用于孔测试的测试治具制造技术

本发明专利技术公开了一种用于孔测试的测试治具，包括压板和按照预设位置安装在压板上面的若干个测试探杆，所述测试探杆和压板之间通过偏转结构活动连接，当将压板压覆在待测产品之上的时候，所述测试探杆可以沿着压板的方向发成小角度的偏转

【技术实现步骤摘要】
用于孔测试的测试治具


[0001]本专利技术涉及一种测试设备领域，具体而言是涉及用于孔测试的测试治具
。

技术介绍

[0002]GD&T
测试的含义为形位公差的测试，加工后的零件会有尺寸公差，因而构成零件几何特征的点
、
线
、
面的实际形状或相互位置与理想几何体规定的形状和相互位置就存在差异，这种形状上的差异就是形状公差，而相互位置的差异就是位置公差，这些差异统称为形位公差（几何公差）
。
[0003]随着各种产品自动程度越来越高，对每一个配件的形位公差的要求都越来越严格，因为一个配件的形位公差过大就可能导致后续在装配的过程中出现问题，以汽车领域举例而言，在汽车前灯的生产过程中，其整体模具上会分布许多插孔，这些插孔除了起到连接固定的作用外，还起到定位的作用，每个插孔的位置，孔径的大小和深度都在设计的时候被严格定位，其模具内的其他结构都可能以该插孔的相对位置为基准进行设计和延展，所以对这些孔径进行
GD&T
测试的要求是极高的
。
[0004]现有
GD&T
测试通常有两种方式，其一是采用
CMM
（三坐标）测试设备测试，这种测试方式是将待测产品放置
CMM
测试机内测试，这样方式虽然测试准确，但是
CMM
测试机的测试时候较长，依照孔径数量的多少，在单个产品上测试时间可能会达到2‑3个小时，且
CMM<br/>测试机操作复杂，购入成本高昂，几乎无法在大规模的生产测试场景中投入使用；其二是用测试治具进行测试，其原理是在一块和待测产品大小差不都的压板上，按照待测产品的孔径标准的分布设置若干个测试探杆，然后要将压板压覆在待测产品上，如果探测探杆可以插入孔径内，则说明测试合格，但是上述方式中，对待测产品的孔径分布准确率要求极高，几乎是要求无误差，但是
GD&amp;T
测试是允许有微小误差的，所以采用第二种方式会造成存在允许误差的产品也会导致测试失败
。

技术实现思路

[0005]为了解决上述问题， 本专利技术提供一种用于孔测试的测试治具，包括压板和按照预设位置安装在压板上面的若干个测试探杆，所述测试探杆在压板上面的位置对应与待测产品的孔径的位置，所述测试探杆和压板之间通过偏转结构活动连接，当将压板压覆在待测产品之上的时候，所述测试探杆可以沿着压板的方向发成小角度的偏转
。
[0006]进一步而言，所述压板包括顶板和底板，在所述顶板和底板的相同位置上设置有若干个第一通孔，所述测试探杆从第一通孔穿过，且从底板向下伸出，所述偏转结构设置在所述顶板和底板之间
。
[0007]进一步而言，所述测试探杆包括顶头和底杆，在顶头和底杆之间设置有连接座，当述测试探杆从第一通孔穿过的时候，所述顶头在第一通孔内，所述底杆从底板向下伸出
。
[0008]进一步而言，所述偏转结构包括连接板，所述连接板被顶板和底板夹持固定，在所述连接板内设置有若干个第二通孔，所述第二通孔设置的位置与第一通孔设置的位置对
应
。
[0009]进一步而言，所述第二通孔内面向底板的方向设置还有向外的凸起的连接环，所述连接环的材质为弹性材质
。
[0010]进一步而言，所述连接环的上沿与所述第二通孔底部的边缘线连接，所述连接环的下沿与所述连接座顶部的边缘线连接
。
[0011]进一步而言，所述测试探杆的顶头的外径小于所述第一通孔的外径
。
[0012]进一步而言，所述测试探杆的连结座的外径大于所述顶头的外径
。
[0013]进一步而言，所述连接环与顶头的夹角在1至5度之间
。
[0014]进一步而言，，所述顶板内设置有用于容纳连接板的容纳腔
。
[0015]本专利技术的有益效果是：本申请的测试探杆与压板是通过偏转结构而形成活动连接的，并且所述测试探杆可以沿着压板的方向发成小角度的偏转，这样如果待测产品上面的孔径的位置和预设的位置存在略微的偏差，且此偏差在合理的范围内的话，那么当将压板压覆在待测产品之上的时候，测试探杆会发生小角度的偏转，从而可以使测试探杆依然插入待测产品的孔径内，进而可以完成测试，相比现有技术中，测试探杆和压板是固定连接且无法偏转，这样如果待测产品上面的孔径的位置和预设的位置存在允许范围内的偏差，那么测试探杆也无法插入待测产品的孔径内，从而导致测试失败，从而影响整个产品的测试
。
[0016]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到
。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0018]图1为本专利技术用于孔测试的测试治具的整体结构示意图；图2为本专利技术用于孔测试的测试治具的整体结构分解图；图3为本专利技术用于孔测试的测试治具的顶板的结构示意图；图4为本专利技术用于孔测试的测试治具的测试探杆的结构示意图；图5为本专利技术用于孔测试的测试治具的偏转结构的结构示意图；图6为本专利技术用于孔测试的测试治具的偏转结构的结构剖视图
。
[0019]图中的附图标记及名称如下：压板
100、
测试探杆
200、
偏转结构
300、
顶板
110、
底板
120、
第一通孔
111、
顶头
210、
底杆
220、
连接座
230、
连接板
310、
容纳腔
112、
第二通孔
311、
连接环
312。
具体实施方式
[0020]下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范
围
。
[0021]现结合附图1‑6所示，具体说明本专利技术优选的实施方式，一种用于孔测试的测试治具，包括压板
100
和安装在压板
100
上面的若干个测试探杆
200
，所述测试探杆
200
预设在压板
100
上面的位置与待测产品的孔径的位置是对应的，当需要进行孔径
GD&amp;T
测试的时候，将压板...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
用于孔测试的测试治具，其特征在于，包括压板（
100
）和按照预设位置安装在压板（
100
）上面的若干个测试探杆（
200
），所述测试探杆（
200
）在压板（
100
）上面的位置对应与待测产品的孔径的位置，所述测试探杆（
200
）和压板（
100
）之间通过偏转结构（
300
）活动连接，当将压板（
100
）压覆在待测产品之上的时候，所述测试探杆（
200
）可以沿着压板（
100
）的方向发成小角度的偏转
。2.
根据权利要求1所述的用于孔测试的测试治具，其特征在于，所述压板（
100
）包括顶板（
110
）和底板（
120
），在所述顶板（
110
）和底板（
120
）的相同位置上设置有若干个第一通孔（
111
），所述测试探杆（
200
）从第一通孔（
111
）穿过，且从底板（
120
）向下伸出，所述偏转结构（
300
）设置在所述顶板（
110
）和底板（
120
）之间
。3.
根据权利要求2所述的用于孔测试的测试治具，其特征在于，所述测试探杆（
200
）包括顶头（
210
）和底杆（
220
），在顶头（
210
）和底杆（
220
）之间设置有连接座（
230
），当述测试探杆（
200
）从第一通孔（
111
）穿过的时候，所述顶头（
210
）在第一通孔（
111
）内，所述底杆（
220
）从底板（
120
）向下伸出
。4.
...

【专利技术属性】
技术研发人员：李中平，
申请(专利权)人：东莞市擘和电子有限公司，
类型：发明
国别省市：