电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法技术

本发明专利技术涉及电波暗室技术领域，提供了一种电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法，包括

【技术实现步骤摘要】
电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法


[0001]本专利技术涉及电波暗室
，特别涉及一种电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法
。

技术介绍

[0002]电波暗室是一种用于测试和测量电磁波性能的设备，通过吸波材料消除墙壁
、
天花板和地板的电磁波反射，以模拟开放空间环境
。
静区
(Quiet Zone)
是指暗室内用于测量天线性能的区域内的反射电平
。
暗室静区反射电平的测试通常遵循我国的行业规范，常见的测试方法通常使用标准天线作为发射源，在静区内按照设定好的空间路径移动，测量接收到的信号强度，从而形成出空间路径
‑
接收信号强度的对应数列，对这个对应数列进行数据处理，可以得到锥削
、
纹波和静区反射电平等数据
。
[0003]根据测试结果和性能指标，评估暗室静区反射电平是否满足预期的性能要求
。
如果不满足要求，可能需要对暗室设计或吸波材料进行优化
。
[0004]在目前通行的测试标本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法，其特征在于，所述方法包括：
S1、
测量电磁场静区接收电平：采用全向天线，在电磁场静区内按照设定的空间路径移动，测量接收到的电磁信号强度，形成空间路径
‑
接收电平的对应数列；
S2、
采用等间隔的第一空间分辨率，以空间逐点扫描方式测量静区接收电平，得到空间路径
‑
接收电平数列为稀疏抽样波形；将所述稀疏抽样波形进行快速傅里叶变换，形成空间谱计算序列的原始序列；对所述原始序列作补零操作，形成补零后序列；对所述补零后序列进行反快速傅里叶变换，得到稀疏抽样恢复波形；
S3、
基于步骤
S2
中得到的所述稀疏抽样恢复波形对电磁场静区参数进行计算
。2.
如权利要求1所述的电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法，其特征在于，步骤
S1
中，所述全向天线采用两个配置分别进行测量，一个为全向天线主极化方向水平放置，另一个为全向天线主极化方向垂直放置
。3.
如权利要求1所述的电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法，其特征在于，步骤
S2
中，对所述补零后序列做进一步的空间谱分离算法处理，具体为：按照所述补零后序列数据的绝对值，除了接近零值的序列元素，序列中会出现4组明显比周围绝对值更大的数据，从左到右分别记做
A、B、C、D
；按以下两种不同算法处理；算法一：所述补零后序列数据中，只保留
A、D
部分对应数列，其他位置的数值都重新设置为零，形成一个新的空间谱数列
S
T
，对
S
T
做反快速傅里叶变换
IFFT
，得到静区锥削对应的空间
‑
电平数据序列
M
T
；算法二
、
所述补零后序列数据中，只保留
B、C
部分对应数列，其他位置的数值都重新设置为零，形成一个新的空间谱数列
S
R
，对
S
R
做反快速傅里叶变换
IFFT
，得到静区纹波对应的空间
‑
电平数据序列
M
R
。4.
...

【专利技术属性】
技术研发人员：周峰，齐殿元，魏蔚，袁修华，孙景禄，张向阳，宁宗贺，张培艳，张大元，周开波，孟艾立，
申请(专利权)人：中国信息通信研究院，
类型：发明
国别省市：