一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法技术

本发明专利技术属于排序问题相关技术领域，并公开了一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法

【技术实现步骤摘要】
一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法


[0001]本专利技术属于排序问题相关
，更具体地，涉及一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法
。

技术介绍

[0002]排序问题是指能够一组元素的全排序能够表达问题中所有的解的一种组合优化问题，该问题广泛地存在于生产制造
、
交通运输等不同领域
。
例如生产制造中的置换流水车间调度问题
、
零等待流水车间调度问题等，交通运输中的旅行商问题等都属于排序问题
。
[0003]大多数排序问题都是
NP(non
‑
deterministic polynomial
，多项式复杂程度的非确定性问题
)
完全问题，即到目前为止，没有一种算法能够在有限的时间内对排序问题进行精确求解
。
在这种情况下，智能优化算法成为求解该问题的首选，它能够在规定的时间里求得该问题的满意解
。
尽管在过去的几十年里，学者提出了很多智能优化算法对该问题进行求解，但近年来该算法的研究本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：
S1
对于规模为
n
采样数量为
k
n
的排序问题，降低该排序问题的规模至
m
并获得确定在新的规模
m
下对应的采样数量
t
，
m<n
；
S2
计算规模为
m
的排序问题的解的总数量以及每个解之间的距离，利用解之间的距离对所有解进行聚类，以此将所有解划分为
t
类，计算每类解的中心点获得
t
个中心点，该
t
个中心点即为规模为
m
的排序问题的
t
个均匀采样点；
S3
对于任意的规模
m+i
的排序问题，在规模
m+i
‑1的排序问题的
K
m+i
‑1个采样点中插入规模
m+i
相比于
m+i
‑1新增加的元素，以此获得
K
m+i
‑1(m+i)
个采样点，然后再采用随机采样的方式获得
K
m+i
‑
K
m+i
‑1(m+i)
个采样点，将所述
K
m+i
‑1(m+i)
个采样点和
K
m+i
‑
K
m+i
‑1(m+i)
个采样点混合即获得规模
m+i
的排序问题的
K
m+i
个采样点，
i
为正整数；
S4
重复步骤
S3
直至
m+i
＝
n
，以此获得规模为
n
的
k
n
个均匀采样点，即实现规模为
n
的均匀采样
。2.
如权利要求1所述的一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法，其特征在于，在步骤
S1
中，所述排序问题的规模
m
满足采样点数量
t
＝
k
n
*m
！
/n
！
。3.
如权利要求1或2所述的一种用于排序问题度量空间的均匀采样方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：李新宇，桂林，高亮，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：