一种反射光系统的失调状态分析方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种反射光系统的失调状态分析方法及系统，涉及数据处理技术领域，确定第一光学平面的第一曲率中心，对样本光线进行光学反射，根据第一曲率中心对反射光线进行偏心检测与倾斜检测，分析波像输出第一失调指数并示警，解决了现有技术对于反射光系统的失调分析方法剖析深度不足，且多聚焦于初始点与终止点，忽略了反射过程的细化分析，导致检测结果精准度与完备性不足，造成后续光学系统调整优化受限的技术问题，针对各光学平面，分别进行偏心检测与倾斜接检测，结合损失函数进行失调分析，精准确定各光学平面的失调状态，进行各光学平面失调拟合，确定整体失调状态并进行示警，逐层细化检测以保障失调检测结果的完备性与准确度

【技术实现步骤摘要】
一种反射光系统的失调状态分析方法及系统


[0001]本专利技术涉及数据处理
，具体涉及一种反射光系统的失调状态分析方法及系统
。

技术介绍

[0002]光学系统的实际成像过程中，由于系统本身非理想特征的影响，存在显示结果模糊
、
尺寸变化
、
形态异常等像差缺陷，像差为系统成像失调的评价指标
。
当前，常规的检测方法多结合光学系统的设计参数与失调量，进行波像差计量，存在一定的技术局限性
。
[0003]现有技术对于反射光系统失调状态的分析方法剖析深度不足，且多聚焦于初始点与终止点，忽略了反射过程的细化分析，导致检测结果精准度与完备性不足，造成后续光学系统调整优化受限
。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种反射光系统的失调状态分析方法及系统，用于针对解决现有技术中存在的对于反射光系统失调状态的分析方法剖析深度不足，且多聚焦于初始点与终止点，忽略了反射过程的细化分析，导致检测结果精准度与完备性不足，造成后续光学系统调整优化受限的技术问题...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种反射光系统的失调状态分析方法，其特征在于，所述方法包括：连接反射光系统，确定用于进行光反射的第一光学平面；基于所述第一光学平面，获取第一曲率中心；获取样本光线，并基于所述样本光线进行光学反射，得到基于所述第一光学平面的反射光线；根据所述第一曲率中心对所述反射光线进行偏心检测，确定偏心检测指数；根据所述第一曲率中心对所述反射光线进行倾斜检测，确定倾斜检测指数；引入第一损失函数对所述偏心检测指数和所述倾斜检测指数进行波像差的损失分析，输出标识波像差损失程度的第一失调指数，其中，所述第一损失函数通过环境变量融参获取；根据所述第一失调指数，生成第一提醒信息
。2.
如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：连接所述反射光系统，获取用于进行光反射的
N
个光学平面，其中，所述
N
个光学平面中
N
的数量至少为2；获取第一光学平面与第二光学平面的第一失调指数，获取第二光学平面与第三光学平面的第二失调指数，以此类推，获取第
N
‑1光学平面与第
N
光学平面的第
N
‑1失调指数；对所述第一失调指数
、
所述第二失调指数
……
，第
N
‑1失调指数进行偏差拟合，输出偏差拟合结果；根据所述偏差拟合结果，生成第一提醒信息
。3.
如权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述第一失调指数
、
所述第二失调指数
……
，第
N
‑1失调指数进行偏差拟合，方法包括：其中，
W(
ρ
，
θ
)
为拟合波面，
Z
i
(
ρ
，
θ
)
为第
i
项的损失函数，
a
i
为第
i
项的偏差对拟合波面造成影响的系数，
ρ
表示距离第一曲率中心的长度，
θ
表示相对第一曲率中心的角度
。4.
如权利要求3所述的方法，其特征在于，拟合波面
W(
ρ
，
θ
)
中
a
i
表达式为其中，
a
ρ
标识偏心检测指数，
a
...

【专利技术属性】
技术研发人员：张珑，张友伟，
申请(专利权)人：苏州拓坤光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：