一种显示屏异物分层检测装置制造方法及图纸

本申请公开了一种显示屏异物分层检测装置

【技术实现步骤摘要】
一种显示屏异物分层检测装置、方法、电子设备和介质


[0001]本申请实施例涉及显示屏异物检测领域，尤其涉及一种显示屏异物分层检测装置
、
方法
、
电子设备和介质
。

技术介绍

[0002]随着科技不断发展，各类设备不断更新迭代，显示屏作为设备的显示组件之一，被运用在各占高端设备上，例如手机
、
电视
、
平板电脑等
。
而随着人们对画面显示的要求不断提高，显示屏逐渐成为技术精密的产品
。
[0003]现有技术中，显示屏并不是由单一层组成，而是通常由若干层组成，要求越高的显示屏层数也随之增加，例如
OLED
显示模组由上往下一般包括
CG
层
(
盖板玻璃
)、OCA
层
(
光学胶
)、POL
层
(
偏光片
)、PANEL
层
(
像素层
)、SF
层
(
支撑膜
)、TU
层
(
复合胶带
)
等
。
这些不同的层次结构在组装贴合成形的工艺工程中，有时不可避免地会在其中夹入了异物，异物包括尘埃
、
碎屑等，以此形成显示屏缺陷，即夹层异物缺陷
。
这种夹层异物缺陷会不同程度上降低显示屏产品的显示质量，会影响消费者的视觉感受和使用体验
。
因此有效地检出夹层异物并对其进行分层定位至关重要
。
[0004]随着自动光学检测
(Automatic Optic Inspection
，
AOI)
技术的发展，针对显示屏异物检测提出了很多成熟的自动检测方法，但是这些方法往往聚焦于检测显示屏中是否存在异物，而鲜有涉及进一步地对检测到的异物进行自动分层定位
。
事实上对异物缺陷的分层定位仍然依赖有经验的技术人员通过肉眼或者是借助显微镜观察显示屏中的异物进而判断出异物在哪一层，这种方法存在检测成本高
、
效率低
、
主观性强
、
对检测技术人员的经验和技能要求较高等不足，导致了显示屏异物检测的准确性下降的问题
。

技术实现思路

[0005]本申请公开了一种显示屏异物分层检测装置
、
方法
、
电子设备和介质，用于提高显示屏异物检测的准确性
。
[0006]本申请第一方面提供了一种显示屏异物分层检测装置，包括：
[0007]工业成像组件
、
压接治具
、PG
信号发生器
、
运动控制板
、
三轴精密位移控制装置
、
图像处理工作站和操控台；
[0008]工业成像组件包括大视野检测成像组件和小视野分层定位成像组件，大视野检测成像组件固定于放置待检测显示屏的平台上方；
[0009]图像处理工作站包括
PG
控制卡
、
运动控制卡
、GigE
图像获取接口和人工控制接口；
[0010]图像处理工作站通过
PG
控制卡与
PG
信号发生器连接；
[0011]图像处理工作站通过运动控制卡与运动控制板连接；
[0012]图像处理工作站通过
GigE
图像获取接口与大视野检测成像组件和小视野分层定位成像组件连接；
[0013]图像处理工作站通过人工控制接口与操控台连接，操控台包括鼠标
、
键盘和显示
器；
[0014]压接治具与
PG
信号发生器连接，压接治具用于对待检测显示屏进行压接，
PG
信号发生器用于点亮待检测显示屏；
[0015]三轴精密位移控制装置包括高精度的
XYZ
平台和三轴驱动器，高精度
XYZ
平台与小视野分层定位成像组件连接，高精度
XYZ
平台和三轴驱动器连接；
[0016]运动控制板与三轴驱动器连接
。
[0017]本申请第二方面提供了一种显示屏异物分层检测方法，包括：
[0018]对工业成像组件进行标定处理，获取内参数
、
畸变系数和系统空间坐标转换矩阵，工业成像组件包括大视野检测成像组件和小视野分层定位成像组件，内参数和畸变系数用于对采集的并且存在畸变的图像进行畸变校正；
[0019]使用压接装置对待检测显示屏进行压接处理，并使用
PG
信号发生器点亮待检测显示屏；
[0020]通过大视野检测成像组件进行图像采集，并将采集的图像结合内参数
、
畸变系数输入图像处理工作站分析，获取第一分析结果；
[0021]当第一分析结果显示待检测显示屏中存在异物时，确定异物在大视野检测成像组件采集的图像中的异物特征参数，异物特征参数包含异物坐标和异物面积；
[0022]通过异物特征参数和系统空间坐标转换矩阵控制高精度
XYZ
平台的
X
轴和
Y
轴运动，以使得小视野分层定位成像组件移动到异物所在位置的正上方；
[0023]根据待检测显示屏确定采集间隔；
[0024]按照采集间隔控制高精度
XYZ
平台的
Z
轴，并控制小视野分层定位成像组件进行图像采集；
[0025]将小视野分层定位成像组件采集到的图像输入图像处理工作站分析，通过采集间隔生成分层定位结果
。
[0026]可选的，对工业成像组件进行标定处理，获取内参数
、
畸变系数和系统空间坐标转换矩阵，包括：
[0027]使用张正友标定方法对大视野检测成像组件和小视野分层定位成像组件进行相机畸变参数标定，生成两个成像组件的内参数
、
畸变系数；
[0028]对大视野检测成像组件和小视野分层定位成像组件进行空间坐标转换关系标定，生成系统空间坐标转换矩阵
。
[0029]可选的，对大视野检测成像组件和小视野分层定位成像组件进行空间坐标转换关系标定，生成系统空间坐标转换矩阵，包括：
[0030]生成一张标定
pattern
图像，标定
pattern
图像的分辨率与待检测显示屏的分辨率一致，标定
pattern
图像上设置有9个
mark
标记点；
[0031]使用压接装置对标定显示屏进行压接处理，根据标定
pattern
图像并使用
PG
信号发生器点亮标定显示屏；
[0032]通过大视野检测成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种显示屏异物分层检测装置，其特征在于，包括工业成像组件
、
压接治具
、PG
信号发生器
、
运动控制板
、
三轴精密位移控制装置
、
图像处理工作站和操控台；所述工业成像组件包括大视野检测成像组件和小视野分层定位成像组件，所述大视野检测成像组件固定于放置待检测显示屏的平台上方；所述图像处理工作站包括
PG
控制卡
、
运动控制卡
、GigE
图像获取接口和人工控制接口；所述图像处理工作站通过所述
PG
控制卡与所述
PG
信号发生器连接；所述图像处理工作站通过所述运动控制卡与所述运动控制板连接；所述图像处理工作站通过所述
GigE
图像获取接口与所述大视野检测成像组件和所述小视野分层定位成像组件连接；所述图像处理工作站通过所述人工控制接口与所述操控台连接，所述操控台包括鼠标
、
键盘和显示器；所述压接治具与所述
PG
信号发生器连接，所述压接治具用于对待检测显示屏进行压接，所述
PG
信号发生器用于点亮待检测显示屏；所述三轴精密位移控制装置包括高精度的
XYZ
平台和三轴驱动器，所述高精度
XYZ
平台与所述小视野分层定位成像组件连接，所述高精度
XYZ
平台和所述三轴驱动器连接，所述；所述运动控制板与所述三轴驱动器连接
。2.
根据权利要求1中显示屏异物分层检测装置的异物分层检测方法，其特征在于，包括：对工业成像组件进行标定处理，获取内参数
、
畸变系数和系统空间坐标转换矩阵，所述工业成像组件包括大视野检测成像组件和小视野分层定位成像组件，所述内参数和所述畸变系数用于对采集的并且存在畸变的图像进行畸变校正；使用压接装置对待检测显示屏进行压接处理，并使用
PG
信号发生器点亮待检测显示屏；通过所述大视野检测成像组件进行图像采集，并将采集的图像结合内参数
、
畸变系数输入图像处理工作站分析，获取第一分析结果；当所述第一分析结果显示待检测显示屏中存在异物时，确定异物在所述大视野检测成像组件采集的图像中的异物特征参数，所述异物特征参数包含异物坐标和异物面积；通过所述异物特征参数和所述系统空间坐标转换矩阵控制高精度
XYZ
平台的
X
轴和
Y
轴运动，以使得所述小视野分层定位成像组件移动到异物所在位置的正上方；根据所述待检测显示屏确定采集间隔；按照所述采集间隔控制所述高精度
XYZ
平台的
Z
轴，并控制所述小视野分层定位成像组件进行图像采集；将所述小视野分层定位成像组件采集到的图像输入图像处理工作站分析，通过所述采集间隔生成分层定位结果
。3.
根据权利要求2所述的异物分层检测方法，其特征在于，所述对工业成像组件进行标定处理，获取内参数
、
畸变系数和系统空间坐标转换矩阵，包括：使用张正友标定方法对所述大视野检测成像组件和所述小视野分层定位成像组件进行相机畸变参数标定，生成两个成像组件的内参数
、
畸变系数；对所述大视野检测成像组件和所述小视野分层定位成像组件进行空间坐标转换关系
标定，生成系统空间坐标转换矩阵
。4.
根据权利要求3所述的异物分层检测方法，其特征在于，所述对所述大视野检测成像组件和所述小视野分层定位成像组件进行空间坐标转换关系标定，生成系统空间坐标转换矩阵，包括：生成一张标定
pattern
图像，所述标定
pattern
图像的分辨率与所述待检测显示屏的分辨率一致，所述标定
pattern
图像上设置有9个
mark
标记点；使用压接装置对标定显示屏进行压接处理，根据所述标定
pattern
图像并使用
PG
信号发生器点亮所述标定显示屏；通过所述大视野检测成像组件进行图像采集，并将采集的图像输入图像处理工作站分析，获取第二分析结果；根据所述大视野检测成像组件的内参数
、
畸变系数以及所述第二分析结果确定9个
mark
标记点在所述大视野检测成像组件采集图像中的中心坐标；控制高精度
XYZ
平台的
X
轴和
Y
轴运动，以使得所述小视野分层定位成像组件移动到第一个
mark
标记点的所在位置的正上方；记录所述小视野分层定位成像组件的视野中心与第一个
Mark
标记点重合时
X
轴
、Y
轴的移动脉冲量，并移动到下一个
mark
标...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡亮，杨硕，张滨，
申请(专利权)人：深圳精智达技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：