计算机装置效能测试方法制造方法及图纸

一种计算机装置效能测试方法，由一效能测试系统来实施，包含以下步骤：

【技术实现步骤摘要】
计算机装置效能测试方法


[0001]本专利技术是有关于一种测试方法，特别是指一种计算机装置效能测试方法
。

技术介绍

[0002]现有的计算机装置的效能测试为使用者选定所要测试的一计算机元件，并设定一相关于该计算机元件的参数，即开始执行效能测试
。
[0003]然而，使用者在设定参数时，是根据经验进行设定，时常所设定的参数无法达到预期的效果，而需要重复设定参数，进行多次的效能测试，非常的耗时
。
[0004]此外，现有的效能测试无统一的效能测试系统，没有系统化的保存测试环境与参数，使用者难以判定单次所获得效能是好是坏
。
[0005]举例来说，使用者进行一第一元件及一第二元件的效能测试，皆获得效能
80
％的测试结果，使用者可能判定该第一元件及该第二元件所获得效能皆是好的
。
但若得知该第一元件在业界测试平均效能是
95
％，该第二元件在业界测试平均效能是
60
％，可知虽然该第一元件及该第二元件的测试效能相同，但该第一元件所获得效能是不好的，该第二元件所获得效能却是好的
。

技术实现思路

[0006]本专利技术要解决的技术问题是提供一种能供建议设定参数组且能客观产生效能评断的计算机装置效能测试方法
。
[0007]为解决上述技术问题，本专利技术计算机装置效能测试方法，由一效能测试系统执行，该效能测试系统通讯连接多个计算机装置及一使用端，每一计算机装置包括多个计算机元件，该效能测试系统储存有多笔计算机元件历史测试结果，每一计算机元件历史测试结果包括一相关于一计算机元件的计算机元件信息
、
一设定参数组
、
一测试环境信息，及一测试效能，该方法包含一步骤
(A)、
一步骤
(B)、
一步骤
(C)、
一步骤
(D)
，及一步骤
(E)。
[0008]在该步骤
(A)
中，在接收一来自该使用端的装置测试请求后，该装置测试请求包括一相关于该等计算机装置中之一待测计算机装置的连线信息，该效能测试系统根据该连线信息传送一清单请求到该待测计算机装置，以从该待测计算机装置获得一清单信息，该清单信息包括多笔分别相关于该待测计算机装置的多个待测计算机元件的待测计算机元件信息及一待测试环境信息
。
[0009]在该步骤
(B)
中，对于每一待测计算机元件信息，该效能测试系统根据该待测计算机元件信息及该待测试环境信息从该等计算机元件历史测试结果中获得多笔相关于该待测计算机元件信息的待测计算机元件历史测试结果
。
[0010]在该步骤
(C)
中，对于每一待测计算机元件信息，该效能测试系统根据该等待测计算机元件历史测试结果进行大数据分析，以产生并传送一建议设定参数组至该使用端
。
[0011]在该步骤
(D)
中，在接收到一来自该使用端且相关于该待测计算机装置的该等待测计算机元件之其中一目标待测计算机元件且包括一测试设定参数组的计算机元件测试
请求后，该效能测试系统根据该计算机元件测试请求，对该待测计算机装置的该目标待测计算机元件执行测试，以从该待测计算机装置获得一目标测试结果，该目标测试结果包括一相关于该待测计算机装置的该目标待测计算机元件的目标计算机元件信息
、
该测试设定参数组，及一目标测试效能
。
[0012]在该步骤
(E)
中，该效能测试系统根据该目标测试结果的该目标测试效能及多笔相关于该目标计算机元件信息的目标计算机元件历史测试结果的多个目标历史测试效能，产生一指示出通过及未通过之其中一者的效能评断
。
[0013]相较于现有技术，本专利技术借由该效能测试系统根据该等待测计算机元件历史测试结果进行大数据分析，以分析出能达到较佳效能的该建议设定参数组至该使用端，且根据该目标测试效能及该等目标历史测试效能，以客观地产生该效能评断
。
【附图说明】
[0014]本专利技术的其他的特征及功效，将于参照图式的实施方式中清楚地呈现，其中：
[0015]图1是一方块图，说明用来实施本专利技术计算机装置效能测试方法的一实施例的效能测试系统；
[0016]图2是一流程图，说明本专利技术计算机装置效能测试方法的该实施例；及
[0017]图3是一流程图，辅助说明图2步骤
35
的子步骤；
[0018]图4是一流程图，辅助说明图3子步骤
354
的子步骤；及
[0019]图5是一流程图，辅助说明图2步骤
38
的子步骤
。
【具体实施方式】
[0020]在本专利技术被详细描述的前，应当注意在以下的说明内容中，类似的元件是以相同的编号来表示
。
[0021]参阅图1，说明用来实施本专利技术计算机装置效能测试方法的一实施例的一效能测试系统1，该效能测试系统1包括一通讯单元
11、
一储存单元
12
，及一电连接该通讯单元
11
及该储存单元
12
的处理单元
13。
[0022]该通讯单元
11
经由一通讯网路
20
连接多个计算机装置
21
及一使用端
22
，每一计算机装置
21
包括多个计算机元件
211。
[0023]值得注意的是，该等计算机元件
211
例如为中央处理器
(Central ProcessingUnit,CPU)、
存储器
(Memory)、
硬盘
(HardDiskDrive,HDD)、
网络界面控制器
(NetworkInterfaceController
，
NIC)
，该通讯网路
20
例如为企业内部网络
(intranet)
，该效能测试系统
1、
该等计算机装置
21
，及该使用端
22
例如为一服务器
、
一个人计算机，或一笔记型计算机，但不以此为限
。
[0024]该储存单元
12
储存有多笔计算机元件历史测试结果，每一计算机元件历史测试结果包括一相关于一计算机元件
211
的计算机元件信息
、
一设定参数组，及一测试效能
。
[0025]举例来说，若该计算机元件
211
为中央处理器，则该计算机元件信息例如包括型号
、
厂牌
、
时脉频率
、
核心数等；若该计算机元件<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种计算机装置效能测试方法，由一效能测试系统执行，该效能测试系统通讯连接多个计算机装置及一使用端，每一计算机装置包括多个计算机元件，该效能测试系统储存有多笔计算机元件历史测试结果，每一计算机元件历史测试结果包括一相关于一计算机元件的计算机元件信息
、
一设定参数组
、
一测试环境信息，及一测试效能，其特征在于，该方法包含以下步骤：
(A)
在接收一来自该使用端的装置测试请求后，该装置测试请求包括一相关于该等计算机装置中之一待测计算机装置的连线信息，根据该连线信息传送一清单请求到该待测计算机装置，以从该待测计算机装置获得一清单信息，该清单信息包括多笔分别相关于该待测计算机装置的多个待测计算机元件的待测计算机元件信息及一待测试环境信息；
(B)
对于每一待测计算机元件信息，根据该待测计算机元件信息及该待测试环境信息从该等计算机元件历史测试结果中获得多笔相关于该待测计算机元件信息的待测计算机元件历史测试结果；
(C)
对于每一待测计算机元件信息，根据该等待测计算机元件历史测试结果进行大数据分析，以产生并传送一建议设定参数组至该使用端；
(D)
在接收到一来自该使用端且相关于该待测计算机装置的该等待测计算机元件之其中一目标待测计算机元件且包括一测试设定参数组的计算机元件测试请求后，根据该计算机元件测试请求，对该待测计算机装置的该目标待测计算机元件执行测试，以从该待测计算机装置获得一目标测试结果，该目标测试结果包括一相关于该待测计算机装置的该目标待测计算机元件的目标计算机元件信息
、
该测试设定参数组，及一目标测试效能；及
(E)
根据该目标测试结果的该目标测试效能及多笔相关于该目标计算机元件信息的目标计算机元件历史测试结果的多个目标历史测试效能，产生一指示出通过及未通过之其中一者的效能评断
。2.
如权利要求1所述的计算机装置效能测试方法，其特征在于，在步骤
(C)
包括以下子步骤：
(C
‑
1)
对于每一待测计算机元件信息，根据该等待测计算机元件历史测试结果的多个待测试效能获得一待测试效能平均值；
(C
‑
2)
对于每一待测计算机元件信息，根据该待测试效能平均值获得从该等待测计算机元件历史测试结果中获得多个参考计算机元件历史测试结果，其中该等参考计算机元件历史测试结果的多个参考测试效能大于该待测试效能平均值；及
(C
‑
3)
对于每一待测计算机元件信息，根据该等参考计算机元件历史测试结果进行大数据分析，以产生并传送该建议设定参数组至该使用端

【专利技术属性】
技术研发人员：简铭彦，
申请(专利权)人：神云科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：