【技术实现步骤摘要】
用于图像传感器的超透镜的设计方法及图像传感器
[0001]本申请涉及图像传感器的
,具体地,本申请涉及用于图像传感器的超透镜的设计方法及图像传感器
。
技术介绍
[0002]图像传感器是一种将光信号转换为电信号的装置,其包括阵列排布的像素
。
图像传感器上包括光敏区域和非光敏区域,只有照射到光敏区域的光信号才能转换为电信号
。
[0003]为了提高图像传感器的光探测能力,相关技术中在图像传感器的感光侧集成有微透镜或超透镜,以将入射光线分光并聚焦到图像传感器的光敏区域上,从而提高图像传感器的光能利用率
。
然而,现有的图像传感器与光学系统匹配时所成的图像仍然存在暗角
。
[0004]因此,亟需一种新的图像传感器以抑制图像的暗角
。
技术实现思路
[0005]为了解决现有技术中集成有超透镜的图像传感器所成图像仍存在暗角的技术问题,本申请实施例提供了一种用于图像传感器的超透镜的设计方法及图像传感器
。
[0006]第一方面,本申请实施例提供了一种用于图像传感器的超透镜的设计方法,所述超透镜包括纳米结构单元和基底,所述设计方法包括:
[0007]S1
,确定目标波段;
[0008]S2
,基于所述目标波段,确定所述纳米结构单元的初始结构参数和初始材料参数;
[0009]S3
,以所述纳米结构单元的相位及所述纳米结构单元的斜入射透过率为目标,基于所述初始结构参数和 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种用于图像传感器的超透镜的设计方法,所述超透镜包括纳米结构单元和基底,其特征在于,所述设计方法包括:
S1
,确定目标波段;
S2
,基于所述目标波段,确定所述纳米结构单元的初始结构参数和初始材料参数;
S3
,以所述纳米结构单元的相位及所述纳米结构单元的斜入射透过率为目标,基于所述初始结构参数和所述初始材料参数优化获得所述纳米结构单元的目标结构参数;
S4
,判断具有所述目标结构参数的超透镜的透过率是否达到目标透过率;若是,则输出所述目标结构参数;若否,则更新所述初始结构参数和所述初始材料参数,并重复所述
S2
至所述
S4
直至优化所得的具有目标结构参数的超透镜达到目标透过率
。2.
根据权利要求1所述的设计方法,其特征在于,所述
S3
包括:
S301A
,优化所述初始结构参数和所述初始材料参数获得覆盖2π
相位的第一中间结构参数;
S302A
,从所述第一中间结构参数中选取所述纳米结构单元的斜入射透过率大于或等于目标透过率的目标结构参数
。3.
根据权利要求1所述的设计方法,其特征在于,所述
S3
包括:
S301B
,优化所述初始结构参数和所述初始材料参数获得所述纳米结构单元的斜入射透过率大于或等于目标透过率的第二中间结构参数;
S302B
,从所述第二中间结构参数中选取覆盖2π
相位的目标结构参数
。4.
根据权利要求1所述的设计方法,其特征在于,所述
S3
包括:
S301 C
,以所述纳米结构单元的相位及所述纳米结构单元的斜入射透过率为目标,遍历所述初始结构参数和所述初始材料参数,以获得所述目标结构参数
。5.
根据权利要求1‑4中任一所述的设计方法,其特征在于,所述纳米结构单元包括至少两层纳米结构单元,每层纳米结构单元包括纳米结构;所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:姜雯,郝成龙,谭凤泽,朱健,
申请(专利权)人:深圳迈塔兰斯科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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