【技术实现步骤摘要】
一种基于交流工频耐压试验的多板卡多通道同步采集技术
[0001]本专利技术涉及变电设备交流工频耐压试验
,尤其涉及一种基于交流工频耐压试验的多板卡多通道同步采集技术
。
技术介绍
[0002]交流耐压试验是鉴定电气设备绝缘强度最直接的方法,它对于判断电气设备能否投入运行具有决定性的意义,也是保证设备绝缘水平
、
避免发生绝缘事故的重要手段
。
因为交流耐压试验能充分反映电气设备在交流电压下运行时的实际情况,能真实有效地发现绝缘缺陷
。
交流耐压试验是破坏性试验
。
在试验之前必须对被试品先进行绝缘电阻
、
吸收比
、
泄漏电流
、
介质损失角等项目的试验,若试验结果正常方能进行交流耐压试验,若发现设备绝缘情况不良,通常应先进行处理后再做耐压试验,避免造成不应有的绝缘击穿
。
技术实现思路
[0003]为了解决现有技术的不足,本专利技术的目的是提供一种灵活性高
、
可拓展能力强的基于交流工频耐压试验的多板卡多通道同步采集技术
。
[0004]为解决上述技术问题,本专利技术提供的技术方案为:
[0005]一种基于交流工频耐压试验的多板卡多通道同步采集技术,包括以下步骤:
[0006]S1、
采用2块4通道信号采集板来验证多板卡的数据同步采集技术,每块4通道信号采集板由高速
AD
芯片和现场可编程逻辑器件 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种基于交流工频耐压试验的多板卡多通道同步采集技术,其特征在于,包括以下步骤:
S1、
采用2块4通道信号采集板来验证多板卡的数据同步采集技术,每块4通道信号采集板由高速
AD
芯片和现场可编程逻辑器件
FPGA
组成,其中
AD
芯片将外部中频信号转换成数字信号后供给
FPGA
内进行预处理,
FPGA
再将预处理结果传输给下一级目标单元;
S2、
采用其中一块
AD
芯片作为主板发出控制信号以及时钟基准信号到另一块作为从板的
AD
芯片;
S3、
采用
JESD204B
技术实现多通道
AD
芯片的延迟和同步采集,
AD
芯片运行时产生
SYSREF
信号,
SYSREF
的值可由式
(1)
确定,式
(1)
中
fBITRATE
为
JESD204B
传输中串化器
/
解串器的位速率,
K
为每个多帧的帧数,
F
为每帧的8位字数,
n
为任意正整数,
S4、
对主板而言,板上采集时钟以及处理时钟均是由主板上
LMK04828
时钟芯片产生,所有时钟都具有固定的相位关系,对从板而言,板上采集时钟以及处理时钟均是由从板上
LMK04828
时钟芯片产生,所有时钟都具有固定的相位关系,同时,从板上
LMK04828
时钟芯片接收主板上
LMK04828
时钟芯片产生的时钟信号以及触发信号,进而从板上
LMK04828
时钟芯片和主板上
LMK04828
时钟芯片所产生的时钟也具有固定的相位关系,最终,两块板卡上的所有时钟均具有固定的相位关系,实现工频耐压试验电流电压的多板卡多通道同步采集
。2.
根据权利要求1所述的一种基于交流工频耐压试验的多板卡多通道同步采集技术,其特征在于:所述
S1
中信号采集通道数为4路;同时监测4路电流和4路电压
(
交流0‑
250V)...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙俭军,郭田田,朱剑峰,郜林林,王鹏宇,吴中辉,丁华霏,董军,郭久红,蒋立潇,
申请(专利权)人:国网山东省电力公司临清市供电公司,
类型:发明
国别省市:
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