一种锡膏检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种锡膏检测装置，包括机架，机架上设置有进料皮带；位移驱动机构，包括两个X轴位移组件和一个Y轴位移组件，Y轴位移组件设置在两个X轴位移组件之间，X轴位移组件设置在机架上，且位于进料皮带的上方；光源组件，包括第一光源和第二光源，第一光源的一端设置在Y轴位移组件上，另一端沿X轴方向滑动连接机架，第二光源设置在第一光源上。如此设置，通过X轴位移组件和Y轴位移组件相配合，使光源组件可以在PCB板的上方进行位置调整，以达到最佳检测位置，同时通过白光与红绿蓝三色光结合，计算出面积和高度，进而计算出体积，完成对锡膏印刷质量的检测，提高检测的准确性。提高检测的准确性。提高检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种锡膏检测装置


[0001]本技术涉及电池生产
，特别涉及一种锡膏检测装置。

技术介绍

[0002]电路板在制作过程中，通常需要印刷锡膏，常见的有芯片封装。而锡膏的印刷质量直接影响整个电路板质量，锡膏的印刷质量差将导致电路接触不良，因此，需要对锡膏的印刷质量进行检测。
[0003]现有技术中，一般是先通过多色光照射被测物体(锡膏)，并摄取图片，然后对图片抽取的灰阶运算，对被测物体进行面积计算；其次，通过白光照射被测物体，并摄取图片，采用PMP测高原理对被测物体的高度进行测量；最后，计算出被测物体的体积，进而检测被测物体的印刷质量。然而，由LED灯的特性决定，LED中心发光点亮度总是超过周边光晕亮度很多。因此，采用直射方式会造成被测物体中心与周边的光亮度均匀性很差，即被测物体中心光强度大，而被测物体的周边轮廓光强度小，甚至不被照亮，不利于图片抽取的灰阶运算，测量准确性不高。同时，白光直射在被测物体上，无法对被测物体的高度进行测量。同时现有的测量仪器一般都是固定式，待测量的PCB板移动至测量仪器下方进行测试，灯光照射位置容易出现偏差不能准确测量。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种锡膏检测装置，通过白光和三色光结合进行测量，同时可以调整检测位置，以保证检测的准确性。
[0005]根据本技术的实施例的一种锡膏检测装置，包括：
[0006]机架，所述机架上设置有进料皮带，所述进料皮带用于上传PCB板；
[0007]位移驱动机构，包括两个X轴位移组件和一个Y轴位移组件，所述Y轴位移组件设置在两个所述X轴位移组件之间，所述X轴位移组件设置在所述机架上，且位于所述进料皮带的上方；
[0008]光源组件，包括发射红、蓝、绿三色光的第一光源和发射白光的第二光源，所述第一光源的一端设置在所述Y轴位移组件上，另一端沿X轴方向滑动连接所述机架，第二光源设置在所述第一光源上，所述第二光源和所述第一光源所射出的光线汇聚在所述第一光源的中轴线上，且位于所述第一光源的下方。
[0009]根据本技术的实施例的一种锡膏检测装置，至少具有如下有益效果：通过X轴位移组件和Y轴位移组件相配合，使光源组件可以在PCB板的上方进行位置调整，以达到最佳检测位置，同时通过白光与红绿蓝三色光结合，计算出面积和高度，进而计算出体积，完成对锡膏印刷质量的检测，提高检测的准确性。
[0010]根据本技术的一些实施例，所述第二光源倾斜设置在所述第一光源上，所述第二光源的倾斜角度设置为15
‑
20度。
[0011]根据本技术的一些实施例，所述X轴位移组件包括滑块、支撑架，所述机架上沿X轴方向设置有匹配所述滑块的滑轨，所述支撑架的两端分别设置在两个所述滑块上，所述滑块由气缸驱动，所述Y轴位移组件设置在所述支撑架上。
[0012]根据本技术的一些实施例，所述Y轴位移组件包括支架、丝杆、两台驱动电机，所述支架设置在所述支撑架上，所述支架的两端分别设置所述驱动电机，两台所述驱动电机之间通过所述丝杆连接，所述第一光源滑动连接所述丝杆。
[0013]根据本技术的一些实施例，所述光源组件还包括安装架，所述第一光源设置在所述安装架上，所述安装架的一端固定设置在所述支架上，另一端滑动连接在所述机架上。
[0014]根据本技术的一些实施例，还包括外罩，所述机架、所述光源组件以及所述位移驱动机构均设置在所述外罩中，所述外罩上铰接有可打开/关闭的保护罩。
[0015]根据本技术的一些实施例，所述外罩上设置有显示屏，所述显示屏用于显示实时检测结果。
[0016]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0017]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0018]图1为本技术的一种锡膏检测装置的结构示意图。
[0019]机架100，进料皮带110，滑轨120；
[0020]光源组件200，第一光源210，第二光源220，安装架230；
[0021]位移驱动机构300，X轴位移组件310，滑块311，支撑架312，Y轴位移组件320，支架321，丝杆322，驱动电机323。
具体实施方式
[0022]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0023]在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0024]在本技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0025]本技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理
解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
[0026]参照图1，根据本技术的实施例的一种锡膏检测装置，包括机架100，机架100，在机架100上设置有至少一条进料皮带110，用于上传待检测的PCB板以及将完成检测的PCB板送至下一工序，在本实施例中，进料皮带110沿X轴方向布置有两条，可以交替上料进行检测，在进料皮带110的上方设置有位移驱动机构300，位移驱动机构300包括两个X轴位移组件310和Y轴位移组件320，Y轴位移组件320活动连接在两个X轴位移组件310之间，X轴位移组件310活动连接在机架100上，光源组件200安装在Y轴位移组件320上，光源组件200包括安装在Y轴位移组件320上的第一光源210和安装在第一光源210上的第二光源220，其中第一光源210可以发射红、蓝、绿三色光，第二光源发射白光，且第一光源210的一端连接在Y轴位移组件上，另一端活动连接在机架100上，第二光源220和第一光源210所发射出的光线汇聚在第一光源210的中轴线上，且位于第一光源210的下方。
[0027]根据本技术的实施例的一种锡膏检测装置，至少具有如下有益效果：通过X轴位移组件310和Y轴位移组件320相配合，使光源组件200可以在PCB板的上方进行位置调整，以达到最佳检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种锡膏检测装置，其特征在于，包括：机架，所述机架上设置有进料皮带，所述进料皮带用于上传PCB板；位移驱动机构，包括两个X轴位移组件和一个Y轴位移组件，所述Y轴位移组件设置在两个所述X轴位移组件之间，所述X轴位移组件设置在所述机架上，且位于所述进料皮带的上方；光源组件，包括发射红、蓝、绿三色光的第一光源和发射白光的第二光源，所述第一光源的一端设置在所述Y轴位移组件上，另一端沿X轴方向滑动连接所述机架，第二光源设置在所述第一光源上，所述第二光源和所述第一光源所射出的光线汇聚在所述第一光源的中轴线上，且位于所述第一光源的下方。2.根据权利要求1所述的一种锡膏检测装置，其特征在于，所述第二光源倾斜设置在所述第一光源上，所述第二光源的倾斜角度设置为15
‑
20度。3.根据权利要求1所述的一种锡膏检测装置，其特征在于，所述X轴位移组件包括滑块、支撑架，所述机架上沿X轴方向设置有匹配所述滑...

【专利技术属性】
技术研发人员：王长伟，
申请(专利权)人：珠海市鹏森电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：