一种基于荧光光谱的地下水污染扩散检测方法技术

本发明专利技术提供一种基于荧光光谱的地下水污染扩散检测方法；该方法如下：一

【技术实现步骤摘要】
一种基于荧光光谱的地下水污染扩散检测方法


[0001]本专利技术属于环境监测
，具体涉及一种基于荧光光谱的地下水污染扩散检测方法
。

技术介绍

[0002]随着城镇化发展，产业转移，出现大量遗留污染场地
。
这些遗留污染场地及周围的污染物易出现扩散的情况，对人体健康及水环境存在潜在风险；当前限于部分地下水污染修复技术不成熟
、
场地地质复杂
、
修复成本高等原因，不具备地下水污染大规模修复条件
。
因此，需要对现有污染场地的周围区域进行定期监测管控，及时评估风险
。
[0003]现有地下水污染溯源技术大多操作繁琐，成本较高，工程推广应用困难
。
三维荧光光谱法是由发射
(Em)
波长
、
激发
(Ex)
波长
、
荧光强度分别作为
x
轴
、y
轴
、z
轴构成的矩阵光谱，属于荧光光谱分析技术的一种，主要根据荧光谱图特征荧光团本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基于荧光光谱的地下水污染扩散检测方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一
、
在风险管控地块选择多个采样位置；分别采集每个采样位置的地下水水样；对所有地下水水样检测三维荧光光谱；利用所得三维荧光光谱，确定风险管控地块的特征荧光组分，记为基准组分
C1
；步骤二
、
构建多个环境因素与最大荧光强度变化率的关系函数；2‑
1.
确定多个干扰因素
X1,X2,...,X
n
；
n
为干扰因素数量；以各干扰因素
X
i
作为自变量，基准组分
C1
的最大荧光强度
F
max
作为响应指标，确定响应面实验的实验条件；
i
＝
1,2,...,n
；2‑
2.
根据步骤2‑1设定的实验条件进行响应面实验如下：
(1)
使用风险管控地块的土壤浸出液作为基准水样；利用基准水样配置实验标准水样；检测实验标准水样的基准组分
C1
的最大荧光强度
F
max,
初
；
(2)
根据实验条件中设定的干扰因素配置多份实验标准水样，得到多组样品溶液；
(3)
分别检测所有样品溶液的基准组分
C1
的最大荧光强度；2‑
3.
以基准组分
C1
的最大荧光强度作为目标，建立二次回归模型
F
max
(X1,X2,...,X
n
)
；2‑
4.
构建最大荧光强度变化率
Δ
F(X1,X2,...,X
n
)
随各干扰因素
X
i
的变化函数如下：步骤三：在风险管控地周围的选择被测地点，提取被测地点的地下水，检测所得地下水的基准组分
C1
的最大荧光强度
F
max
测
，计算被测地点经校正的污染物浓度
C
校
：其中，
k、C0为预先拟合得到的污染物浓度与基准组分
C1
最大荧光强度的函数关系中的拟合系数
。2.
根据权利要求1所述的一种基于荧光光谱的地下水污染扩散检测方法，其特征在于：步骤三中，根据风险管控地周围的各个被测地点得到的污染物浓度
C
校
，定量评估风险管控地的污染物扩散情况
。3.
根据权利要求1所述的一种基于荧光光谱的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑睿豪，林骏，何键，周丹丹，吴星星，李琼轩，张浩，马俊凯，胡辉，蒋羲，李海侠，
申请(专利权)人：台州市污染防治技术中心有限公司，
类型：发明
国别省市：