【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种电器测试设备上的接线柱
技术介绍
各类电子电器、仪表生产出来后，经常需要对其进行检测，避免不合格产品流出市 场。例如电表，通常在测试时，将测试仪的接线柱插入电表的接线端子中，接线端子包括中 间的插孔和插孔中的螺丝，接线柱的接触头与螺丝接触实现电接触。可以想像，其接触完全 靠螺丝的螺纹线和接触头端面来实现，接触面相当小，在高电流通过时会发热，发热会导致 产品被烧坏。为了避免烧坏，又需要相应的设备对接触点的温度进行测量，当温度过高时撤 掉，待降温后再进行测试。为了加大接触面积，一般是将接触头端面设计成凹弧面，呈V形， 但即便这样，螺丝与接触头的也是线接触，接触面积还是很小，不可避免高温情况的发生。
技术实现思路
本技术是要解决以上技术问题而提供一种有效加大接线柱与接线端子的接 触面积的结构改良的接线柱。为了达到本技术目的，本技术提供的这种电器测试用接线柱结构改良， 包括接线柱，接线柱的接触头端面呈V形，其特征在于所述V形端面底部至接线柱中部设 有通槽，将接线柱上部分成两部分。在接触柱抵住接线端子的螺丝后继续施力，接线柱会向 两边张开并与接线端子内壁有效接触，达到增大接触面积的目的。接线柱中部设有通孔，通孔与通槽连通，通孔直径大于通槽宽度。此设计可以减小 张开接线柱所需的作用力。接线柱端部外侧设有倒角。利用此倒角，在接线柱张开后，倒角面与接线端子内壁 的面接触，增大了有效接触面。本技术结构简单，只是对现有的接柱结构稍加改良，即达到面面接触的目的， 接触良好，不会发生接触点发热的现象，保证了检测的正常进行，保护了检测设备及产品的 安全，减少了发热检查的环...
【技术保护点】
一种电器测试用接线柱结构改良，包括接线柱，接线柱的接触头端面呈Ｖ形，其特征在于：所述Ｖ形端面底部至接线柱中部设有通槽，将接线柱上部分成两部分。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄孝明，
申请(专利权)人：深圳市新松科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]
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