一种基板铜箔导电性能测试设备制造技术

本发明专利技术涉及基板铜箔导电性能测试领域，具体是涉及一种基板铜箔导电性能测试设备；包括检测台

【技术实现步骤摘要】
一种基板铜箔导电性能测试设备


[0001]本专利技术涉及基板铜箔导电性能测试领域，具体是涉及一种基板铜箔导电性能测试设备
。

技术介绍

[0002]铜箔是电子行业中的重要材料，用于制造电路板等设备
。
铜箔的导电性能直接影响设备的工作效率和性能，因此必须采取有效措施来确保其导电性能达到要求
。
[0003]基板铜箔的导电性能可以通过多种测试方法进行评估，通常是以下几种常见测试方法：电阻率测试：使用四探针法或两点侧量法，测量基板铜箔的电阻率，较低的电阻率表示更好的导电性能
。
[0004]电子显微镜观察：使用电子显微镜观察基板铜箔的表面形貌和结构，检查是否存在导电性能下降的缺陷，如氧化
、
腐蚀或断裂
。
[0005]X
射线衍射分析：通过
X
射线衍射分析，可以确定基板铜箔的晶体结构和晶粒大小，从而评估其导电性能
。
[0006]热处理测试：对基板铜箔进行热处理，然后测量器电阻率的变化，较小的电阻率变化表示更好的导电性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基板铜箔导电性能测试设备，包括铜箔（6）本体，其特征在于，导电性能测试设备还包括检测台（1），检测台（1）的顶部设置有支撑杆（
12
），支撑杆（
12
）上滑动设置有控制器（
11
），固定模块（2）固定设置在检测台（1）的顶部，固定模块（2）包括滑动装置（
21
）和固定组件（
22
），滑动装置（
21
）固定设置在检测台（1）顶部，固定组件（
22
）固定设置在滑动装置（
21
）的输出端，固定组件（
22
）的输出端将铜箔（6）四个转角处实现固定，滑动装置（
21
）的两侧镜像设置有清洁模块（3），检测台（1）的顶部且位于铜箔（6）的下方还设置有加热组件（5），铜箔（6）的两侧还设置有检测模块（4），检测模块（4）与固定模块（2）呈十字状设置在检测台（1）的顶部，检测模块（4）包括第一检测组件（
41
）
、
第二检测组件（
42
）
、
第三检测组件（
43
）和第四检测组件（
44
），第一检测组件（
41
）
、
第二检测组件（
42
）
、
第三检测组件（
43
）与第四检测组件（
44
）镜像设置在铜箔（6）两侧；第一检测组件（
41
）
、
第二检测组件（
42
）
、
第三检测组件（
43
）和第四检测组件（
44
）结构相同，第一检测组件（
41
）
、
第二检测组件（
42
）
、
第三检测组件（
43
）和第四检测组件（
44
）均包括水平推送装置（
411
）和通电头（
412
），水平推送装置（
411
）固定设置在检测台（1）的顶部，通电头（
412
）固定设置在水平推送装置（
411
）的输出端，水平推送装置（
411
）还包括滑动轨（
4111
）
、
齿条（
4112
）
、
齿轮（
4113
）
、
第二转动轴（
4114
）
、
第二固定架（
4117
）
、
转动盘（
4115
）和转动把（
4116
），滑动轨（
4111
）固定设置在检测台（1）的顶部，齿条（
4112
）滑动设置在滑动轨（
4111
）上，第二固定架（
4117
）固定设置在滑动轨（
4111
）的旁侧，第二转动轴（
4114
）转动设置在第二固定架（
4117
）上，齿轮（
4113
）固定设置在第二转动轴（
4114
）上，转动盘（
4115
）固定设置在第二转动轴（
4114
）远离齿轮（
4113
）的一侧，转动把（
4116
）固定设置在转动盘（
4115
）远离第二转动轴（
4114
）的一侧；滑动装置（
21
）包括第一滑动机构（
211
）
、
第二滑动机构（
212
）
、
第一驱动器（
213
）
、
第一皮带轮组件（
214
）和第二皮带轮组件（
215
），第一滑动机构（
211
）和第二滑动机构（
212
）镜像设置在检测台（1）上，第一驱动器（
213
）固定设置在检测台（1）的顶部，第一皮带轮组件（
214
）的一侧固定设置在第一驱动器（
213
）的输出端，第一皮带轮组件（
214
）的另一侧与第一滑动机构（
211
）的输出端固定连接，第二皮带轮组件（
215
）的一侧与第一滑动机构（
211
）固定连接，第二皮带轮组件（
215
）的另一侧与第二滑动机构（
212
）固定连接；第一滑动机构（
211
）和第二滑动机构（
212
）结构相同，第一滑动机构（
211
）与第二滑动机构（
212
）均包括滑槽（
2111
）
、
双向丝杆（
2112
）和第一滑动架（
2113
），滑槽（
2111
）固定设置在检测台（1）的顶部，双向丝杆（
2112
）转动设置在滑槽（
2111
）内部，第一滑动架（
2113
）具有一对且滑动设置在双向丝杆（
2112
）的两侧
。2.
根据权利要求1所述的一种基板铜箔导电性能测试设备，其特征在于，固定组件（
22
）包括第一固定装置（
221
）
、
第二固定装置（
222
）
、
第三固定装置（
223
）和第四固定装置（
224
），第一固定装置（...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈俊生，曹福强，李伟，何敏周，崔凤梅，
申请(专利权)人：山东合盛铜业有限公司，
类型：发明
国别省市：