【技术实现步骤摘要】
基于自适应学习的闪存电压快速读重试纠错方法与装置
[0001]本专利技术属于存储器
,具体涉及一种基于自适应学习的闪存电压快速读重试纠错方法与装置
。
技术介绍
[0002]固态存储器一般由控制器
、
固件
、
闪存最基本组件组成
。
而主机端的数据最终都需要固件算法调度把主机命令通过控制器下发给闪存控制器,最后把数据存储在闪存阵列上
。
如图4所示,闪存是一种非易失性存储器,掉电后数据不会丢失,闪存阵列存储器是通过闪存基本存储来实现的,它是基于类
NMOS
的双层浮栅
MOS
管,在源极和漏极之间电流单向传导的半导体上会形成存储电子的浮栅,浮栅的上下会被绝缘层包围,存储在内部的电子不会因为掉电而丢失
。
闪存的擦写动作就是通过在控制极或者衬底上增加正电压导致电子进入或流出浮栅极来存储数据,任何材料的使用寿命都是有限的,存储材料也不例外,随着擦写次数的增加,浮栅层厚度越来越薄,存储电子能力也随之变弱,会出现电子流失情况,从而闪存内部的数据会出错
。
为了提高闪存数据完整可靠性,行业内通常通过在闪存信息位后面增加校验位,这一办法就需要主控端在数据写入时进行
LDPC
编码操作,读取数据时进行解码操作,如图5所示,主控给闪存控制器下发读命令,将闪存阵列的数据读取到主控内进行解码操作
。
在解码操作过程中,主控内部自身会有一定的能力,经常使用自身纠错能 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
基于自适应学习的闪存电压快速读重试纠错方法
,
其特征在于,包括以下步骤:收到来自主控端对闪存的当前有效电压值的纠错请求后,进行读重试纠错;读重试纠错为修改闪存读命令的当前有效电压值的方式;将预设的读重试动态电压表中第一行的电压参数作为参考电压参数,并使用参考电压参数对当前有效电压值进行第一次读重试纠错,若第一次读重试纠错成功,则生成参考电压参数并作为新的当前有效电压值,且不更新读重试动态电压表;若第一次读重试纠错不成功,则从读重试动态电压表中第二行的电压参数依序向下对当前有效电压值进行读重试纠错,直至读重试纠错成功,生成对应行的电压参数并作为新的当前有效电压值,并将该行以上的其他行的电压参数依序作为新的读重试动态电压表中其他行对应的下一行的电压参数,将该行的电压参数更新为新的读重试动态电压表中第一行的电压参数;若遍历读重试动态电压表仍读重试纠错不成功,则从原厂参考表中第一行的电压参数依序向下对当前有效电压值进行读重试纠错,直至读重试纠错成功,生成原厂参考表中对应行的电压参数并作为新的当前有效电压值,并清空读重试动态电压表中最后一行的电压参数,将读重试动态电压表中其他行的电压参数依序作为新的读重试动态电压表中其他行对应的下一行的电压参数,将原厂参考表中该对应行的电压参数更新为新的读重试动态电压表中第一行的电压参数;其中,原厂参考表为闪存在出厂时,原厂提供的
p
行
n
列的读重试参考电压表,每一列为不同能级下的电压参数;读重试动态电压表为
m
行
n
列,其电压参数来源于原厂参考表中任意的
m
行数据,
p
>
m。2.
根据权利要求1所述的基于自适应学习的闪存电压快速读重试纠错方法
,
其特征在于,将读重试动态电压表和原厂参考表中每一列的电压参数按能级对闪存的
Page
页进行分页为低页
、
高页和中页,低页
、
高页和中页下均包含若干能级的电压参数
。3.
根据权利要求2所述的基于自适应学习的闪存电压快速读重试纠错方法
,
其特征在于,在收到来自主控端对闪存的当前有效电压值的纠错请求后,判断该纠错请求对应的当前有效电压值处于哪一能级,并在该能级对应的
Page
页下选取电压参数进行读重试纠错;在后续更新读重试动态电压表时,仅将对应的
Page
页下的电压参数进行替换
。4.
根据权利要求2所述的基于自适应学习的闪存电压快速读重试纠错方法
,
其特征在于,
Page
页按照闪存中电子单元密度...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵周星,张杰,吴国骏,李四林,
申请(专利权)人:湖北长江万润半导体技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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