图像处理方法技术

本发明专利技术提供一种图像处理方法

【技术实现步骤摘要】
图像处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及图像处理
，具体而言，涉及一种图像处理方法
、
装置
、
设备及计算机可读存储介质
。

技术介绍

[0002]目前，智能手机中的人像模式主要是基于景深虚化实现图像虚化的；其中，景深虚化是通过模拟单反相机的焦外成像的光学效果达到图像虚化
。
[0003]现有的基于景深虚化的图像虚化方法主要包括光线追踪
、
散焦模糊等，基于这些方法得到的虚化图像中容易出现边缘伪影
、
光晕等问题，降低虚化图像的视觉效果
。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种图像处理方法
、
装置
、
设备及计算机可读存储介质，以提高基于景深虚化得到的虚化图像的虚化效果
。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种图像处理方法，包括：
[0006]获取待处理图像中各像素点的像素虚化半径以及各像素点对应的采样点的采样虚化半径；
[0007]针对每个像素点，根据该像素点对应的采样点的采样虚化半径以及该像素点的像素虚化半径，从该像素点对应的采样点中选取目标采样点；其中，目标采样点的采样虚化半径与该像素点的像素虚化半径之间的差值小于预设差值阈值；
[0008]根据目标采样点的像素值和目标采样点的采样虚化半径，确定该像素点的虚化结果
。
[0009]第二方面，本专利技术实施例提供一种图像处理装置，包括：
[0010]获取模块，用于获取待处理图像中各像素点的像素虚化半径以及各像素点对应的采样点的采样虚化半径；
[0011]过滤模块，用于针对每个像素点，根据该像素点对应的采样点的采样虚化半径以及该像素点的像素虚化半径，从该像素点对应的采样点中选取目标采样点；其中，目标采样点的采样虚化半径与该像素点的像素虚化半径之间的差值小于预设差值阈值；
[0012]虚化模块，用于根据目标采样点的像素值和目标采样点的采样虚化半径，确定该像素点的虚化结果
。
[0013]第三方面，本专利技术实施例提供一种图像处理设备，图像处理设备包括处理器
、
存储器以及存储于存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序以实现上述的图像处理方法中的步骤
。
[0014]第四方面，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行以实现上述的图像处理方法中的步骤
。
[0015]本专利技术实施例根据该像素点对应采样点的采样虚化半径与该像素点的像素虚化半径，对该像素点对应的采样点进行筛选，选取出采样点的采样虚化半径与该像素点的像
素虚化半径之间的差值小于预设差值阈值的目标采样点，去除待处理图像中主体边缘
、
前背景边缘区域等容易出现边缘扩散问题形成边缘伪影光晕的区域的像素点，有效避免出现焦内区域边缘伪影光晕，提高了基于景深虚化得到的虚化图像的虚化效果
。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0017]图1为本专利技术实施例所提供的图像处理设备的一种结构框图；
[0018]图2为本专利技术实施例所提供的图像处理方法的一种流程示意图；
[0019]图3是本专利技术实施例提供像素点对应的采样点分布的示意图；
[0020]图4是本专利技术实施例所提供的图像处理装置的一种方框示意图；
[0021]图5是本专利技术实施例所提供的计算机可读存储介质的一种结构框图
。
具体实施方式
[0022]为使本专利技术实施例的目的
、
技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计
。
[0023]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围
。
[0024]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释
。
[0025]如
技术介绍
，现有虚化方法在进行虚化时，对于虚化程度相近的区域，可以得到较好的虚化结果，而虚化程度变化较大的区域，例如主体边缘
、
前背景边缘区域等区域，则容易出现边缘扩散问题形成边缘伪影光晕
。
[0026]基于此，本专利技术实施例一种图像处理方法
、
装置
、
设备及计算机可读存储介质，该方法根据该像素点对应采样点的采样虚化半径与该像素点的像素虚化半径，对该像素点对应的采样点进行筛选，选取出采样点的采样虚化半径与该像素点的像素虚化半径之间的差值小于预设差值阈值的目标采样点，去除待处理图像中主体边缘
、
前背景边缘区域等容易出现边缘扩散问题形成边缘伪影光晕的区域的像素点，有效避免出现焦内区域边缘伪影光晕，提高了基于景深虚化得到的虚化图像的虚化效果
。
[0027]根据本专利技术实施例提供的图像处理方法的实施例，需要说明的是，附图的流程示意图中示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且虽然在流程示意图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以不同于此处的执行顺序执行所描述或所示出的步骤
。
[0028]请参阅图1，图1为本专利技术实施例提供的一种图像处理设备的结构框图
。
图像处理设备
100
可以包括图像处理装置
10、
存储器
20、
处理器
30
以通信单元
40
，存储器
20
存储有处理器
30
可执行的机器可读指令，当图像处理设备
100
运行时，处理器
30
及存储器
20
之间通过总线通信，处理器
30
执行机器可读指令，并执行图像处理方法
。
[0029]存储器
20、
处理器
30
以及通信单元
40
各元件相互之间直接或间接地电性连接，以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种图像处理方法，其特征在于，包括：获取待处理图像中各像素点的像素虚化半径以及各像素点对应的采样点的采样虚化半径；针对每个像素点，根据该像素点对应的采样点的采样虚化半径以及该像素点的像素虚化半径，从该像素点对应的采样点中选取目标采样点；其中，所述目标采样点的采样虚化半径与该像素点的像素虚化半径之间的差值小于预设差值阈值；根据所述目标采样点的像素值和所述目标采样点的采样虚化半径，确定该像素点的虚化结果
。2.
如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待处理图像中各像素点的像素虚化半径以及各像素点对应的采样点的采样虚化半径之前，所述方法还包括：对所述待处理图像中各像素点进行采样，得到各像素点对应的采样点
。3.
如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述待处理图像中各像素点进行采样，得到各像素点对应的采样点，包括：针对所述待处理图像中各像素点，基于该像素点的坐标，根据预设的初始坐标向量进行采样，得到该像素点对应的首个采样点；根据所述首个采样点与该像素点各自对应的坐标确定所述首个采样点的目标坐标向量，按照预设变换规则对所述目标坐标向量进行旋转放大处理，得到旋转放大处理后的目标坐标向量；基于所述首个采样点的坐标，根据所述旋转放大处理后的目标坐标向量得到新的采样点，根据新的采样点与所述首个采样点各自对应的坐标确定所述新的采样点的目标坐标向量，按照所述预设变换规则对所述新的采样点的目标坐标向量进行旋转放大处理，以此重复，直至采样次数达到预设采样次数，得到该像素点对应的所有采样点
。4.
如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述按照预设变换规则对所述目标坐标向量进行旋转放大处理，得到旋转放大处理后的目标坐标向量，包括：根据预设角度确定旋转系数；根据所述目标坐标向量的模长确定放大系数；根据所述旋转系数
、
所述放大系数对所述目标坐标向量进行旋转和放大处理，得到旋转放大处理后的目标坐标向量
。5.
如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待处理图像中各像素点的像素虚化半径以及各像素点对应的采样点的采样虚化半径，包括：获取待处理图像对应的深度图像；基于所述深度图像确定所述待处理图像中各像素点的深度值；根据所述待处理图像中各像素点的深度值，确定所述待处理图像中各像素点的像素虚化半径以及各所述像素点对应的采样点的采样虚化半径
。6.
如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述待处理图像中各像素点的深度值，确定所述待处理图像中各像素点的像素虚化半径以及各所述像素点对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：任世强，李鹏，刘阳兴，
申请(专利权)人：武汉，
类型：发明
国别省市：