一种半导体测试方法技术

本申请涉及半导体技术领域，尤其涉及一种半导体测试方法

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试方法、系统、终端及存储介质


[0001]本申请涉及半导体
，尤其涉及一种半导体测试方法
、
系统
、
终端及存储介质
。

技术介绍

[0002]半导体（
Semiconductor
），是一种由半导体材料制成的电子器件，其电导率在绝缘体至导体之间，是当今世界上应用最广泛的电子元件
。
半导体具有体积小
、
功耗低
、
稳定性高
、
可靠性好等特点，在众多
都得到了广泛的应用，因此必须要进行严格的测试，确保其具备设计之功能和品质才可以使用
。
[0003]传统的半导体测试方法大多是通过手持测量仪器，对半导体的各个性能进行测量，随着科学的进步以及对半导体要求的提高，通过上述测量半导体的方法已经逐渐被淘汰，越来越多的机构和企业开始采用智能设备对半导体进行测试，但是仍然需要技术人员对测试结果进行判断和确认，这严重降低了测试效率
。

技术实现思路

[0004]为了有助于提本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种半导体测试方法，其特征在于，包括：获取目标半导体的目标测试模式；基于所述目标测试模式，获取目标电量参数；基于所述目标电量参数以及与所述目标电量参数相对应的参数阈值，获取与所述目标电量参数相对应的测试得分；判断所述测试得分是否超过预设得分阈值；若所述测试得分未超过所述预设得分阈值，则判断所述目标测试模式是否为指定模式；若所述目标测试模式为所述指定模式，则将所述目标半导体标记为报废产品，并终止此次测试；若所述测试得分超过所述预设得分阈值，则基于所述测试得分获取测试结果
。2.
根据权利要求1所述的一种半导体测试方法，其特征在于，在所述若所述测试得分未超过所述预设得分阈值，则判断所述目标测试模式是否为指定模式之后还包括：若所述目标测试模式非所述指定模式，则将所述目标半导体标记为故障产品；获取所述故障产品的所有所述测试得分；基于所有所述测试得分以及预设测试规则，判断所述故障产品是否测试完成；若所述故障产品测试完成，则基于所述故障产品的所有所述测试得分获取不合格得分；基于所述不合格得分，获取待复测模式；基于所述待复测模式以及所述预设测试规则对所述故障产品进行复测，并生成复测结果；判断所述复测结果是否满足预设结果要求；若所述复测结果满足预设结果要求，则将所述故障产品标记为合格产品
。3.
根据权利要求2所述的一种半导体测试方法，其特征在于，所述基于所述待复测模式以及所述预设测试规则对所述故障产品进行复测，并生成复测结果的具体步骤包括：获取所述待复测模式的目标数量，并判断所述目标数量是否大于1；若所述目标数量等于1，则基于所述待复测模式对所述故障产品进行复测，并生成复测结果；若所述目标数量大于1，则获取不同测试模式的优先等级；基于所述优先等级以及所述待复测模式对所述故障产品进行复测，并生成复测结果
。4.
根据权利要求2所述的一种半导体测试方法，其特征在于，所述若所述测试得分超过所述预设得分阈值，则基于所述测试得分获取测试结果的具体步骤包括：若所述测试得分超过所述预设得分阈值，则获取所述目标半导体的所有所述测试得分；基于所有所述测试得分以及所述预设测试规则，判断所述目标半导体是否测试完成；若所述目标半导体测试完成，则判断所述目标半导体是否为所述故障产品；若所述目标半导体非所述故障产品，则将所述目标半导体标记为合格产品并结束此次测试
。5.
根据权利要求4所述的一种半导体测试方法，其特征在于，在所述基于所有所述测试
得分以及所述预设测试规则，判断所述目标半导体是否测试完成之后还包括：若所述目标半导体未测试完成，则获取下一测试模式作为所述目标测试模式；判断是否获取到测试停止条件；若获取到所述测试停止条件，则将所述目标半导体标记为报废产品并结束此次测试；若未获取到所述测试停止条件，则重新获取所述目标半导体的所有所述测试得分，并判断是否存在所述测试得分未超过所述预设得分阈值；若存在所述测试得分未超过所述预设得分阈值，则将所述目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡久恒，黄昭，
申请(专利权)人：杭州高坤电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：