一种用于晶体消光比检测的定位冶具制造技术

本实用新型专利技术涉及晶体检测技术领域，公开了一种用于晶体消光比检测的定位冶具，两组所述传输辊套之间通过传输带连接，且传输带的带面排布设置有多组置料模座，所述对夹丝杆的轴杆外部与对夹导轨的轨道端对称套设有两组对夹滑台，两组所述对夹滑台的臂杆顶端对称安装有两组对夹板

【技术实现步骤摘要】
一种用于晶体消光比检测的定位冶具


[0001]本技术涉及晶体检测
，具体是一种用于晶体消光比检测的定位冶具
。

技术介绍

[0002]晶体消光比是衡量激光晶体性能优劣的重要指标，快速准确的测量方法对整个晶体光学的发展已经越来越重要，消光比是衡量激光晶体性能优劣的重要指标，它的定义如下：将晶体放置在两平行偏光镜间和两正交偏光镜间，使用光源从晶体一端入射，在出射端测量光功率，分别得到两个值
P//
和
P1
，消光比即
P//
和
PL
之比取对数再乘以
10
，单位为
dB
；测量消光比的方法一般是按照定义来测量透射光强，再加以计算，可以得到消光比
。
[0003]在对晶体进行消光比指标测量工作时，通常需利用定位治具对晶体进行固定工作，以便于晶体进行稳定的消光比测量工作，然而现有用于晶体消光比测量的定位治具，大多为即取即放的形式，即将上一组晶体测量完毕后，将其完全取下后，方可进行下一组的安装固定测试工作，其操作较为繁琐的同时，耗时又较长，不利于推广使用
。
因此，本领域技术人员提供了一种用于晶体消光比检测的定位冶具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于晶体消光比检测的定位冶具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于晶体消光比检测的定位冶具，包括支撑平台，所述支撑平台的板架上方安装有上料输送机构，且支撑平台的板架上方正对于上料输送机构的传输带面端设置有对夹固定机构；
[0006]所述上料输送机构包括呈两两对称形式安装在支撑平台板架两端的两组输送支座，两组所述输送支座的输出端均转动连接有旋转轴，且两组旋转轴的轴杆外部均套设有传输辊套，两组所述传输辊套之间通过传输带连接，且传输带的带面排布设置有多组置料模座；
[0007]所述对夹固定机构包括安装在支撑平台板架上方且位于传输带带面下方的支撑座，所述支撑座输出端贯穿连接有对夹丝杆，所述对夹丝杆的一侧安装有固定在支撑平台上的对夹导轨，且对夹丝杆的轴杆外部与对夹导轨的轨道端对称套设有两组对夹滑台，两组所述对夹滑台的臂杆顶端对称安装有两组对夹板
。
[0008]作为本技术再进一步的方案：所述旋转轴的其中一组输出端安装有固定在输送支座上的输送电机
。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述传输带的带面内部安装有固定在两组输送支座上的导轨架，且导轨架的板面与传输带的内带面相贴合
。
[0010]作为本技术再进一步的方案：多组所述置料模座相对于传输带的带面呈等间距排列，且每组置料模座的数量为两个，两个所述置料模座呈正
、
反向对称排列安装
。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述支撑平台的板架下方正对于对夹丝杆的一端输出端设置有传动电机，所述传动电机的输出端设置有同步带轮
A
，所述对夹丝杆的一端输出端设置有同步带轮
B
，且同步带轮
A
与同步带轮
B
之间通过同步带连接
。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述对夹丝杆以中线为界，中线的两侧分别设置有相互对称排列的正
、
反丝牙，所述对夹丝杆通过正
、
反丝牙与两组对夹滑台对称套接
。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0014]本技术通过利用上料输送机构对晶体的循环不间断上料输送，在对夹固定机构依次对上料输送中晶体的对夹固定，能够以持续上料的方式，将晶体持续的输送至检测仪器内，进行连续
、
不间断的消光比测量工作，其一方面能够提高晶体消光比的测量快速性，提高测量效率，节省测量时长，另一方面能够降低工作人员的操作强度，工作人员只需循环上料
、
取料即可
。
附图说明
[0015]图1为一种用于晶体消光比检测的定位冶具的结构示意图；
[0016]图2为一种用于晶体消光比检测的定位冶具中上料输送机构的结构示意图；
[0017]图3为一种用于晶体消光比检测的定位冶具中对夹固定机构的结构示意图
。
[0018]图中：
1、
支撑平台；
2、
支撑座；
3、
对夹丝杆；
4、
对夹滑台；
5、
对夹板；
6、
输送支座；
7、
输送电机；
8、
传输带；
9、
置料模座；
10、
导轨架；
11、
旋转轴；
12、
传输辊套；
13、
对夹导轨；
14、
传动电机；
15、
同步带轮
A
；
16、
同步带；
17、
同步带轮
B。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0020]请参阅图1～3，本技术实施例中，一种用于晶体消光比检测的定位冶具，包括支撑平台1，支撑平台1的板架上方安装有上料输送机构，上料输送机构包括呈两两对称形式安装在支撑平台1板架两端的两组输送支座6，两组输送支座6的输出端均转动连接有旋转轴
11
，且两组旋转轴
11
的轴杆外部均套设有传输辊套
12
，两组传输辊套
12
之间通过传输带8连接，旋转轴
11
的其中一组输出端安装有固定在输送支座6上的输送电机7，传输带8的带面内部安装有固定在两组输送支座6上的导轨架
10
，且导轨架
10
的板面与传输带8的内带面相贴合，在利用定位治具对晶体进行固定测量消光比工作时，首先输送电机7开始工作，带动旋转轴
11
转动，利用传输辊套
12
的中转传动，带动传输带8沿导轨架
10
循环传输转动，推动其带面上的置料模座9依次循环向前推送，对晶体进行装载盛放工作
。
[0021]传输带8的带面排布设置有多组置料模座9，多组置料模座9相对于传输带8的带面呈等间距排列，且每组置料模座9的数量为两个，两个置料模座9呈正
、
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于晶体消光比检测的定位冶具，包括支撑平台
(1)
，其特征在于，所述支撑平台
(1)
的板架上方安装有上料输送机构，且支撑平台
(1)
的板架上方正对于上料输送机构的传输带面端设置有对夹固定机构；所述上料输送机构包括呈两两对称形式安装在支撑平台
(1)
板架两端的两组输送支座
(6)
，两组所述输送支座
(6)
的输出端均转动连接有旋转轴
(11)
，且两组旋转轴
(11)
的轴杆外部均套设有传输辊套
(12)
，两组所述传输辊套
(12)
之间通过传输带
(8)
连接，且传输带
(8)
的带面排布设置有多组置料模座
(9)
；所述对夹固定机构包括安装在支撑平台
(1)
板架上方且位于传输带
(8)
带面下方的支撑座
(2)
，所述支撑座
(2)
输出端贯穿连接有对夹丝杆
(3)
，所述对夹丝杆
(3)
的一侧安装有固定在支撑平台
(1)
上的对夹导轨
(13)
，且对夹丝杆
(3)
的轴杆外部与对夹导轨
(13)
的轨道端对称套设有两组对夹滑台
(4)
，两组所述对夹滑台
(4)
的臂杆顶端对称安装有两组对夹板
(5)。2.
根据权利要求1所述的一种用于晶体消光比检测的定位冶具，其特征在于，所述旋转轴
(11)
的其中一组输出端安装有固定在输送支座
(6)
上的输送电机

【专利技术属性】
技术研发人员：林媛媛，阮迪，宫丽萍，刘昶江，张珠琛，孙义凯，马骏飞，
申请(专利权)人：曲阜师范大学，
类型：新型
国别省市：