一种下探针测试工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种下探针测试工装，包括测试底座；测试底座上设有第一测试凹槽以及第二测试凹槽；第二测试凹槽的底端设有贯通口；测试组件，包括测试电路板

【技术实现步骤摘要】
一种下探针测试工装


[0001]本技术涉及测试工装
，尤其涉及一种下探针测试工装
。

技术介绍

[0002]目前，传统上探针检测的办法是人工检测，人工将专用上探针排与测试
PCB
板连接，另一端与微机电系统连接，然后
PCB
通电测试
。
这种方式人工操作繁琐，需要手动固定连接位置，还会由人工操作失误造成误测
。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种下探针测试工装，其可以通过第一驱动件带动探针安装板上的待测探针上下运动，配合弹性压杆下压接触片实现电性连接，以完成测试
。
[0004]本技术的目的采用以下技术方案实现：
[0005]一种下探针测试工装，包括，
[0006]测试底座；所述测试底座上设有第一测试凹槽以及第二测试凹槽；所述第二测试凹槽的底端设有贯通口；
[0007]测试组件，包括测试电路板
、
测试探针
、
电性连接片以及接触片，所述测试电路板设于测试底座的下方并封盖于所述贯通口的底端，所述测试探针安装于所述第一测试凹槽内；所述接触片安装于所述第二测试凹槽内；所述接触片与所述测试探针通过所述电性连接片电性连接；
[0008]探针安装组件，包括探针安装板以及第一驱动件，所述探针安装板安装于所述第一测试凹槽的上方，所述探针安装板用于安装待测探针，所述探针安装板用于在所述第一驱动件的带动下靠近或者远离所述第一测试凹槽运动；所述探针安装板用于在靠近所述第一测试凹槽并伸入所述第一测试凹槽，以使待测探针压接至所述测试探针；
[0009]顶压组件，所述弹性压杆以及第二驱动件，所述弹性压杆设于所述第二测试凹槽的上方，所述第二驱动件用于带动所述弹性压杆上下运动；所述弹性压杆用于在向下运动后顶压所述接触片，以使所述接触片与所述测试电路板电性连接
。
[0010]进一步地，所述第二驱动件包括安装座
、
螺杆以及连接板，所述安装座安装于所述测试底座上，所述螺杆螺纹连接于所述安装座上；所述连接板的一端与所述螺杆连接，所述连接板的另一端设有所述弹性压杆；所述螺杆用于在转动过程中带动所述连接板上下运动，以使弹性压杆靠近或者远离所述第二测试凹槽运动
。
[0011]进一步地，所述第一驱动件包括驱动座以及凸轮，所述驱动座安装于所述测试底座上，所述凸轮可转动的安装于所述驱动座上；所述凸轮的凸出部用于在转动过程中顶压所述探针安装板，以驱使探针安装板向下运动
。
[0012]进一步地，所述测试凹槽的下方设有弹性部件以及弹性部件支座，所述弹性部件安装于所述弹性部件支座上；所述探针安装板用于在向下运动过程中顶压所述弹性部件；
所述弹性部件用于提供一驱使所述探针安装板向上运动的弹性应力
。
[0013]进一步地，所述凸轮上设有手柄杆，所述手柄杆用于带动所述凸轮转动
。
[0014]进一步地，所述探针安装板上设有连接孔
。
[0015]相比现有技术，本技术的有益效果在于：可以是将待测探针安装在探针安装板上，然后在第一测试凹槽内放入测试组件的测试探针，测试组件的接触片则可以放入第二测试凹槽，然后可以是通过第一驱动件的带动探针安装板上下运动，实现待测探针与测试探针接触，以通过电性连接片
、
接触片与测试电路板电性连接，在通电后完成测试，在测试过程中，减少人工操作，且由于第一测试凹槽和第二测试凹槽可以对待测探针以及接触片的位置进行限定，减少测试过程中因移位而出现的接触不良的情况，提高测试精度以及测试小效率
。
附图说明
[0016]图1为本技术的结构示意图；
[0017]图2为本技术的局部结构示意图；
[0018]图3为本技术的测试组件的局部结构示意图
。
[0019]图中：
10、
测试底座；
11、
第一测试凹槽；
12、
第二测试凹槽；
121、
贯通口；
31、
探针安装板；
32、
凸轮；
33、
手柄杆；
34、
弹性部件；
41、
弹性压杆；
42、
螺杆；
43、
连接板；
51、
测试电路板；
52、
测试探针；
53、
电性连接片；
54、
接触片
。
具体实施方式
[0020]下面，结合附图以及具体实施方式，对本技术做进一步描述：
[0021]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位
、
以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制
。
[0022]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同
。
本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本技术
。
[0023]如图1‑3所示的一种下探针测试工装，包括测试底座
10、
测试组件以及探针安装组件，在测试底座
10
上设有第一测试凹槽
11
以及第二测试凹槽
12
，且第二测试凹槽
12
的底端设有贯通口
121
，该贯通口
121
可以贯通至测试底座
10
的底端面
。
[0024]具体测试组件包括测试电路板
51、
测试探针
52、
电性连接片
53
以及接触片
54
，将测试电路板
51
设于测试底座
10
的下方，且测试电路板
51
可以封盖于贯通口
121
的底端，测试电路板
51
上的测试地电路可以对应于贯通口
121
的下方
。
将测试探针
52
安装于第一测试凹槽
11
内，接触片
54
安装于第二测试凹槽
12
内；接触片
54
与测试探针
52
通过电性连接片
53
电性连接；
[0025]另外，探针安装组件包括探针安装板
31
以及第一驱动件，将探针本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种下探针测试工装，其特征在于，包括，测试底座；所述测试底座上设有第一测试凹槽以及第二测试凹槽；所述第二测试凹槽的底端设有贯通口；测试组件，包括测试电路板
、
测试探针
、
电性连接片以及接触片，所述测试电路板设于测试底座的下方并封盖于所述贯通口的底端，所述测试探针安装于所述第一测试凹槽内；所述接触片安装于所述第二测试凹槽内；所述接触片与所述测试探针通过所述电性连接片电性连接；探针安装组件，包括探针安装板以及第一驱动件，所述探针安装板安装于所述第一测试凹槽的上方，所述探针安装板用于安装待测探针，所述探针安装板用于在所述第一驱动件的带动下靠近或者远离所述第一测试凹槽运动；所述探针安装板用于在靠近所述第一测试凹槽并伸入所述第一测试凹槽，以使待测探针压接至所述测试探针；顶压组件，弹性压杆以及第二驱动件，所述弹性压杆设于所述第二测试凹槽的上方，所述第二驱动件用于带动所述弹性压杆上下运动；所述弹性压杆用于在向下运动后顶压所述接触片，以使所述接触片与所述测试电路板电性连接
。2.
如权利要求1所述的下探针测试工装，其特征在于，所述第二驱动件包括安装座
...

【专利技术属性】
技术研发人员：李景观，王志超，
申请(专利权)人：中钧科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：