提取出半导体数据；基于顺序检索方法，对完全提取出的半导体数据进行检索；过滤掉对高精度半导体材料性能测试无价值的半导体数据，确定出对高精度半导体材料性能测试有价值的半导体数据；基于内部排序方法，对确定出的对高精度半导体材料性能测试有价值的半导体数据进行有效地排序；确定出具有分布特征的半导体数据；基于算术及逻辑运算，对具有分布特征的半导体数据进行计算；确定出基于高精度半导体材料的半导体表征数据
。4.
根据权利要求3所述的一种高精度半导体材料性能测试方法，其特征在于：所述
S3
中，对半导体表征数据进行性能测试，执行以下操作：
获取基于高精度半导体材料的半导体表征数据；基于半导体表征数据，索引调用出与半导体表征数据相对应地性能测试参照数据；基于性能测试参照数据，对半导体表征数据进行分析评估，确定出基于高精度半导体材料的性能测试报告；针对半导体表征数据在性能测试参照数据范围内的情况，则确定出的基于高精度半导体材料的性能测试报告为高精度半导体材料性能测试合格；针对半导体表征数据不在性能测试参照数据范围内的情况，则确定出的基于高精度半导体材料的性能测试报告为高精度半导体材料性能测试不合格
。5.
根据权利要求4所述的一种高精度半导体材料性能测试方法，其特征在于：所述
S3
中，基于半导体表征数据，索引调用出与半导体表征数据相对应地性能测试参照数据，执行以下操作：获取基于高精度半导体材料的半导体表征数据；基于半导体表征数据，从存储的多种性能测试参照数据中逐一索引出单个的性能测试参照数据；将索引的性能测试参照数据与半导...

【专利技术属性】
技术研发人员：周德金，刘君，缪智勇，
申请(专利权)人：清华大学无锡应用技术研究院，
类型：发明
国别省市：