一种致密气藏差气层气井产气量的预测方法技术

本发明专利技术涉一种致密气藏差气层气井产气量的预测方法，属于气田开发研究技术领域

【技术实现步骤摘要】
一种致密气藏差气层气井产气量的预测方法


[0001]本专利技术涉一种致密气藏差气层气井产气量的预测方法，属于气田开发研究

。

技术介绍

[0002]随着开发程度不断推进，气田开发程度越来越高，剩余未开发地区地质条件逐渐变差，通过新井开展老区挖潜难度越来越大，开展老井措施是保持气田稳产的一种重要手段，但由于前期对储层品质较好的Ⅰ类气层开展加密调整，剩余能措施作业的Ⅰ类气层越来越少，措施作业难度增大，不能满足气田长期稳产，因此剩余的Ⅱ类差气层是下步措施作业的重点
。
现有技术中，申请公布号为
CN108661631A
中国专利文献公开了一种产量预测方法，根据原始地层压力
、
井底流压和日产量构建待分析页岩气井的拟压力规整化产量函数；根据拟压力规整化产量函数，基于产量确定双对数图版绘制函数，根据双对数图版绘制函数绘制拟压力规整化产量双对数图版；对拟压力规整化产量双对数图版进行拟合，并根据双对数图版拟合结果进行产量与压力历史拟合，确定出待分析页岩气井的相关参数；基于预设页岩气井产量预测模型，根据待分析页岩气井的相关参数，确定预测产量
。
但该方法不能实现致密气藏差气层气井产量快速预测，无法指导致密气藏老井具有产气潜力储层的有效挖潜
。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种致密气藏差气层气井产气量的预测方法，可以指导老井具有产气潜力储层的有效挖潜
。
[0004]为了实现以上目的，本专利技术所采用的技术方案是：
[0005]一种致密气藏差气层气井产气量的预测方法，包括以下步骤：
[0006]1)
根据矿场不同气层厚度的致密气藏的
I
类气层的产气量测试数据，构建致密气藏
I
类气层的气层厚度与测试产气量之间的对应关系；
[0007]根据矿场测试数据，建立致密气藏每米厚度的
I
类气层的产量与致密气藏每米厚度的的Ⅱ类差气层的产量的关系；所述致密气藏的
I
类气层
、
致密气藏的
II
类差气层根据测井解释结果对所述致密气藏的储层进行分类得到；
[0008]2)
根据致密气藏的
I
类气层的气层厚度与测试产气量之间的对应关系以及致密气藏每米厚度的
I
类气层的产量与致密气藏每米厚度的Ⅱ类差气层的产量之间的关系，结合致密气藏的Ⅱ类差气层和致密气藏的
I
类气层相同天然气体积的气层厚度关系，构建致密气藏的Ⅱ类差气层的气层厚度与产气量之间的关系，进而根据致密气藏气井的Ⅱ类差气层的厚度对致密气藏气井的Ⅱ类差气层的产气量进行预测
。
[0009]本专利技术的致密气藏差气层气井产气量的预测方法，能够解决已有老井中剩余未动用储层含气性相对较差，但具有产气潜力的储层不能有效挖潜的难题，在气田老井措施挖潜具有很好的指导意义
。
[0010]进一步地，步骤
2)
中，构建的致密气藏的
I
类气层的气层厚度与测试产气量之间的对应关系如式1所示：
[0011]q
g1
＝
A
×
H
g1
+B
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(
式
1)
；
[0012]式1中，
q
g1
为致密气藏的
I
类气层的测试产气量，万方
/
天；
H
g1
为致密气藏的
I
类气层的气层厚度，
m
；
A
和
B
为关于致密气藏的常数
。
[0013]根据矿场测试数据，通过交汇图版可得到致密气藏每米厚度的
I
类气层的产量与致密气藏每米厚度的
II
类差气层的产量的关系，如式2所示：
[0014]q
g11
＝
α
×
q
g21
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(
式
2)
；
[0015]式2中，
q
g11
为致密气藏每米厚度的
I
类气层的测试产气量，万方
/
天；
q
g21
为致密气藏每米厚度的
II
类差气层的测试产气量，万方
/
天；
α
为同层位致密气藏每米厚度的
I
类气层产量与致密气藏每米厚度的
II
类差气层产量相关系数
。
[0016]进一步地，步骤
2)
中，根据式1和式2构建所述致密气藏的
II
类差气层的厚度与产气量之间的关系，如式3所示：
[0017][0018]式3中，
q
g2
为致密气藏的
II
类差气层的产气量，万方
/
天；
H
g2
为致密气藏的
II
类差气层的气层厚度，
m
；
φ1为致密气藏的
I
类气层的孔隙度，％；
S
g1
为致密气藏的
I
类气层的含气饱和度，％；为致密气藏的
II
类差气层的孔隙度，％；
S
g2
为致密气藏的
II
类差气层的含气饱和度，％；
A
和
B
为关于致密气藏的常数，
α
为同层位致密气藏每米厚度的
I
类气层产量与致密气藏每米厚度的
II
类差气层产量相关系数
。
[0019]单位体积中天然气含气量按公式
(4)
计算：
[0020]V
g
＝
A
g
·
H
g
·
φ
·
S
g
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(
式
4)
[0021]式4中：
[0022]V
g
——
天然气体积，
m3；
[0023]A
g
——
含气面积，
m2；
[0024]H
g
——
气层厚度，
m
；
[0025]φ
——
孔隙度，％；
[0026]S
g
——
含气饱和度，％；
[0027]根据
I
类气层与...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种致密气藏差气层气井产气量的预测方法，其特征在于：包括以下步骤：
1)
根据矿场不同气层厚度的致密气藏的
I
类气层的产气量测试数据，构建致密气藏的
I
类气层的气层厚度与测试产气量之间的对应关系；根据矿场测试数据，建立致密气藏每米厚度的
I
类气层的产量与致密气藏每米厚度的Ⅱ类差气层的产量的关系；所述致密气藏的
I
类气层
、
致密气藏的
II
类差气层是将所述致密气藏的储层根据测井解释结果进行分类得到；
2)
根据致密气藏的
I
类气层的气层厚度与测试产气量之间的对应关系以及致密气藏每米厚度的
I
类气层的产量与致密气藏每米厚度的Ⅱ类差气层的产量之间的关系，结合致密气藏的Ⅱ类差气层和致密气藏的
I
类气层相同天然气体积的气层厚度关系，构建致密气藏的Ⅱ类差气层的气层厚度与产气量之间的关系，进而根据致密气藏气井的Ⅱ类差气层的厚度对致密气藏气井的Ⅱ类差气层的产气量进行预测
。2.
根据权利要求1所述的致密气藏差气层气井产气量的预测方法，其特征在于：步骤
2)
中，构建的致密气藏的
I
类气层的气层厚度与测试产气量之间的对应关系如式1所示：
q
g1
＝
A
×
H
g1
+B
ꢀꢀꢀ
(
式
1)
；式1中，
q
g1
为致密气藏的
I
类气层的测试产气量，万方
/
天；
H
g1
为致密气藏的
I
类气层的气层厚度，
m
；
A
和
B
为关于致密气藏的常数
。3.
根据权利要求2所述的致密气藏差气层气井产气量的预测方法，其特征在于：根据矿场测试数据，通过交汇图版可得到致密气藏每米厚度的
I
类气层的产量与致密气藏每米厚度的
II
类差气层的产量的关系，如式2所示：
q
g11

【专利技术属性】
技术研发人员：雷涛，刘林松，崔璐，任广磊，郭颖，崔梦迪，唐明远，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司华北油气分公司，
类型：发明
国别省市：