【技术实现步骤摘要】
一种基于X射线的抗干扰型涂层测厚装置
[0001]本专利技术涉及测厚装置
,具体为一种基于
X
射线的抗干扰型涂层测厚装置
。
技术介绍
[0002]涂层测厚装置包括
、
接收检测头,通过用户操作终端对测厚装置进行控制,上设置有若干个测量探头,可以在0‑
50℃
环境下对
3um
‑
5mm
厚的涂层进行测量,应用范围有:
PC/PMMA
膜
、
无纺布
、
光学膜
、
铜箔
、PI
膜
、PET
膜和
PVB
膜
。
[0003]x
射线测厚仪的工作原理是基于
x
射线在物体中的衰减规律,从
X
射线管打发出
x
射线,当
x
射线通过物体时,会受到物体中原子的散射和吸收作用,从而导致射线的强度降低,接收检测头接收到强度降低的射线
。
仪器壳体内部的计算模块根据
x
射线的衰减规律,可以通过测量射线通过物体前后的强度差,推算出物体的厚度
。
[0004]反复测量会使得
X
射线管温度变高,导致电子束的能量损失增加,从而影响到
X
射线的输出功率和质量,对射线发生器效果的干扰,常见的使用鼓风机直接朝向
X
射线管进行吹风降温,气流导致 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种基于
X
射线的抗干扰型涂层测厚装置,其特征在于,包括:
O
型架(1),对装置进行支撑,所述
O
型架(1)外侧设有控制器(2),用于对本装置进行控制,所述
O
型架(1)顶端通过支撑架(3)设有鼓风机(4);所述
O
型架(1)顶部的壳体(5)内设有计算模块,所述壳体(5)底部设有
X
射线管(6),用于向下发出
X
射线,所述
O
型架(1)底部设有接收检测头(7),用于接收
X
射线;所述壳体(5)底部连接有若干散热盖(8),若干散热盖(8)闭合形成散热腔(9)和伸缩腔(
10
),相邻两个所述散热盖(8)之间通过若干连接件(
11
)相连接;所述散热腔(9)连接有散热机构,用于引导鼓风机(4)产生的气流到达散热腔(9)内;所述计算模块与所述控制器(2)电连接,所述散热盖(8)对称设有两个,所述壳体(5)底部内壁对称设有定位槽(
12
),所述散热盖(8)内壁设有定位块(
13
),所述定位块(
13
)与所述定位槽(
12
)插接,所述接收检测头(7)位于所述散热腔(9)的中心处,所述散热腔(9)为环形,所述散热腔(9)套设在所述接收检测头(7)外壁,用于限制冷气流环绕在接收检测头(7)外壁;所述连接件(
11
)包括转轴(
14
)
、
定位座(
15
)
、
弧面一(
16
)
、
弧面二(
17
)
、
弧块一(
18
)和弧块二(
19
),左侧所述散热盖(8)外壁转动设有若干转轴(
14
),右侧所述散热盖(8)外壁设有若干定位座(
15
),所述转轴(
14
)外壁通过搭扣(
28
)与所述定位座(
15
)的定位槽(
12
)插接,所述定位座(
15
)底部两侧分别设有弧面一(
16
)和弧面二(
17
),搭扣(
28
)外壁设有弧块一(
18
)和弧块二(
19
),所述弧面一(
16
)
、
所述弧面二(
17
)
、
所述弧块一(
18
)和所述弧块二(
19
)的圆心重合,所述弧块一(
18
)和所述弧块二(
19
)的间距等于所述定位座(
15
)底部的宽度,用于对搭扣(
28
)的位置进行限制,避免两个散热盖(8)之间出现间隙,所述弧块一(
18
)与所述弧面一(
16
)滑动连接,所述弧块二(
19
)与所述弧面二(
17
)滑动连接;所述散热机构包括集风罩(
20
)
、
过滤网(
21
)
、
导流管(
22
)
、
半导体制冷片(
23
)
、
集水箱(
24
)
、
排水管(
25
)
、
斜流腔(...
【专利技术属性】
技术研发人员:肖文科,范国军,曾群芳,李成新,
申请(专利权)人:玻尔兹曼广州科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。