【技术实现步骤摘要】
一种屏蔽效能检测装置
[0001]本技术实施例涉及屏蔽效能检测
，特别是涉及一种屏蔽效能检测装置
。
技术介绍
[0002]随着科学技术的发展，电子设备趋向于小型化和紧凑化发展
。
对于电子设备内部的不同电子元器件，在工作过程中，易产生互相干扰的现象，例如，电子元器件之间会造成电磁干扰，进而影响电子元器件的正常工作
。
而为了减小电子元器件之间的电磁干扰，通常采用屏蔽盖覆盖电子元器件以达到减小电磁干扰的目的
。
[0003]对于屏蔽盖，屏蔽效能的好坏需要通过检测装置进行检测
。
目前，市面上一般采用屏蔽室窗口法进行屏蔽效能的检测
。
屏蔽室窗口法是一种通过在屏蔽室中使用窗口进行屏蔽效能测试的方法，即在屏蔽室的墙壁或天花板上安装一个窗口，以便将射频信号引入屏蔽室进行测试
。
因此，屏蔽室窗口法一般适用于大型电子设备
、
大型通信设备或大型屏蔽盖的屏蔽效能检测，而不适用于小型屏蔽盖的屏蔽效能检测
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种屏蔽效能检测装置，其特征在于，包括：屏蔽箱；信号组件，包括信号源
、
信号放大器和射频天线，所述信号源和信号放大器设置于所述屏蔽箱外部，所述射频天线设置于所述屏蔽箱内部，所述信号放大器的一端通过电缆与所述信号源连通，所述信号放大器的另一端通过电缆贯穿所述屏蔽箱与所述射频天线连接；检测组件，包括测试治具
、
射频接收器和频谱仪，所述测试治具设置于所述屏蔽箱内，并且所述测试治具位于所述射频天线的下方，所述射频接收器固定于所述测试治具，所述频谱仪设置于所述屏蔽箱外部，所述频谱仪通过电缆贯穿所述屏蔽箱与所述射频接收器连接，所述测试治具用于安装待测物体，以使待测物体覆盖所述射频接收器
。2.
根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，所述待测物体的屏蔽效能定义为
S
，当所述测试治具未安装待测物体时，所述频谱仪所检测到的射频信号强度定义为
S1
，当所述测试治具已安装待测物体时，所述频谱仪所检测到的射频信号强度定义为
S2
，其中，
S
＝
S1
‑
S2。3.
根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，所述射频天线固定于所述屏蔽箱内的顶部，所述射频接收器通过所述测试治具固定于所述屏蔽箱内的底部，所述射频天线的中心正对所述射频接收器的中心
。4.
根据权利要求1所述的屏蔽效能检测装置，其特征在于，所述屏蔽箱设有第一端子，所述第一端子的一端位于所述屏蔽箱内，所述第一端子的另一端位于所述屏蔽箱外，所述第一端子的一端通过电缆与所述射频天线连通，所述第一端子的另一端通过电缆与所述信号放...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈章福，刘文超，
申请(专利权)人：深圳市信维通信股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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