一种光电传感器抗干扰的方法和光电传感器技术

本发明专利技术提供一种光电传感器抗干扰的方法和光电传感器，包括光电传感器控制发光器发光并接收检测光信号，光电传感器控制发光器不发光并接收检测光信号，用所述发光器发光时接收的检测光信号减去发光器不发光时接收的检测光信号，作为所述光电传感器最终的检测光信号，去除其他光源的干扰；该方法不用考虑其他干扰光源的频率，通过控制发光器放光和不发光检测光信号，将检测结果作差值就可以很好的过滤到自然光的干扰，简单高效

【技术实现步骤摘要】
一种光电传感器抗干扰的方法和光电传感器


[0001]本专利技术涉及光电检测
，特别涉及一种光电传感器抗干扰的方法和光电传感器
。

技术介绍

[0002]光电传感器的干扰主要来自于自环境光，光接收器在接收到反射光的同时，还会接收到各种环境光
。
现有的技术中往往通过控制不同光电传感器的发光频率的方法滤除自然光的干扰，这类方式需要光接收器识别各种环境光，然后再过滤掉各种频段的环境光，光接收器单元电路的设计变得很复杂
。
[0003]同时，环境光具有多样和变化不稳定的特性，会影响到光电传感器检测结果的稳定性和准确度
。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种光电传感器抗干扰的方法和光电传感器，旨在简单有效的的过滤掉环境光的干扰
。
[0005]第一方面，本专利技术提出一种光电传感器抗干扰的方法，包括：
[0006]光电传感器控制发光器发光并接收检测光信号；
[0007]光电传感器控制发光器不发光并接收检测光信号；
[0008]用所述发光器发光时接收的检测光信号减去发光器不发光时接收的检测光信号，作为所述光电传感器最终的检测光信号，去除其他光源的干扰
。
[0009]在其中一个实施例中，所述光电传感器控制发光器发光并接收检测光信号，光电传感器控制发光器不发光并接收检测光信号具体为，
[0010]光电传感器发出连续的脉冲控制信号，若所述脉冲控制信号为高电平，控制所述发光器发光，若所述脉冲信号为低电平，控制所述发光器不发光；
[0011]接收多次发光器发光的检测光信号和发光器不发光的检测光信号，用所述发光器发光的检测光信号减去发光器不发光的检测光信号，得到多个差信号；
[0012]滤除所述多个差信号中的若干最大值和最小值，对剩下的差信号取平均，得到平均值
。
[0013]在其中一个实施例中，所述滤除所述多个差信号中的最大值和最小值，对剩下的差信号取平均，得到平均值之后，还包括：
[0014]所述光电传感器持续发出连续的脉冲控制信号，得到多个所述平均值；
[0015]若多个所述平均值均在预设信号幅值范围内，判断所述光电传感器检测到了挡光物，若有一个平均值不在预设信号幅值范围内，判断所述光电传感器没有检测到挡光物
。
[0016]在其中一个实施例中，将得到多个平均值对应的连续的脉冲控制信号作为一次检测周期
。
[0017]第二方面，本专利技术提出一种光电传感器，包括：
[0018]控制模块，用于控制发光器发光和不发光；
[0019]光接收器，连接至所述控制模块，用于接收发光器发光时的检测光信号，以及发光器不发光时的检测光信号；
[0020]抗干扰处理模块，连接至所述光接收器，用于用所述发光器发光时接收的检测光信号减去发光器不发光时接收的检测光信号，作为所述光电传感器最终的检测光信号，去除其他光源的干扰
。
[0021]在其中一个实施例中，还包括模数转换模块，连接在所述光接收器和抗干扰处理模块之间，用于将所述光接收器接收到的检测光信号从模拟信号转换为数字信号，并发送给抗干扰处理模块进行处理
。
[0022]在其中一个实施例中，所述控制模块还用于，发出连续的脉冲控制信号，若所述脉冲控制信号为高电平，控制所述发光器发光，若所述脉冲信号为低电平，控制所述发光器不发光，所述抗干扰处理模块包括：
[0023]求差模块，包括减法器，用于在每个脉冲周期，用所述发光器发光时接收的检测光信号减去发光器不发光时接收的检测光信号，得到1个差信号，持续连续的脉冲周期得到多个差信号；
[0024]比较模块，包括多个比较器，用于对所述多个差值信号进行比较排序，筛选出多个差信号中的若干最大值和最小值；
[0025]均值计算模块，用于对剩下的差信号取平均，得到平均值
。
[0026]在其中一个实施例中，所述控制模块还用于，持续发出连续的脉冲控制信号，得到多个平均值，所述抗干扰处理模块还包括：
[0027]判断模块，包括多个比较器，用于比较每个平均值与预设信号幅值范围的最大值和最小值的大小，若所述多个平均值均在预设信号幅值范围内，判断所述光电传感器检测到了挡光物，若有一个平均值不在预设信号幅值范围内，判断所述光电传感器没有检测到挡光物
。
[0028]在其中一个实施例中，所述光电传感器还包括寄存器，连接所述模数转换模块，用于存储经模数转换模块转换后得到的数字检测光信号
。
[0029]在其中一个实施例中，所述光电传感器还包括：
[0030]输出模块，用于将最终遮挡物的检测结果进行输出
。
[0031]本专利技术一种光电传感器抗干扰的方法和光电传感器，包括光电传感器控制发光器发光并接收检测光信号，光电传感器控制发光器不发光并接收检测光信号，用所述发光器发光时接收的检测光信号减去发光器不发光时接收的检测光信号，作为所述光电传感器最终的检测光信号，去除其他光源的干扰；该方法不用考虑其他干扰光源的频率，通过控制发光器放光和不发光检测光信号，将检测结果作差值就可以很好的过滤到环境光的干扰，简单高效
。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，下面描述中的附图仅为本专利技术的部分实施例相应的附图，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其
他实施例的附图
。
[0033]图1为本专利技术其中一个实施例中，光电传感器抗干扰的方法的方法流程图；
[0034]图2为本专利技术其中一个实施例中，光电传感器的结构示意图；
[0035]图3为本专利技术另一个实施例中，光电传感器的结构示意图；
[0036]图4为本专利技术其中一个实施例中，求差模块的电路结构示意图；
[0037]图5为本专利技术其中一个实施例中，比较模块的电路结构示意图；
[0038]图6为本专利技术另一个实施例中，比较模块的电路结构示意图；
[0039]图7为本专利技术其中一个实施例中，均值计算模块的电路结构示意图
。
具体实施方式
[0040]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围
。
[0041]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同
。
[0042]参见图1和图2，一种光电传感器抗干扰的方法，在其中一个实施例中，包括：
[0043]步骤
S1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光电传感器抗干扰的方法，其特征在于，包括：光电传感器控制发光器发光并接收检测光信号；光电传感器控制发光器不发光并接收检测光信号；用所述发光器发光时接收的检测光信号减去发光器不发光时接收的检测光信号，作为所述光电传感器最终的检测光信号，去除其他光源的干扰
。2.
根据权利要求1所述的光电传感器抗干扰的方法，其特征在于，所述光电传感器控制发光器发光并接收检测光信号，光电传感器控制发光器不发光并接收检测光信号具体为，光电传感器发出连续的脉冲控制信号，若所述脉冲控制信号为高电平，控制所述发光器发光，若所述脉冲信号为低电平，控制所述发光器不发光；接收多次发光器发光的检测光信号和发光器不发光的检测光信号，用所述发光器发光的检测光信号减去发光器不发光的检测光信号，得到多个差信号；滤除所述多个差信号中的若干最大值和最小值，对剩下的差信号取平均，得到平均值
。3.
根据权利要求2所述的光电传感器抗干扰的方法，其特征在于，所述滤除所述多个差信号中的最大值和最小值，对剩下的差信号取平均，得到平均值之后，还包括：所述光电传感器持续发出连续的脉冲控制信号，得到多个所述平均值；若多个所述平均值均在预设信号幅值范围内，判断所述光电传感器检测到了挡光物，若有一个平均值不在预设信号幅值范围内，判断所述光电传感器没有检测到挡光物
。4.
根据权利要求3所述的光电传感器抗干扰的方法，其特征在于，将得到多个平均值对应的连续的脉冲控制信号作为一次检测周期
。5.
一种光电传感器，其特征在于，包括：控制模块，用于控制发光器发光和不发光；光接收器，连接至所述控制模块，用于接收发光器发光时的检测光信号，以及发光器不发光时的检测光信号；抗干扰处理模块，连接至所述光接收器，用于用所述发光器发光时接收的检测光信号减去发光器不发光时...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓明，滕远道，唐旗，邓畅景，刘煜峰，吴思凯，王晨宇，黄佩，
申请(专利权)人：深圳市曙芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：