一种多平面相对平行度测量方法技术

本发明专利技术公开了一种多平面相对平行度测量方法，属于平行度测量领域，包括以下步骤：步骤1：设计一种复制平面度治具：复制平面度治具包括从下到上依次设置的第一磁吸底座

【技术实现步骤摘要】
一种多平面相对平行度测量方法


[0001]本专利技术涉及平行度测量
，特别是涉及一种多平面相对平行度测量方法
。

技术介绍

[0002]现有技术中需要对多个平面进行平行度测量时一般使用到的治具是磁力座千分表，磁力座千分表包括磁力座
、
千分表和用于连接磁力座和千分表的万向杆
。
例如对平面
A
和平面
B
进行平行度测量时，需要利用磁力座将整个治具架设在其中一个平面上，然后利用千分表对另一个平面进行打表
。
但是，当两个平面的距离过大或者过小时，治具不能在其一端置于平面
A
上的同时另一端的千分表良好地与平面
B
接触，这使得上述方法不能适用
。
这时，就需要根据两个平面之间的距离和平行度测量治具的尺寸增设适宜数量的过渡平面，如需要两个过渡平面
A1
和
A2
时，需要先将整个治具放置在平面
A
上同时对平面
A1
进行打表测得平面
A
和平面
A1
之间的平行度
a1
，然后将治具放置在平面
A1
上同时对平面
A2
进行打表测得平面
A1
和平面
A2
之间的平行度
a2
，最后将治具放置在平面
A2
上同时对平面
B
进行打表测得平面
A2r/>和平面
B
之间的平行度
a3
，至此得到平面
A
和平面
B
之间的平行度
a
＝
a1+a2+a3。
但是上述方法需要对治具进行多次挪动，操作繁琐的同时增大了测量误差
。
[0003]为解决上述问题，需要提供一种多平面相对平行度测量方法，打破待测平面之间空间距离的限制，减少对治具的挪动次数，提高测量效率同时降低测量误差
。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种多平面相对平行度测量方法，打破待测平面之间空间距离的限制，减少对治具的挪动次数，提高测量效率，降低测量误差
。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种多平面相对平行度测量方法，包括以下步骤：
[0006]步骤1：设计一种复制平面度治具：复制平面度治具包括从下到上依次设置的第一磁吸底座
、
第一角度微调滑台
、
第二角度微调滑台
、
复制板
、
第一滑台
、
第二滑台
、
第二磁吸底座
、
万向调节杆和千分表，所述第一角度微调滑台用于调节复制板的左右倾斜角度，其底面通过第一连接座与所述第一磁吸底座的顶面固定连接，所述第二角度微调滑台用于调节复制板的前后倾斜角度，其底面通过第二连接座与所述第一角度微调滑台的顶面固定连接，所述复制板与所述第二角度微调滑台的顶面固定连接，所述第一滑台滑动连接在所述复制板的顶面上的第一直线导轨上，且所述第一滑台上设有第一螺纹孔，所述第一螺纹孔内设有用于与所述复制板连接的第一顶紧件，所述第二滑台滑动连接在所述第一滑台的顶面上的第二直线导轨上，且所述第二滑台上设有第二螺纹孔，所述第二螺纹孔内设有用于与所述第一滑台连接的第二顶紧件，所述第一直线导轨与所述第二直线导轨之间垂直设置，所述第二磁吸底座的底面与所述第二滑台的顶面磁吸连接，且所述第二磁吸底座通过所述万向调节杆与所述千分表连接；
[0007]步骤2：利用步骤1中的复制平面度治具将多个待测平面中的一个待测平面
A
的平面度复制到复制板上：首先利用第一磁吸底座将复制平面度治具固定在待测平面
A
附近的
铁件上，然后利用万向调节杆使得复制平面度治具上的千分表能够以其合适的角度在此待测平面上进行打表，打表时，先利用第一顶紧件固定住第一滑台，同时拧松第二固定件使得第二滑台能够带着千分表沿着第二直线导轨进行移动，进而使得千分表测得待测平面
A
的前后倾斜角度，此时，测量者即可利用第二角度微调滑台将待测平面
A
的前后倾斜角度复制到复制板上，然后拧松第一顶紧件释放第一滑台，同时拧紧第二固定件固定住第二滑台，使得千分表能够沿着第一直线导轨进行移动，进而使得千分表测得待测平面
A
的左右倾斜角度，此时，测量者即可利用第一角度微调滑台将待测平面
A
的左右倾斜角度复制到复制板上，至此，复制板完美复制出待测平面
A
的平面度；
[0008]步骤3：利用第一磁吸底座将步骤2中的复制平面度治具先后放置在其他待测平面附近的铁件上进行平行度的打表测量：测量时，先利用万向调节杆使得复制平面度治具上的千分表能够以其合适的角度在待测平面上进行打表，打表时先利用第一顶紧件固定住第一滑台，同时拧松第二固定件使得第二滑台能够带着千分表沿着第二直线导轨进行移动，进而使得千分表测得此待测平面与待测平面
A
之间的前后倾斜角度，然后拧松第一顶紧件释放第一滑台，同时拧紧第二固定件固定住第二滑台，使得千分表能够沿着第一直线导轨进行移动，进而使得千分表测得此待测平面与待测平面
A
之间的左右倾斜角度，至此，完成待测平面
A
与另一个待测平面之间的平行度测量，重复上述动作，完成待测平面
A
与剩余待测平面之间的平行度测量
。
[0009]优选的，所述第一角度微调滑台和所述第二角度微调滑台均包括上下设置的活动部和固定部，所述固定部的顶面为中间向下凹的圆弧面，且沿其中线方向设有导向凸台，所述导向凸台上的凹槽内设有蜗杆，所述蜗杆的一端穿出所述导向凸台与旋钮连接，所述固定部的一侧面上设有沿所述圆弧面的曲边设置的下标线，所述活动部的一侧面上设有与所述下标线对应设置的上标线，所述活动部的底面与所述固定部的顶面相贴合，且所述活动部的底面设有与所述导向凸台对应设置的导向槽，所述导向槽内设有与所述蜗杆结构相适配的齿条，所述第一角度微调滑台的导向凸台与所述第二角度微调滑台的导向凸台垂直设置
。
[0010]优选的，所述第一磁吸底座和所述第二磁吸底座均包括外壳，所述外壳的一侧壁上设有开关，所述外壳内设有电磁铁和电池，所述电磁铁的线圈通过所述开关与所述电池连接，所述外壳的底部设有与所述电磁铁对应设置的通孔
。
[0011]因此，本专利技术采用上述结构的多平面相对平行度测量方法，打破了待测平面之间空间距离的限制，以减少对治具的挪动次数，提高了测量效率的同时降低了测量误差
。
[0012]下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述
。
附图说明
[0013]图1是本专利技术复制平面度治具实施例的示意图；
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种多平面相对平行度测量方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：设计一种复制平面度治具：复制平面度治具包括从下到上依次设置的第一磁吸底座
、
第一角度微调滑台
、
第二角度微调滑台
、
复制板
、
第一滑台
、
第二滑台
、
第二磁吸底座
、
万向调节杆和千分表，所述第一角度微调滑台用于调节复制板的左右倾斜角度，其底面通过第一连接座与所述第一磁吸底座的顶面固定连接，所述第二角度微调滑台用于调节复制板的前后倾斜角度，其底面通过第二连接座与所述第一角度微调滑台的顶面固定连接，所述复制板与所述第二角度微调滑台的顶面固定连接，所述第一滑台滑动连接在所述复制板的顶面上的第一直线导轨上，且所述第一滑台上设有第一螺纹孔，所述第一螺纹孔内设有用于与所述复制板连接的第一顶紧件，所述第二滑台滑动连接在所述第一滑台的顶面上的第二直线导轨上，且所述第二滑台上设有第二螺纹孔，所述第二螺纹孔内设有用于与所述第一滑台连接的第二顶紧件，所述第一直线导轨与所述第二直线导轨之间垂直设置，所述第二磁吸底座的底面与所述第二滑台的顶面磁吸连接，且所述第二磁吸底座通过所述万向调节杆与所述千分表连接；步骤2：利用步骤1中的复制平面度治具将多个待测平面中的一个待测平面
A
的平面度复制到复制板上：首先利用第一磁吸底座将复制平面度治具固定在待测平面
A
附近的铁件上，然后利用万向调节杆使得复制平面度治具上的千分表以其合适的角度在此待测平面上进行打表，打表时，先利用第一顶紧件固定住第一滑台，同时拧松第二固定件使得第二滑台带着千分表沿着第二直线导轨进行移动，进而使得千分表测得待测平面
A
的前后倾斜角度，此时，测量者利用第二角度微调滑台将待测平面
A
的前后倾斜角度复制到复制板上，然后拧松第一顶紧件释放第一滑台，同时拧紧第二固定件固定住第二滑台，使得千分表沿着第一直线导轨进行移动，进而使得千分表测得待测平面
A
...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：深圳市星特科技有限公司，
类型：发明
国别省市：