【技术实现步骤摘要】
砷化镓异质结双极晶体管及其制作方法
[0001]本专利技术属于半导体
,具体地讲,涉及一种砷化镓异质结双极晶体管及其制作方法
。
技术介绍
[0002]砷化镓
(GaAs)
异质结双极晶体管
(HeterojunctionBipolarTransistor
,
HBT)
具有功率密度高
、
增益高
、
相位噪声低
、
线性度好
、
芯片面积小和制造成本低等优点,广泛应用于移动电话
、
光通讯系统
、
雷达系统的射频器件中
。
在一个传统的
GaAs HBT
的结构包括半绝缘
GaAs
衬底,
N
型
GaAs
亚集电区,
N
型
GaAs
集电区,
P
型
GaAs
基区,
N
型
GaInP
发 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.
一种砷化镓异质结双极晶体管,其特征在于,所述砷化镓异质结双极晶体管的基区采用
P
型的
GaAsSb
或
InGaAs
材料,所述砷化镓异质结双极晶体管的发射区采用
N
型的
GaInP
材料,其中,在
N
型的
GaInP
材料中,
Ga
组分大于
51
%
。2.
根据权利要求1所述的砷化镓异质结双极晶体管,其特征在于,所述砷化镓异质结双极晶体管还包括衬底
、
亚集电区
、
集电区
、
发射区盖层
、
接触层
、
集电区电极
、
基区电极以及发射区电极;其中,所述亚集电区
、
所述集电区
、
所述基区
、
所述发射区
、
所述发射区盖层
、
所述接触层依序层叠设置在所述衬底上,所述集电区电极与所述亚集电区接触,所述基区电极与所述基区接触,所述发射区电极与所述接触层接触
。3.
根据权利要求2所述的砷化镓异质结双极晶体管,其特征在于,所述衬底为半绝缘
GaAs
;和
/
或,所述亚集电区为
N
型
GaAs
;和
/
或,所述集电区为
N
型
GaAs
;和
/
或,所述发射区盖层为
N
型
GaAs
;和
/
或,所述接触层为
N
型
InGaAs
;和
/
或,所述集电区电极为
AuGe
;和
/
或,所述基区电极为
Ti/Pt/Au
的组合;和
/
或,所述发射区电极为
AuGe。4.
根据权利要求1至3任一项所述的砷化镓异质结双极晶体管,其特征在于,当所述基区采用
P
型的
GaAsSb
材料时,所述发射区中的
Ga
组分为
57
%
。5.
根据权利要求1至3任一项所述的砷化镓异质结双极晶体管,其特征在于,当所述基区采用
P
型的
InGaAs
材料时,所述发射区中的
Ga
组分为
61
%
。6.
一种砷化镓异质结双极晶体管的制作方法,其特征在于,包括:提供一衬底;依序在所述衬底上形成层叠的亚集电区
技术研发人员:黄勇,
申请(专利权)人:苏州晶歌半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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