一种适用于BUCK型DC-DC芯片的零电流检测电路制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路设计技术领域，特别是一种适用于BUCK型DC

【技术实现步骤摘要】
一种适用于BUCK型DC
‑
DC芯片的零电流检测电路


[0001]本技术涉及集成电路设计
，特别是一种适用于BUCK型DC
‑
DC芯片的零电流检测电路。

技术介绍

[0002]零电流检测电路是一种电路，用于检测电路中的电流是否为零。它通常用于保护电路或设备，以防止电流过大或过小而导致损坏或故障，通常由一个差分放大器和一个比较器组成。差分放大器用于放大电路中的电流信号，而比较器用于将放大后的信号与一个参考电压进行比较。如果放大后的信号与参考电压相等，则电路中的电流为零，其可以应用于各种不同的电路和设备中，例如电机控制器、电源管理器、电池充电器等。它可以提高电路和设备的可靠性和安全性，减少故障和损坏的发生。
[0003]零电流检测电路通常采用电压比较器将采样到的电感电流信号转换为电压信号与参考阈值电压比较。但是，现有技术中存在零电流检测信号不准确，容易产生不必要损耗的问题。

技术实现思路

[0004]本模块的目的在于概述本技术的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本模块以及本申请的说明书摘要和技术名称中可能会做些简化或省略以避免使本模块、说明书摘要和技术名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本技术的范围。
[0005]鉴于上述或现有技术中存在零电流检测信号不准确，容易产生不必要损耗的问题，提出本技术。
[0006]因此，本技术的目的是提供一种适用于BUCK型DC
‑
DC芯片的零电流检测电路。
[0007]为解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路，包括，信号接收模块，包括第一反相器以及第二反相器，第一反相器输出端与第二反相器输入端相连接；电压采样模块，包括第一开关管、第二开关管以及采样电容，所述第二开关管的发射极与第一开关管的发射极相连，所述第二开关管的集电极与采样电容一侧极板相连；电压比较模块，包括第二功率管以及传输门，所述第二功率管与传输门相并联，所述第二功率管的基极与采样电容一侧极板相连。
[0008]作为本技术一种适用于BUCK型DC
‑
DC芯片的零电流检测电路的一种优选方案，其中：第一反相器的输出端及第二反相器的输入端之间输出第一传输信号，第二反相器输出端输出第二传输信号。
[0009]作为本技术一种适用于BUCK型DC
‑
DC芯片的零电流检测电路的一种优选方案，其中：电压采样模块还包括第三反相器以及第三开关管，第三反相器与第一开关管相并联，第三反相器输出端与第三开关管的基极相连接，第三开关管发射极接地。
[0010]作为本技术一种适用于BUCK型DC
‑
DC芯片的零电流检测电路的一种优选方
案，其中：电压采样模块还包括第四开关管，第四开关管集电极与第一开关管的发射极相接，且发射极接地。
[0011]作为本技术一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的一种优选方案，其中：电压比较模块还包括第五开关管以及第六开关管，第五开关管与第六开关管相并联，第五开关管和第六开关管的集电极均与第二功率管的发射极相连接，且二者发射极皆接地。
[0012]作为本技术一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的一种优选方案，其中：第一传输信号分别传输至第四开关管的基极、第五开关管的基极以及传输门的第一输入端相连接。
[0013]作为本技术一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的一种优选方案，其中：第二传输信号分别传输至第二开关管的基极、第六开关管的基极以及传输门的第二输入端相连接。
[0014]作为本技术一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的一种优选方案，其中：电压比较模块还包括第三功率管，所述第三功率管的基极与第二功率管的集电极相连接，其集电极与输出端相接，其发射极接地。
[0015]作为本技术一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的一种优选方案，其中：信号接收模块还包括第一功率管，所述第一功率管的发射极接地，其集电极输送功率开关电流至BUCK拓扑中开关节点SW。
[0016]作为本技术一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的一种优选方案，其中：第一功率管基极输入的驱动信号Q与第一反相器输入端接收信号相反。
[0017]本技术的有益效果：该ZCD电路不需要使用电压比较器，仅需要通过电容和MOSFET采样开关节点SW的电压信号即可对变换器的过零点进行判断，且可以根据驱动电路的信号延时调整过零检测点，使驱动芯片提前发出关断信号，抵消延时产生的误差。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。其中：
[0019]图1为一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的整体电路图。
[0020]图2为一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的整体架构图。
[0021]图3为一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路的信号接收模块流程图。
[0022]图4为一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路在DCM模式下的关键节点波形。
具体实施方式
[0023]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合说明书附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。
[0024]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是本实用新
型还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似推广，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0025]其次，此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本技术至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本说明书中不同地方出现的“在一个实施例中”并非均指同一个实施例，也不是单独的或选择性的与其他实施例互相排斥的实施例。
[0026]实施例1
[0027]参照图1，为本技术第一个实施例，该实施例提供了一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路，能实现过零检测准确、输出电压稳定效果，其包括信号接收模块100，包括第一反相器101以及第二反相器102，第一反相器101输出端与第二反相器102输入端相连接；电压采样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路，其特征在于：包括，信号接收模块(100)，包括第一反相器(101)以及第二反相器(102)，第一反相器(101)输出端与第二反相器(102)输入端相连接；电压采样模块(200)，包括第一开关管(201)、第二开关管(202)以及采样电容(203)，所述第二开关管(202)的发射极与第一开关管(201)的发射极相连，所述第二开关管(202)的集电极与采样电容(203)一侧极板相连；电压比较模块(300)，包括第二功率管(301)以及传输门(302)，所述第二功率管(301)与传输门(302)相并联，所述第二功率管(301)的基极与采样电容(203)一侧极板相连。2.如权利要求1所述的适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路，其特征在于：所述第一反相器(101)的输出端及第二反相器(102)的输入端之间输出第一传输信号(Φ)，所述第二反相器(102)输出端输出第二传输信号(Φ')。3.如权利要求1或2所述的适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路，其特征在于：所述电压采样模块(200)还包括第三反相器(204)以及第三开关管(205)，所述第三反相器(204)与第一开关管(201)相并联，所述第三反相器(204)输出端与第三开关管(205)的基极相连接，所述第三开关管(205)发射极接地。4.如权利要求3所述的适用于BUCK型DC
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DC芯片的零电流检测电路，其特征在于：所述电压采样模块(200)还包括第四开关管(206)，所述第四开关管(206)集电极与第一开关管(201)的发射极相接，且发射极接地。5.如权利要求4所述的适用于BUCK型...

【专利技术属性】
技术研发人员：李富华，陈天昊，马志寅，
申请(专利权)人：苏州大学，
类型：新型
国别省市：