区域光照分析方法技术

本公开提供了一种区域光照分析方法

【技术实现步骤摘要】
区域光照分析方法、装置、设备、介质和产品


[0001]本公开涉及光照分析领域，尤其涉及一种区域光照分析方法
、
装置
、
设备
、
介质和程序产品
。

技术介绍

[0002]建筑行业随着城市化的推进而不断发展，长久以来建筑设计行业是研究的重点，而建筑选址领域相对研究不足
。
对于一个宜居的建筑物，需要考虑采光
、
日照以及通风等多方面因素，现在一般的建筑设计大多只通过建筑物结构设计来提升建筑物的居住条件
。
但是，地形起伏会引起光照条件变化，尤其在地形区域剧烈的区域，建筑物位置的选择极大地影响其光照条件，从而决定了此建筑物的居住条件
。
[0003]现有针对区域光照分析较为缺乏，同时对建筑物的光照条件设计大多仅考虑建筑物结构设计对建筑物光照条件的影响
。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题，本公开提供了一种区域光照分析方法
、
装置
、
设备
、
介质和程序产品
。
[0005]根据本公开的第一个方面，提供了一种区域光照分析方法，包括：
[0006]确定覆盖目标区域的数字高程模型
DEM
数据；
[0007]对所述目标区域的待分析时间范围进行离散采样，得到至少一个离散采样时刻；
[0008]基于所述
DEM
数据，确定所述目标区域在每个所述离散采样时刻的光照分布情况图
。
[0009]根据本公开实施例，所述方法还包括：
[0010]利用所述光照分布情况图，确定待选址建筑物的选址位置
。
[0011]根据本公开实施例，所述基于所述
DEM
数据，确定所述目标区域在每个所述离散采样时刻的光照分布情况图包括：
[0012]将所述目标区域按照一定空间间隔采样为多个离散空间点位；
[0013]对于每个所述离散采样时刻，计算在所述离散采样时刻时各所述离散空间点位的太阳方位角和太阳高度角；
[0014]从所述
DEM
数据中取出第一数据，所述第一数据为从所述离散空间点位开始沿着所述太阳方位角方向直线上的
DEM
数据；
[0015]依次计算各所述第一数据与起始点所形成的地形高度角；
[0016]在所述直线上所有所述地形高度角均小于所述太阳高度角的情况下，确定在所述离散采样时刻时所述离散空间点位上的光照值为第一值，所述第一值表示有光照；
[0017]按照空间坐标形式，保存在每个所述离散采样时刻时各所述离散空间点位上的光照值，得到所述光照分布图
。
[0018]根据本公开实施例，所述太阳方位角为以所述离散空间点位的北方向为起始方
向，以太阳光的入射方向为终止方向，在地平面内按顺时针方向所测量的角度；
[0019]所述太阳高度角为太阳光入射到所述离散空间点位的入射方向和地平面之间的夹角
。
[0020]根据本公开实施例，所述对所述目标区域的待分析时间范围进行离散采样，得到至少一个离散采样时刻包括：
[0021]将所述待分析时间范围按照等时间时刻划分为所述至少一个离散采样时刻
。
[0022]根据本公开实施例，所述利用所述光照分布情况图，确定待选址建筑物的选址位置包括：
[0023]在所述光照分布情况图中，选取光照值满足预设条件的位置；
[0024]将所述满足预设条件的位置在所述目标区域中所对应的区域，作为所述建筑物的建设位置
。
[0025]本公开的第二方面提供了一种区域光照分析装置，包括：
[0026]DEM
数据确定模块，用于确定覆盖目标区域的数字高程模型
DEM
数据；
[0027]采样模块，用于对所述目标区域的待分析时间范围进行离散采样，得到至少一个离散采样时刻；
[0028]图确定模块，用于基于所述
DEM
数据，确定所述目标区域在每个所述离散采样时刻的光照分布情况图
。
[0029]本公开的第三方面提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，用于存储一个或多个程序，其中，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得一个或多个处理器执行上述方法
。
[0030]本公开的第四方面还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有可执行指令，该指令被处理器执行时使处理器执行上述方法
。
[0031]本公开的第五方面还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法
。
[0032]根据本公开提供的区域光照分析方法
、
装置
、
设备
、
介质和程序产
。
一方面基于数字化地形数据和太阳照射角度，可以分析全球任意地区全年以及各季度的光照条件，而不需要人工现场核查记录，计算结果客观准确，且节省大量人工费用，另一方面，结合地理信息技术可实现大区域光照条件建筑物选址，具有覆盖范围广
、
计算效率高等优势
。
附图说明
[0033]通过以下参照附图对本公开实施例的描述，本公开的上述内容以及其他目的
、
特征和优点将更为清楚，在附图中：
[0034]图1示意性示出了根据本公开实施例的区域光照分析方法的流程图；
[0035]图2示意性示出了根据本公开实施例的太阳方位角和太阳高度角空间关系的示意图；
[0036]图3示意性示出了根据本公开实施例的区域光照分析装置的结构框图；以及
[0037]图4示意性示出了根据本公开实施例的适于实现区域光照分析方法的电子设备的方框图
。
具体实施方式
[0038]以下，将参照附图来描述本公开的实施例
。
但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本公开的范围
。
在下面的详细描述中，为便于解释，阐述了许多具体的细节以提供对本公开实施例的全面理解
。
然而，明显地，一个或多个实施例在没有这些具体细节的情况下也可以被实施
。
此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本公开的概念
。
[0039]在此使用的术语仅仅是为了描述具体实施例，而并非意在限制本公开
。
在此使用的术语“包括”、“包含”等表明了所述特征
、
步骤
、
操作和
/
或部件的存在，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征
、
步骤
、
操作或部件
。
[0040]在此使用的所有术语
(
包括技术和科学术语<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种区域光照分析方法，包括：确定覆盖目标区域的数字高程模型
DEM
数据；对所述目标区域的待分析时间范围进行离散采样，得到至少一个离散采样时刻；基于所述
DEM
数据，确定所述目标区域在每个所述离散采样时刻的光照分布情况图
。2.
根据权利要求1所述的区域光照分析方法，所述方法还包括：利用所述光照分布情况图，确定待选址建筑物的选址位置
。3.
根据权利要求1或2所述的区域光照分析方法，所述基于所述
DEM
数据，确定所述目标区域在每个所述离散采样时刻的光照分布情况图包括：将所述目标区域按照一定空间间隔采样为多个离散空间点位；对于每个所述离散采样时刻，计算在所述离散采样时刻时各所述离散空间点位的太阳方位角和太阳高度角；从所述
DEM
数据中取出第一数据，所述第一数据为从所述离散空间点位开始沿着所述太阳方位角方向直线上的
DEM
数据；依次计算各所述第一数据与起始点所形成的地形高度角；在所述直线上所有所述地形高度角均小于所述太阳高度角的情况下，确定在所述离散采样时刻时所述离散空间点位上的光照值为第一值，所述第一值表示有光照；按照空间坐标形式，保存在每个所述离散采样时刻时各所述离散空间点位上的光照值，得到所述光照分布图
。4.
根据权利要求3所述的区域光照分析方法，所述太阳方位角为以所述离散空间点位的北方向为起始方向，以太阳光的入射方向为终止方向，在地平面内按顺时针方向所测量的角度；所述太阳高度角为太阳光入射到所述离散空间点位的入...

【专利技术属性】
技术研发人员：王峰，胡玉新，刘方坚，
申请(专利权)人：中国科学院空天信息创新研究院，
类型：发明
国别省市：