【技术实现步骤摘要】
一种液晶面板透过率的测量方法及系统
[0001]本专利技术提出了一种液晶面板透过率的测量方法及系统，涉及一种液晶面板领域，具体液晶面板透过率的测量
。
技术介绍
[0002]在先进科技发展过程中，液晶面板被广泛应用于各行各业，液晶面板的透过率在液晶面板的使用效果中占据着至关重要的作用，在正常情况下，液晶面板的透过率越高，则液晶面板越清晰，但液晶面板的透过率在实际测量过程中容易受多种因素影响，现有技术中的仪器并不能精确的排除这些因素的干扰，得到精确的透过率结果
。
使用现有技术中的透过率测量仪，容易受温度等多种因素影响，导致测量结果的不准确，且使用成本高，容易受时间地点所局限
。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供了一种液晶面板透过率的测量方法及系统，用以解决液晶面板的透过率检测在现有技术中，容易受环境因素影响，且使用测量成本高，容易受时间地点所局限，导致透过率测量结果不够准确的问题：本专利技术提出的一种液晶面板透过率的测量方法及系统，所述方法包括：
S1、
建立透过率测量系统，所述透过率测量系统包括背光源
、
初始偏光片
、
液晶面板和第二偏光片；
S2、
将所述初始偏光片
、
液晶面板和第二偏光片分别分为两个区域，初始偏光片通过第一区域和第二区域分别将环境光和背光偏振到第二偏光片的第一区域和第二区域；
S3、
在第一预设条件下，分别计算背光透过率和环境光透过率...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种液晶面板透过率的测量方法，其特征在于，所述方法包括：
S1、
建立透过率测量系统，所述透过率测量系统包括背光源
、
初始偏光片
、
液晶面板和第二偏光片；
S2、
将所述初始偏光片
、
液晶面板和第二偏光片分别分为两个区域，初始偏光片通过第一区域和第二区域分别将环境光和背光偏振到第二偏光片的第一区域和第二区域；
S3、
在第一预设条件下，分别计算背光透过率和环境光透过率，分别对背光透过率和环境光透过率建立拟合曲线，取两条曲线的相交点作为第一交点；
S4、
在第二预设条件下，分别计算背光透过率和环境光透过率，并建立拟合曲线，取两条曲线的相交点作为第二交点，通过计算第一交点和第二交点对应的透过率的平均值，获得液晶面板的透过率
。2.
根据权利要求1所述一种液晶面板透过率的测量方法，其特征在于，所述建立透过率测量系统，所述透过率测量系统包括背光源
、
初始偏光片
、
液晶面板和第二偏光片，包括：
S101、
所述背光源设置在初始偏光片之下，所述初始偏光片的上面设置有液晶面板；
S102、
在液晶面板的上面设置有第二偏光片
。3.
根据权利要求1所述一种液晶面板透过率的测量方法，其特征在于，所述将所述初始偏光片
、
液晶面板和第二偏光片分别分为两个区域，初始偏光片通过第一区域和第二区域分别将环境光和背光偏振到第二偏光片的第一区域和第二区域，包括：
S201、
将所述初始偏光片
、
液晶面板和第二偏光片分别分为两个区域，所述两个区域包括第一区域和第二区域；
S202、
所述第一区域设置为小一偏光片，所述第二区域设置为小二偏光片；所述小一偏光片使用直交偏振片，所述小二偏光片使用平行偏振片；
S203、
在透过率测试过程中，所述初始偏光片通过第一区域使环境光经过液晶面板，偏振到第二偏光片的第一区域，通过初始偏光片通过第二区域将背光通过液晶面板，偏振到第二偏光片的第二区域
。4.
根据权利要求1所述一种液晶面板透过率的测量方法，其特征在于，所述在第一预设条件下，分别计算背光透过率和环境光透过率，分别对背光透过率和环境光透过率建立拟合曲线，取两条曲线的相交点作为第一交点，包括：
S301、
在第一预设条件下，通过入射总通量和第二区域透出的光通量计算背光的透过率；
S302、
在第一预设条件下，通过入射总通量和第一区域透出的光通量计算环境光的透过率；在第一预设条件下的背光透过率的计算公式：；其中，
T1为第一预设条件下的背光透过率，
n
为背光透过率的测试次数，
Φ
0i
为第
i
次测试的在第一预设条件下的第二区域透出的光通量，
Φ
1i
为第
i
次测试的在第一预设条件下的背光入射总通量，
j
为在第一预设条件下，温度的测量次数，
T
i
为第
i
次测试的在第一预设条件下的温度值；在第一预设条件下的环境光透过率的计算公式：
；其中，
T2为第一预设条件下的环境光透过率，
n
为环境光透过率的测试次数，
Φ
2i
为第
i
次测试的在第一预设条件下的第一区域透出的光通量，
Φ
3i
为第
i
【专利技术属性】
技术研发人员：邓斌，晏英，
申请(专利权)人：广东灿达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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