一种制造技术

本实用新型专利技术公开了一种

【技术实现步骤摘要】
一种Nand Flash存储器可靠性测试装置


[0001]本技术涉及储存器测试
，尤其涉及一种
Nand Flash
存储器可靠性测试装置
。

技术介绍

[0002]Nand flash
存储器是
flash
存储器的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案
。Nand
‑
flash
存储器具有容量较大，改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用；
[0003]在其进行测试时，其中一个重要的过程就是对其可靠性进行测试，而性能测试的过程中，有一个重要的测试方式就是将存储器在高温环境下进行测试，传统的测试方式，是将装置在一个密封的高温环境中进行检测，但是采用上述方式时，检测完成后，该密封环境内的温度较高，工作人员打开密封门后，热气会快速的向外上移，造成工作人员的不适，因此如何解决该问题是我们需要考虑的
。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种
Nand Flash
存储器可靠性测试装置，该装置在实际的使用过程中，利用循环风机和加热丝的使用，可实现快速均匀的升温，另外，还设置有半导体制冷件和鼓风机，实现后续检测后的快速降温
。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种
Nand Flash
存储器可靠性测试装置，包括壳体，所述壳体的前侧设置有测试槽，所述测试槽的内底部设置有放置台；循环加热机构，所述循环加热机构包括对称设置在测试槽的左右两侧内壁上均固定连接有空心板，两个所述空心板的相对侧均开设有多个通口，所述壳体的上端安装有循环风机，所述循环风机的进风端与左侧的空心板通过第一隔温管连通，所述循环风机的出风端与右侧的空心板通过得让隔温管连通
。
[0007]优选地，所述壳体的前侧安装有密封门，所述密封门的前侧设置有把手
。
[0008]优选地，位于右侧的所述空心板内安装有加热丝
。
[0009]优选地，所述测试槽的内顶部安装有温度检测器，所述壳体的右侧安装有显示器
。
[0010]优选地，所述显示器与温度检测器电性连接
。
[0011]优选地，所述壳体的下端安装有多个支撑座，多个所述支撑座的下端均安装有减震垫
。
[0012]优选地，所述测试槽的后侧内壁上安装有多个排风口，每个所述排风口内均安装有电磁阀
。
[0013]优选地，所述壳体的左侧安装有鼓风机，所述鼓风机的出风端与左侧的空心板连通
。
[0014]优选地，所述壳体的左侧安装有半导体制冷件，所述半导体制冷件有半导体制冷片和散热风机组成
。
[0015]优选地，所述半导体制冷片的冷端延伸至左侧空心板内，并安装有多个导温片
。
[0016]本技术具备以下有益效果：
[0017]利用循环风机和加热丝的配合下，可实现快速的均匀升温，更快让密封环境处于需要的均匀高温，每次完成测试后，测试槽内的温度处于较高的温度，这时启动鼓风机和排风口上电磁阀，这时可迅速的将测试槽内高温气体排出外界，避免工作人员打开测试槽时产生不适，利用半导体制冷件的设置，可让鼓风机鼓出的气流在经过导温片处时，会被快速的降温，利用该方式可让让鼓入测试槽内的空气温度变低，实现更快的测试槽降温效果
。
附图说明
[0018]图1为本技术的实施例1示意图；
[0019]图2为图1的正面示意图；
[0020]图3为本技术的实施例2示意图；
[0021]图4本技术的实施例2示意图
。
[0022]图中：1壳体
、2
显示器
、3
循环风机
、4
温度检测器
、5
空心板
、6
放置台
、7
加热丝
、8
密封门
、9
鼓风机
、10
排风口
、11
第一隔温管
、12
第二隔温管
、13
半导体制冷件
、14
导温片
、15
通口
、16
支撑座
、17
测试槽
。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
[0024]实施例1[0025]参照图1‑2，一种
Nand Flash
存储器可靠性测试装置，包括壳体1，壳体1的下端安装有多个支撑座
16
，多个支撑座
16
的下端均安装有减震垫，壳体1的前侧设置有测试槽
17
，测试槽
17
的内底部设置有放置台6，壳体1的前侧安装有密封门8，密封门8的前侧设置有把手；
[0026]其中，包括循环加热机构，循环加热机构包括对称设置在测试槽
17
的左右两侧内壁上均固定连接有空心板5，两个空心板5的相对侧均开设有多个通口
15
，壳体1的上端安装有循环风机3，循环风机3的进风端与左侧的空心板5通过第一隔温管
11
连通，循环风机3的出风端与右侧的空心板5通过得让隔温管
12
连通，位于右侧的空心板5内安装有加热丝
7。
[0027]其中，测试槽
17
的内顶部安装有温度检测器4，壳体1的右侧安装有显示器2，显示器2与温度检测器4电性连接
。
[0028]在使用时，将待检测的储存器放置在放置台6上，然后启动循环风机3和加热丝7，实现循环通风，在这个循环通风的过程中，实现加热，通过温度检测器4和显示器2，可精确的观察测试槽
17
内的温度，到达合适的温度关闭循环风机3，进行高温下温度检测即可，利用循环风机3和加热丝7的配合下，可实现快速的均匀升温，更快让密封环境处于需要的均匀高温
。
[0029]实施例2[0030]参照图3，本实施例与实施例1的不同之处在于，测试槽
17
的后侧内壁上安装有多
个排风口
10
，每个排风口
10
内均安装有电磁阀，壳体1的左侧安装有鼓风机9，鼓风机9的出风端与左侧的空心板5连通
。
[0031]在每次完成测试后，测试槽
17
内的温度处于较高的温度，这时启动鼓风机9和排风口
10
上电磁阀，这时可迅速的将测试槽...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
Nand Flash
存储器可靠性测试装置，其特征在于，包括：壳体
(1)
，所述壳体
(1)
的前侧设置有测试槽
(17)
，所述测试槽
(17)
的内底部设置有放置台
(6)
；循环加热机构，所述循环加热机构包括对称设置在测试槽
(17)
的左右两侧内壁上均固定连接有空心板
(5)
，两个所述空心板
(5)
的相对侧均开设有多个通口
(15)
，所述壳体
(1)
的上端安装有循环风机
(3)
，所述循环风机
(3)
的进风端与左侧的空心板
(5)
通过第一隔温管
(11)
连通，所述循环风机
(3)
的出风端与右侧的空心板
(5)
通过得让隔温管
(12)
连通；所述壳体
(1)
的左侧安装有鼓风机
(9)
，所述鼓风机
(9)
的出风端与左侧的空心板
(5)
连通，所述壳体
(1)
的左侧安装有半导体制冷件
(13)
，所述半导体制冷件
(13)
有半导体制冷片和散热风机组成，所述半导体制冷片的冷端延伸至左侧空心板
(5)
内，并安装有多个导温片
(14)。2.
根据权利要求1所述的一种
Nand Flash

【专利技术属性】
技术研发人员：张建锋，邱金辉，张春义，
申请(专利权)人：中科瑞测天津科技有限公司，
类型：新型
国别省市：