一种制造技术

本发明专利技术公开了一种

【技术实现步骤摘要】
一种RTC筛选测试装置和方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种
RTC
筛选测试装置和方法
。

技术介绍

[0002]实时时钟
(Real_Time Clock
，
RTC)
，
RTC
芯片是日常生活中应用最为广泛的消费类电子产品之一，
RTC
芯片通常被用于提供可靠精准的系统时间，或者为电子系统提供精确的时间基准，
RTC
芯片大多采用精度较高的晶体振荡器作为时钟源
。RTC
芯片其时间跨度为
100
年，具有精度高
、
强抗干扰等特点，适用严苛的温湿度和电磁环境
。
[0003]在芯片研制过程中，尤其批量生产时，要对每个电路做全覆盖测试，一要遍及
100
年的每一秒变化时刻，二要囊括所有逻辑区域，确认功能有效并符合设计规则
。
[0004]一般的
RTC
检测，往往存在碎片化现象，缺乏系统性
、
严密性，大多局限于短时间的简单抽检形式，比如设置到某年某月某日，再进行
24
小时连续测试，或以多次数或多芯片重复方式，试图获取更多的可信性，全时域覆盖比较困难
。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术提供了一种
RTC
筛选测试装置和方法，以实现对
RTC
芯片进行快速全时域覆盖检测
。
[0006]为此，本专利技术提供了以下技术方案：
[0007]本专利技术提供了一种
RTC
筛选测试装置，包括：控制器
、
指纹锁
、
固态存储器
、WIA
‑
FA
无线通讯网络
、
操作台和多个管位插口，指纹锁
、
固态存储器
、WIA
‑
FA
无线通讯网络和操作台均分别与控制器连接；其中：
[0008]所述管位插口用于插入待测
RTC
芯片；所述待测
RTC
芯片中包括：锁定控制端
Se
，当
Se
为低，秒
‑
分
‑
时处在锁定预置状态，当
Se
接高或悬空，则锁定无效，时间计数器恢复正常；
[0009]所述控制器利用所述锁定控制端测试所述待测
RTC
芯片历时
100
年的每一秒变化状态是否准确有效；
[0010]所述
WIA
‑
FA
无线通讯网络用于实时与数据管理中心通讯，将测试的结果上传；
[0011]所述指纹锁用于确认操作者身份，操作者编号和测试结果一同通过
WIA
‑
FA
网络上传数据管理中心，数据管理中心验证后，下发解锁命令，设备能够全功能使用；
[0012]所述固态存储器，保存测试数据和操作者编号
。
[0013]进一步地，在所述待测
RTC
芯片整体灌封时，
Se
引脚隐藏
。
[0014]进一步地，所述待测
RTC
芯片具有峰值锁定功能，所述峰值锁定包括：令秒
‑
分
‑
时它的计数最大范围为
Ts、Tm
和
Th
；
[0015]当秒计数器从0计到
Ts
时，就形成快速进位条件，下一秒脉冲来时要产生两个动作，一是产生同步进位，二是进位信号取反使计数器同步清0；锁定就是禁止计数器清零并维持在最大值状态，进位条件一直成立；
[0016]分
、
时计数器采取同样处理方式，利用锁定信号和上述各计数器的进位信号分别
与非运算作为各自计数器同步清0信号，当锁定信号取低电平时，各计数器处于锁定预置状态，即秒计数器从0计到
Ts
时维持最大值状态不变，只把进位位传递下去；
[0017]在前级实现锁定并持续提供进位信号情况下，分计数器开始从0计数直到
Tm
，并维持住这个状态，秒计数器和分计数器的同时锁定，使得计数脉冲通过快速进位传递至小时计数器，小时计数器开始从0计数，计至最大值
Th
时并维持，为后续日月年的测试操作提供快速进位信号
。
[0018]进一步地，对所述待测
RTC
芯片的测试还包括：测试是否符合计时规则，包括中断触发和响应机制
、12/24
小时制转换
、
二进制和
BCD
格式转换，以及月末日调整
、
闰年补偿和夏令时跳变规则
、RAM
测试
、
周期频率检验和电池有效验证
。
[0019]进一步地，所述控制器对多个管位插口进行实时侦测，按照空闲
、
等待
、
工作
、
滞留四种状态对多个待测
RTC
芯片进行测试
。
[0020]本专利技术还提供了一种
RTC
筛选测试方法，基于上述
RTC
筛选测试装置，所述方法包括：
[0021]S101、
初始化秒
‑
分
‑
时计数器为
(00
，
00
，
00)
，设数据格式
DM
＝1为二进制，更新结束中断使能
UIE
＝1，锁定信号
Se
＝0；
[0022]S102、
发送
T
脉冲，判断
/IRQ
引脚为低，读
C
寄存器，判断
UF
＝
IRQF
＝
UIE
＝1；
[0023]S103、
再读
C
寄存器，判断
UF
＝
IRQF
＝0，
UIE
＝1，
/IRQ
端变高；
[0024]S104、
判断秒
‑
分
‑
时变化状态符合下述规律：
(0
，0，
0)>(1
，0，
0)
…
>(Ts
，0，
0)>(Ts
，1，
0)
…
>(Ts
，
Tm
，
0)>(Ts
，
Tm
，
1)
…
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
RTC
筛选测试装置，其特征在于，包括：控制器
、
指纹锁
、
固态存储器
、WIA
‑
FA
无线通讯网络
、
操作台和多个管位插口，指纹锁
、
固态存储器
、WIA
‑
FA
无线通讯网络和操作台均分别与控制器连接；其中：所述管位插口用于插入待测
RTC
芯片；所述待测
RTC
芯片中包括：锁定控制端
Se
，当
Se
为低，秒
‑
分
‑
时处在锁定预置状态，当
Se
接高或悬空，则锁定无效，时间计数器恢复正常；所述控制器利用所述锁定控制端测试所述待测
RTC
芯片历时
100
年的每一秒变化状态是否准确有效；所述
WIA
‑
FA
无线通讯网络用于实时与数据管理中心通讯，将测试的结果上传；所述指纹锁用于确认操作者身份，操作者编号和测试结果一同通过
WIA
‑
FA
网络上传数据管理中心，数据管理中心验证后，下发解锁命令，设备能够全功能使用；所述固态存储器，保存测试数据和操作者编号
。2.
根据权利要求1所述的
RTC
筛选测试装置，其特征在于，在所述待测
RTC
芯片整体灌封时，
Se
引脚隐藏
。3.
根据权利要求1所述的
RTC
筛选测试装置，其特征在于，所述待测
RTC
芯片具有峰值锁定功能，所述峰值锁定包括：令秒
‑
分
‑
时它的计数最大范围为
Ts、Tm
和
Th
；当秒计数器从0计到
Ts
时，就形成快速进位条件，下一秒脉冲来时要产生两个动作，一是产生同步进位，二是进位信号取反使计数器同步清0；锁定就是禁止计数器清零并维持在最大值状态，进位条件一直成立；分
、
时计数器采取同样处理方式，利用锁定信号和上述各计数器的进位信号分别与非运算作为各自计数器同步清0信号，当锁定信号取低电平时，各计数器处于锁定预置状态，即秒计数器从0计到
Ts
时维持最大值状态不变，只把进位位传递下去；在前级实现锁定并持续提供进位信号情况下，分计数器开始从0计数直到
Tm
，并维持住这个状态，秒计数器和分计数器的同时锁定，使得计数脉冲通过快速进位传递至小时计数器，小时计数器开始从0计数，计至最大值
Th
时并维持，为后续日月年的测试操作提供快速进位信号
。4.
根据权利要求1所述的
RTC
筛选测试装置，其特征在于，对所述待测
RTC
芯片的测试还包括：测试是否符合计时规则，包括中断触发和响应机制
、12/24
小时制转换
、
二进制和
BCD
格式转换，以及月末日调整
、
闰年补偿和夏令时跳变规则
、RAM
测试
、
周期频率检验和电池有效验证
。5.
根据权利要求1所述的
RTC
筛选测试装置，其特征在于，所述控制器对多个管位插口进行实时侦测，按照空闲
、
等待
、
工作
、
滞留四种状态对多个待测
RTC
芯片进行测试
。6.
一种
RTC
筛选测试方法，其特征在于，基于权利要求1～5任一项所述的
RTC
筛选测试装置，所述方法包括：
S101、
初始化秒
‑
分
‑
时计数器为
(00
，
00
，
00)
，设数据格式
DM
＝1为二进制，更新结束中断使能
UIE
＝1，锁定信号
Se
＝0；
S102、
发送
T
脉冲，判断
/IRQ
引脚为低，读控制寄存器
C
，判断更新结束中断标志
UF、
中断请求标志
IRQF、
更新结束中断
UIE
均为1；
S103、
再读控制寄存器
C
，判断更新结束中断标志
UF、
中断请求标志
IRQF
为0，更新结束中断
UIE
为1，
/IRQ
端变高；
/IRQ
为
RTC
芯片的中断请求管脚；
S104、
判断秒
‑
分
‑
时变化状态符合下述规律：
(0
，0，
0)>(1
，0，
0)
…
>(Ts
，0，
0)>(Ts
，1，
0)
…
>(Ts
，
Tm
，
0)>(Ts
，
Tm
，
1)
…
>(Ts
，
Tm
，
Th)
；
>
为每次
T
脉冲发送完成状态转换方向，非大小比较；
S105、
重复
S102
～
S104
直到小时域达到最大
Th
；
Th
为小时域的最大范围；
S106、
初始化日
‑
月
‑
年
(01
，
01
，
00)
；
S107、
每发送一组
T
脉冲，1月份日期递增状态符合下述规律，
(1
，1，
0)>(2
，1，
0)>
…
>(Td
，1，
0)>(1
，2，
0)
；
Td
为对应月份的日期最大值，其为离散变量，而非固定常数；
S108、Td
为平年二月日期的最大值，初态由程序设置；闰年和非闰年月末日初态到次态转换：发
T
脉冲，
(Td
，
02
，
00)>(Td+1
，
02
，
00)>(01
，
03
，
00)
；发
T
脉冲，
(Td
，
02
，
01)>(01
，
03
，
01)
；发
T
脉冲，
(Td
，
02
，
02)>(01
，
03
，
02)
；发
T
脉冲，
(Td
，
02
，
03)>(01
，
03
，
03)
；
S109、3
～
12
月月末日初态到次态变化，
Td
为对应月份日期的最大值，
Tm
‑
为月份最大值，
Ty
为年份最大值，皆为二进制格式；
(Td
，
03
，
00)>(01
，
04
，
00)
；
(Td
，
04
，
00)>(01
，
05
，
00)
；
…
(Td
，
Tm
‑
，
00)>(01
，
01
，
01)
；
S110、
在
S107
～
S109
中已隐含检测了月份的计数能力，只验证年份是否符合计数规则和能力，初态需设置，
Td
是
31
的二进制值，
Tm
‑
为
12
的二进制值
。7.
根据权利要求6所述的
RTC
筛选测试方法，其特征在于，周期中断检测，包括：
S201、
设置速率选择器
RS3
‑
RS0
＝
n
，
n
＝0除外，中断使能
PIE
＝1；
S202、
发送
m
次脉冲，每次判断
/IRQ
＝1，方波使能
SQWE
＝1；
S203、
发
m
‑1次脉冲，每次判断
SQWE
＝0，
/IRQ
＝1；
S204、
发一次脉冲，判断
SQWE
＝0，
/IRQ
＝0，读

【专利技术属性】
技术研发人员：刘立辉，邱思，李君，李天飞，杨东宇，赵德权，
申请(专利权)人：沈阳邦粹科技有限公司，
类型：发明
国别省市：