用于孔测试的测试治具制造技术

本发明专利技术公开了一种用于孔测试的测试治具，包括压板和按照预设位置安装在压板上面的若干个测试探杆，所述测试探杆和压板之间通过偏转结构活动连接，当将压板压覆在待测产品之上的时候，所述测试探杆可以沿着压板的方向发成小角度的偏转

【技术实现步骤摘要】
用于孔测试的测试治具


[0001]本专利技术涉及一种测试设备领域，具体而言是涉及用于孔测试的测试治具
。

技术介绍

[0002]GD&T
测试的含义为形位公差的测试，加工后的零件会有尺寸公差，因而构成零件几何特征的点
、
线
、
面的实际形状或相互位置与理想几何体规定的形状和相互位置就存在差异，这种形状上的差异就是形状公差，而相互位置的差异就是位置公差，这些差异统称为形位公差（几何公差）
。
[0003]随着各种产品自动程度越来越高，对每一个配件的形位公差的要求都越来越严格，因为一个配件的形位公差过大就可能导致后续在装配的过程中出现问题，以汽车领域举例而言，在汽车前灯的生产过程中，其整体模具上会分布许多插孔，这些插孔除了起到连接固定的作用外，还起到定位的作用，每个插孔的位置，孔径的大小和深度都在设计的时候被严格定位，其模具内的其他结构都可能以该插孔的相对位置为基准进行设计和延展，所以对这些孔径进行
GD&T
测试的要求是极高的
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
用于孔测试的测试治具，其特征在于，包括压板（
100
）和按照预设位置安装在压板（
100
）上面的若干个测试探杆（
200
），所述测试探杆（
200
）在压板（
100
）上面的位置对应与待测产品的孔径的位置，所述测试探杆（
200
）和压板（
100
）之间通过偏转结构（
300
）活动连接，当将压板（
100
）压覆在待测产品之上的时候，所述测试探杆（
200
）可以沿着压板（
100
）的方向发成小角度的偏转
。2.
根据权利要求1所述的用于孔测试的测试治具，其特征在于，所述压板（
100
）包括顶板（
110
）和底板（
120
），在所述顶板（
110
）和底板（
120
）的相同位置上设置有若干个第一通孔（
111
），所述测试探杆（
200
）从第一通孔（
111
）穿过，且从底板（
120
）向下伸出，所述偏转结构（
300
）设置在所述顶板（
110
）和底板（
120
）之间
。3.
根据权利要求2所述的用于孔测试的测试治具，其特征在于，所述测试探杆（
200
）包括顶头（
210
）和底杆（
220
），在顶头（
210
）和底杆（
220
）之间设置有连接座（
230
），当述测试探杆（
200
）从第一通孔（
111
）穿过的时候，所述顶头（
210
）在第一通孔（
111
）内，所述底杆（
220
）从底板（
120
）向下伸出
。4.
...

【专利技术属性】
技术研发人员：李中平，
申请(专利权)人：东莞市擘和电子有限公司，
类型：发明
国别省市：