一种存储器量产测试方法技术

本发明专利技术公开了一种存储器量产测试方法

【技术实现步骤摘要】
一种存储器量产测试方法、系统、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术属于存储器量产测试
，具体涉及一种存储器量产测试方法
、
系统
、
电子设备及存储介质
。

技术介绍

[0002]存储器的零部件众多，生产制造中不同零部件的良率问题可能会造成存储器不同的问题，这些问题往往是在不同的测试场景下才会出现
。
但是对于同一批次生产的存储器，由于工艺以及物料比较统一，往往都会在相同的测试场景下出现问题
。
然而，不同批次的存储器却存在不同的问题，因此需要针对不同批次的存储器进行量产测试的智能化设计，选择适合当前批次存储器的测试场景
。
[0003]现有量产测试中，对所有批次的产品均采用一套量产测试方案，这种方式在工艺稳定且物料无替换的情况下可保证产品的可靠性，但是对于工艺变更或者物料替换的场景，将需要比较长的时间才有可能发现问题，或者无法在量产中发现问题，以致最后将问题暴露到客户端，造成比较大的损失
。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于，提供一种存储器量产测试方法
、
系统
、
电子设备及存储介质，解决存储器量产测试问题
。
[0005]本专利技术所采用的技术方案如下：
[0006]一种存储器量产测试方法，包括以下步骤：
[0007]从当前批次存储器中随机选取
m*n
个，分为
n
组，对应/>n
种测试场景，每组存储器的个数为
m
；
[0008]每组存储器执行对应的测试场景，执行测试时长均为
t
；
[0009]统计发生错误的存储器的总个数，利用每组存储器中发生错误的存储器的个数除以发生错误的存储器的总个数，得到每组存储器中发生错误的存储器的比例为
j1，
j2，
j3……
j
n
；其中，
j
n
表示第
n
组存储器中发生错误的存储器的比例；
[0010]根据每组存储器中发生错误的存储器的比例确定每种测试场景的执行测试时长为
j
n
*t
，得到存储器量产测试方案
{j1*t,j2*t,j3*t,
…
,j
n
*t}
；其中，
j
n
*t
表示第
n
种测试场景的执行测试时长；
[0011]利用得到的存储器量产测试方案对当前批次存储器进行量产测试，并收集每种测试场景下发生错误的存储器的个数，计算实测时发生错误的存储器的总个数；利用每种测试场景下发生错误的存储器的个数除以实测时发生错误的存储器的总个数，得到每种测试场景下发生错误的存储器的比例为
i1，
i2，
i3……
i
n
；其中，
i
n
表示第
n
种测试场景下发生错误的存储器的比例；
[0012]判断两个比例是否存在差异，若是，则利用每种测试场景下发生错误的存储器的比例修正每组存储器中发生错误的存储器的比例，继续进行量产测试直至两个比例不存在
差异
。
[0013]进一步的，若进行修正，则利用修正后的每组存储器中发生错误的存储器的比例得到新的存储器量产测试方案，后续利用新的存储器量产测试方案进行量产测试；若未进行修正，则继续利用原存储器量产测试方案进行量产测试
。
[0014]进一步的，差异判断及比例修正方法如下：
[0015]计算各比例偏差若比例偏差
α
在特定比例范围内，则两个比例存在差异；
[0016]修正为：
j
n
＝
j
n
+
α
[0017]进一步的，特定比例范围为
±
X
％以上
。
[0018]进一步的，
X
为
5。
[0019]进一步的，若存储器生产条件不变，则利用该批次的存储器量产测试方案对其余批次的存储器进行量产测试，并进行差异判断及比例修正；若存储器生产条件改变，则重新根据每组存储器中发生错误的存储器的比例获得存储器量产测试方案
。
[0020]进一步的，生产条件包括工艺以及物料
。
[0021]一种存储器量产测试系统，包括：
[0022]选取模块，用于从当前批次存储器中随机选取
m*n
个，分为
n
组，对应
n
种测试场景，每组存储器的个数为
m
；
[0023]测试模块，用于每组存储器执行对应的测试场景，执行测试时长均为
t
；
[0024]统计模块，用于统计发生错误的存储器的总个数，利用每组存储器中发生错误的存储器的个数除以发生错误的存储器的总个数，得到每组存储器中发生错误的存储器的比例为
j1，
j2，
j3……
j
n
；其中，
j
n
表示第
n
组存储器中发生错误的存储器的比例；
[0025]方案模块，用于根据每组存储器中发生错误的存储器的比例确定每种测试场景的执行测试时长为
j
n
*t
，得到存储器量产测试方案
{j1*t,j2*t,j3*t,
…
,j
n
*t}
；其中，
j
n
*t
表示第
n
种测试场景的执行测试时长；
[0026]实测模块，用于利用得到的存储器量产测试方案对当前批次存储器进行量产测试，并收集每种测试场景下发生错误的存储器的个数，计算实测时发生错误的存储器的总个数；利用每种测试场景下发生错误的存储器的个数除以实测时发生错误的存储器的总个数，得到每种测试场景下发生错误的存储器的比例为
i1，
i2，
i3……
i
n
；其中，
i
n
表示第
n
种测试场景下发生错误的存储器的比例；
[0027]修正模块，用于判断两个比例是否存在差异，若是，则利用每种测试场景下发生错误的存储器的比例修正每组存储器中发生错误的存储器的比例，继续进行量产测试直至两个比例不存在差异
。
[0028]一种电子设备，包括：
[0029]存储器，用于存储可执行计算机程序；
[0030]处理器，用于执行存储器中存储的可执行计算机程序时，实现上述的存储器量产测试方法
。
[0031]一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，用于被处理器执行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种存储器量产测试方法，其特征在于，包括以下步骤：从当前批次存储器中随机选取
m*n
个，分为
n
组，对应
n
种测试场景，每组存储器的个数为
m
；每组存储器执行对应的测试场景，执行测试时长均为
t
；统计发生错误的存储器的总个数，利用每组存储器中发生错误的存储器的个数除以发生错误的存储器的总个数，得到每组存储器中发生错误的存储器的比例为
j1，
j2，
j3……
j
n
；其中，
j
n
表示第
n
组存储器中发生错误的存储器的比例；根据每组存储器中发生错误的存储器的比例确定每种测试场景的执行测试时长为
j
n
*t
，得到存储器量产测试方案
{j1*t,j2*t,j3*t,
…
,j
n
*t}
；其中，
j
n
*t
表示第
n
种测试场景的执行测试时长；利用得到的存储器量产测试方案对当前批次存储器进行量产测试，并收集每种测试场景下发生错误的存储器的个数，计算实测时发生错误的存储器的总个数；利用每种测试场景下发生错误的存储器的个数除以实测时发生错误的存储器的总个数，得到每种测试场景下发生错误的存储器的比例为
i1，
i2，
i3……
i
n
；其中，
i
n
表示第
n
种测试场景下发生错误的存储器的比例；判断两个比例是否存在差异，若是，则利用每种测试场景下发生错误的存储器的比例修正每组存储器中发生错误的存储器的比例，继续进行量产测试直至两个比例不存在差异
。2.
根据权利要求1所述的存储器量产测试方法，其特征在于，若进行修正，则利用修正后的每组存储器中发生错误的存储器的比例得到新的存储器量产测试方案，后续利用新的存储器量产测试方案进行量产测试；若未进行修正，则继续利用原存储器量产测试方案进行量产测试
。3.
根据权利要求1所述的存储器量产测试方法，其特征在于，差异判断及比例修正方法如下：计算各比例偏差若比例偏差
α
在特定比例范围内，则两个比例存在差异；修正为：
j
n
＝
j
n
+
α
。4.
根据权利要求3所述的存储器量产测试方法，其特征在于，特定比例范围为
±
X
％以上
。5.
根据权利要求4所述的存储器量产测试方法，其特征在于，
X
为
...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴国骏，张杰，赵周星，李四林，
申请(专利权)人：湖北长江万润半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：